| FPGA测试技术及ATE实现 |
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| 引用本文： | 龙祖利,王子云.FPGA测试技术及ATE实现[J].计算机工程与应用,2011,47(6):65-67. |
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| 作者姓名： | 龙祖利 王子云 |
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| 作者单位： | 1.西南科技大学，四川 绵阳 621010 2.中国工程物理研究院 电子工程研究所，四川 绵阳 621900 |
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| 摘 要： | 随着FPGA的规模和复杂性的增加，测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法，以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例，利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元（CLB）混合故障的测试方法，阐述了如何在自动测试系统（ATE）上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试，为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。
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| 关 键 词： | 现场可编程门阵列（FPGA） 多逻辑单元（CLB） 测试 自动测试系统 |
| 修稿时间： | |
FPGA testing technology and ATE to achieve |
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| LONG Zuli,WANG Ziyun.FPGA testing technology and ATE to achieve[J].Computer Engineering and Applications,2011,47(6):65-67. |
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| Authors: | LONG Zuli WANG Ziyun |
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| Affiliation: | 1.Southwest University of Science &Technology，Mianyang，Sichuan 621010，China 2.Institute of Electronic Engineering of CAEP，Mianyang，Sichuan 621900，China |
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| Abstract: | With the FPGA size and complexity increasing,the test is very important.This paper describes the structure of the SRAM-based FPGA profiles and FPGA testing methods to Xilinx＇s spartan3 series chip, for example, using the multi-detection logic cell（CLB） mixed-fault testing methods, elaborate on how to achieve on-line FPGA configuration, functions and parameters testing on the Automatic Test System（ATE）.A practical approach for the FPGA application-oriented test is provided. |
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| Keywords: | Field Programmable Gate Array（FPGA） multi-detection logic cell（CLB） test Automatic Test System（ATE） |
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