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基于低频噪声检测光耦器件可靠性的频域筛选方法?
引用本文:陈晓娟,王文婷,景非.基于低频噪声检测光耦器件可靠性的频域筛选方法?[J].电子器件,2015(1).
作者姓名:陈晓娟  王文婷  景非
作者单位:1. 东北电力大学信息工程学院,吉林 吉林,132012
2. 北京邮电大学计算机学院,北京,100000
摘    要:针对光耦器件可靠性筛选,提出全频段阈值筛选方法检测光耦器件内部低频噪声。根据光耦器件内部的低频噪声完成光耦器件可靠性的筛选。实验中利用光耦器件测试系统检测200只光耦器件内部的低频噪声,计算这200只光耦器件全频段平均噪声谱,确定筛选的阈值,再根据光耦器件可靠性分类标准,判断被测器件可靠性等级。

关 键 词:光耦噪声筛选  低频噪声检测  过激噪声  筛选阈值

A Novel Method for Reliability Estimation of Optoelectronic Coupled Devices Based on Low-Frequency Noise Measurements
CHEN Xiaojuan,WANG Wenting,JING Fei.A Novel Method for Reliability Estimation of Optoelectronic Coupled Devices Based on Low-Frequency Noise Measurements[J].Journal of Electron Devices,2015(1).
Authors:CHEN Xiaojuan  WANG Wenting  JING Fei
Abstract:
Keywords:optoelectronic coupled devices screening  low-frequency noise detection  excessive noise  screening threshold
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