| 一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法 |
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| 引用本文： | 涂吉,王子龙,李立健.一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法[J].计算机科学,2014,41(5):33-36. |
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| 作者姓名： | 涂吉 王子龙 李立健 |
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| 作者单位： | 中国科学院自动化研究所 北京100190;中国科学院自动化研究所 北京100190;中国科学院自动化研究所 北京100190 |
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| 基金项目： | 本文受国家自然科学基金项目(61073035)资助 |
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| 摘 要： | 提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法。对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相互之间最多只有一比特相异,从每类中只选取一个种子向量存储到ROM中。为了进一步提高测试向量压缩率,对聚类后的种子向量再进行移位压缩。实验结果表明,聚类移位压缩具有较高的测试数据压缩率,能减少难测向量存储单元,且能以芯片频率进行测试。
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| 关 键 词： | 聚类压缩 移位压缩 内建自测试 测试激励 |
| 收稿时间： | 2013/9/17 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2013/11/21 0:00:00 |
Rotation-based Test Pattern Clustering Compression Method for BIST |
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| TU Ji,WANG Zi-long and LI Li-jian.Rotation-based Test Pattern Clustering Compression Method for BIST[J].Computer Science,2014,41(5):33-36. |
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| Authors: | TU Ji WANG Zi-long and LI Li-jian |
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| Affiliation: | Institute of Automation,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100190,China;Institute of Automation,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100190,China;Institute of Automation,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100190,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Clustering compression Rotation-based compression Built-in self-test Test stimulus |
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