| 薄规格取向硅钢晶粒异常长大时的组织、织构稳定性与表面效应分析 |
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| 引用本文： | 杨平,李洋,顾新福,张海利,贾志伟.薄规格取向硅钢晶粒异常长大时的组织、织构稳定性与表面效应分析[J].电工钢,2021,3(5):1-9. |
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| 作者姓名： | 杨平 李洋 顾新福 张海利 贾志伟 |
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| 作者单位： | 北京科技大学材料学院,北京100083;鞍钢集团有限公司钢铁研究院,辽宁鞍山114009 |
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| 摘 要： | 0.20 mm及以下厚度的薄规格取向硅钢由于显著的表面效应生产难度更大,开发时更容易造成降级或废品率.由于这些高端取向硅钢生产技术保密而很少有相关细节报道,并且不同的成分体系对应的组织、织构及抑制剂参数和工艺参数应该有所差异,因此各企业需要自己摸索它们之间的关系.本文基于企业开发成功的0.20 mm产品,在实验室条件下全面考察其工艺的可重复性及组织结构变化的敏感性,揭示了由一次再结晶到高温退火1200℃关键温度下的基体取向类晶粒、异常长大类晶粒的尺寸、取向及抑制剂的特点.希望从理论上澄清薄规格化带来的显著表面效应和关键组织织构参数,为全面提升我国整体取向硅钢生产控制的理论水平打下基础.结果 表明,该样品在实验室高温退火也显示出好的重复性,对应的一次品粒尺寸平均值约18μm,二次再结晶温度1050℃,二次再结晶温度区间在15℃以内,二次再结晶前平均基体晶粒尺寸长大不超过1 μm.
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| 关 键 词： | 薄规格取向硅钢 织构 晶粒尺寸 高温退火 |
Analyses of the stability of microstructure and texture and the surface effects of thin gauge grain oriented silicon steel during abnormal grain growth |
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| YANG Ping,LI Yang,GU Xinfu,ZHANG Haili,JIA Zhiwei.Analyses of the stability of microstructure and texture and the surface effects of thin gauge grain oriented silicon steel during abnormal grain growth[J].Electrical Steel,2021,3(5):1-9. |
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| Authors: | YANG Ping LI Yang GU Xinfu ZHANG Haili JIA Zhiwei |
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| Affiliation: | 1.School of Materials Science and Engineering,University of Science and TechnologyBeijing,Beijing 100083,China;2.Iron and Steel Research Institute of AnsteelGroup Corporation,Anshan 114009,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | thin gauge grain oriented silicon steel texture grain size high temperature annealing |
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