微推进器在航天器姿态控制、轨道维持和阻力补偿中具有广泛应用,而应用的前提是对其推力的直接测量。微推进器产生的推力通常为mN级或更低,并且具有较低的推重比,需要使用推力架对其推力性能进行高精度测量和评估。推力架作为测量仪器,在进行推力测量前需要标定。标定过程主要是通过将精确可知的力或冲量作用在推力架上,记录响应情况,得到推力架响应与作用力或冲量之间的对应关系。
随着航天技术的发展,一些高精度空间任务对推进器推力范围、分辨率和稳定性等参数的要求不断提高,同时对推力架测量能力以及相应标定技术的稳定性、精确性和可操控性提出了更高的要求。根据标定方法的不同进行分类,综述了近年来高精度推力架标定技术的研究进展。通过介绍和分析重力法、冲击力法、静电力法、电磁力法和气体分子作用力法等标定方法的原理、装置及应用情况,评述和总结了不同标定方法的适用条件和特点,并对高精度推力架标定技术的未来发展趋势进行了展望。