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| 基于FDTD法的开孔腔体电磁耦合效应研究 | |
| 引用本文： | 陈旭来,周东方,胡涛,焦彦维,郎国伟.基于FDTD法的开孔腔体电磁耦合效应研究[J].信息工程大学学报,2015,16(3):307-310. |
| 作者姓名： | 陈旭来 周东方 胡涛 焦彦维 郎国伟 |
| 作者单位： | 信息工程大学 |
| 摘 要： | 基于FDTD(时域有限差分法)对任意入射电磁波对电子设备带孔缝腔体的耦合效应进行了研究。对典型电子设备的开孔腔体进行仿真,计算不同情形下腔体内场强分布,根据仿真数据进行分析,得出一定的耦合规律,从而进行更好的屏蔽设计。研究结果表明:入射波正对孔缝照射时耦合效应最强,背面照射次之,腔体侧面照射时耦合效应最弱;入射波极化方向与孔缝长边垂直时耦合效应最强,两者角度越小耦合效应越弱;孔缝在腔体壁正中心时耦合效应最强,越靠近边缘耦合效应越弱;孔缝形状和入射波极化角度的规律一致,即孔缝与入射场强垂直的边越长,则入射波对腔体的耦合效应越强。 |
| 关 键 词： | 时域有限差分法(FDTD) 孔缝耦合 数值计算 |
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