乒乓模式在IC量产测试中的应用

随着目前国际集成电路封装测试产业不断向中国转移,更多国际知名公司均希望在中国找到低成本、高品质的解决方案。集成电路测试作为品质把关的重要一环,其成本在整个集成电路产业链中占有较高比重。据统计,目前有很多集成电路的测试成本已高达整个集成电路生产成本的45%以上,因此,测试成本的有效降低能够明显减少集成电路制造成本。昂贵的集成电路测试设备是导致IC量产测试成本偏高的主要因素,需要负责IC量产测试的工程技术人员不断地探索和钻研如何最有效地使用这些测试设备。本文详细地阐述了如何使用乒乓测试模式充分利用设备资源,从而有效降低IC的测试成本。     

集成电路分选机的维修及应用

随着经济发展和技术的进步,集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试在集成电路产业链中的作用越来越大,专业化的集成电路测试业是集成电路产业中一个重要组成部分,是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。各大半导体生产厂家都在竭力提高生产效率和检测效率,生产厂家在芯片生产中采用了自动化的半导体测试仪器和高速、智能化的集成电路分选机。以CTS800分选机为例,详细介绍了集成电路分选机常见故障的维修及应用。     

测试技术发展趋势

IC测试、通信测试、网络测试和 虚拟仪器的发展已出现一些新的势态。降低测试成本成为发展IC测试的首要目标对体积更小、功能更强的芯片的需求正推动IC产业的发展,同时也推动着IC设计和测试的发展。对于系统芯片（SOC）的测试,其成本已几乎占芯片成本的一半。根据英特尔公司副总裁提出的测试摩尔定律,未来几年,每一晶体管的硅投资成本将低于其测试成本。 因此未来IC测试设备制造商面临的最大挑战是如何降低测试成本。过去的集成电路主要分为模拟电路、混合信号电路和数字电路。１９９８年,称之为MACH-D的（即存储器、模拟、通…     

泰克推出实时频谱分析仪专用信号源套件

安捷伦科技日前宣布，两安集成电路系统工程技术研究中心（以下简称“西安IC工程中心”）购买了一台Aglent93000SOC系列测试系统，用来测试高速应用和混合信号设备。这一系统将成为目前中国西部地区首台半导体高端测试设备，标志着西安IC工程中心已经具有高性能SOC的测试能力，从而成为西部地区领先的SOC测试机构，可为西部地区的高科技企业提供设计检验服务，并为测试工程师提供重要的培训服务。     

IC成品自动化测试中的机械手技术

面对硅片制造技术的不断提高、IC产业持续增长的形势，IC封装形式日趋多样化，这对用于IC成品自动化测试的机械手（Handler，又译作分选机）提出了新的挑战，本文就这一热门话题介绍国外有关专家们的观点。     

集成电路的CAT技术

集成电路(IC)研究与制造技术的迅猛发展已导致社会生产的飞跃性变革,集成电路的应用已渗透到工业、农业、国防以及人们日常生活乃至各个领域。近年来,专用集成电路(ASIC)的制造异军突起,成为IC生产的主流。但是,不论是通用IC还是ASIC,集成规模的不断增大,电路内部节点数以及输入输出信息量大幅度增加,对IC制造厂家提出了严峻的课题:如何迅速准确地检测芯片、如何以最少的测试矢量最多地反映内部节点的状态。本论文主要阐述了集成电路的CAT技术及其应用。     

中国西部地区首台半导体高端测试设备落户西安——西安集成电路系统工程技术研究中心选用安捷伦93000 SOC测试系统

安捷伦科技日前宣布，西安集成电路系统工程技术研究中心（以下简称”西安IC工程中心”）购买了一台Agilent 93000 SOC系列测试系统，用来测试高速应用和混合信号设备。这一系统将成为目前中国西部地区首台半导体高端测试设备，帮助西安IC工程中心具有高性能SOC的测试能力，成为西部地区领先的SOC测试机构，从而为西部地区的高科技企业提供设计检验服务，并为测试工程师提供重要的培训服务。     

中国西部地区首台半导体高端测试设备落户西安

西安集成电路系统工程技术研究中心选用安捷伦93000SOC测试系统安捷伦科技日前宣布,西安集成电路系统工程技术研究中心(以下简称"西安IC工程中心")购买了一台Agilent93000SOC系列测试系统,用来测试高速应用和混合信号设备。这一系统将成为目前中国西部地区首台半导体高端测试设备,帮助西安IC工程中心具有高性能SOC的测试能力,成为西部地区领先的SOC测试机构,从而为西部地区的高科技企业提供设计检验服务,并为测试工程师提供重要的培训服务。西安IC工程中心,是国内最早提出并开展超大规模集成电路(VLSI)设计的单位之一,也是国内少…     

中国西部地区首台半导体高端测试设备落户西安

日前．安捷伦科技宣布西安集成电路系统工程技术研究中心（以下简称“西安IC工程中心”）购买了Agilent 93000 SOC系列测试系统，用于测试高速应用和混合信号设备该系统是中国西部地区首台半导体高端测试设备．使西安IC工程中心具备高性能SOC的测试能力，成为西部地区领先的SOC测试机构．从而为西部地区的高科技企业提供设计检验服务、并为测试工程师提供重要的培训服务。     

多测位并行测试的探索与实践

多测位并行测试技术是半导体测试业节约成本、提高效率的新途径,应用好并行测试技术可以大幅度降低测试成本.本文讲述了用台湾久元的SCUD-512型测试机和东京精密的UF200探针台实现双测位并行测试的实践过程,另外还介绍了并行测试技术在晶圆测试过程中的若干技术问题和解决方案.     

集成电路极性测试“微整机”研究与应用

集成电路极性测试一般指选择电路一个特定管脚进行电性能量测,快速判断电路放置是否反向、错位等,实现原理和集成电路开短路测试原理一致。目前集成电路极性测试多数依赖于功能强大、应用成熟的集成电路自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)实现,但是测试性价比没有任何竞争力。基于集成电路极性测试原理,采用纯硬件制作一款集成电路极性测试"微整机",在极性测试上达到与ATE同样的测试能力,并能和机械手(Handler)进行信息交互,实现自动化测试,具备简单、稳定、高效和极低成本的特点。     

ATE测试成本优化

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。     

SOC芯片并行测试中几个值得关注的问题

介绍了提高测试效率的SOC芯片在片测试的两种并行测试方法,结合上海集成电路技术与产业促进中心的多个实际的SOC芯片测试项目中所积累的成功经验,针对多工位测试和多测试项目平行测试这两种并行测试方法,主要阐述了在SOC芯片的并行测试中经常遇到的影响测试系统和测试方法的问题,提出了在SOC芯片在片测试中的直流参数测试、功能测试、模数/数模转换器(ADC/DAC)测试的影响因素和解决方案,并对SOC芯片在测试过程中经常遇到的干扰因素进行分析,尽可能保证SOC芯片在片测试获得的各项性能参数精确、可靠.     

模拟集成电路直流参数测试

集成电路产业是当今社会三大信息产业之一,集成电路技术的飞速发展必然带动集成电路测试设备的不断更新,从而降低集成电路生产成本,提高生产效益。本文给出了一种基于AD5522的模拟集成电路直流参数测试系统设计方案。该方案利用AD5522和AD974构成多通道参数测试环路,设计并实现模拟集成电路直流参数测试系统。实验结果表明,与传统测试设备比较,该测试系统具有结构紧凑、测试速度快、精度高、可操作性强等特点。     

基于虚拟仪器数控四声道音频处理器测试系统

文章介绍了基于虚拟仪器技术的数控四声道音频处理器自动化测试系统。音频处理器电路是电子消费产品中常用的电路,以PC机、NI公司的动态信号采集卡PCI-4474、高速信号输出卡PCI-6371、分选机JS-200为硬件基础,以图形化编程语言LabVIEW8．2为软件开发环境,开发音频处理器的自动化测试系统,实现音频信号的发生、采集、处理与分析等功能,有效地降低了测试成本及提高了测试灵活性。     

CTA8280集成电路测试系统的研究应用

集成电路测试系统对测试精度、测试速度、测试功能等方面提出了越来越高的要求,测试系统并行测试和乒乓测试结合可以更好地利用现有的硬件资源,最大限度地提高系统的测试效率,降低测试成本。针对CTA8280测试系统结构、关键技术、应用案例进行分析介绍。     

半导体测试调度研究

半导体测试是资金高度密集、涉及产品种类与设备种类繁多的半导体生产环节.半导体测试需要同时使用测试机、送料机台和使能器等资源.资源组合及其可加工的产品类型的对应关系错综复杂,大多数半导体测试调度问题是考虑多资源约束和作业换型时间的平行机调度问题.分别从问题和方法两个角度对半导体测试调度研究进行分析,归纳了附加资源充足的测试调度和附加资源受限的测试调度两大类问题,并对目前半导体测试调度的各类方法进行总结对比,分析了各类方法的特点.     

光电二极管批量快速测试系统的设计与实现

随着光电二极管的用量不断增大,手动测试筛选已满足不了测试需求,定制自动测试系统又存在成本较高、不易推广的缺点。为提高测试效率、解放人力资源及便于测试系统推广,采用一台KEITHLEY 2400源表及开关控制板构建了批量快速测试系统。开关控制板的阵列开关采用两片1∶8多路复用器实现,与采用继电器实现相比,降低了硬件设计难度及复杂度。将开关控制部分与器件载体部分分别设计在两块电路板上,并用两块载体板交替完成器件安装与测试,能实现器件插拔与器件测试并行进行,缩短了测试等待时间。将测试控制、参数测试及数据处理流程化,使测试效率得到了进一步提高。试验结果表明:搭建的测试系统可实现一批64只器件的一键式测试,每只器件单个参数平均测试时间不到1s,且测试准确度较高。     

基于PXI总线通用测试系统的设计

随着电子技术的不断发展,电子系统已经广泛的应用在了人们生活的各个领域中,并且对电子装备生产和测试技术的要求也越来越高。当前,电子测试内容和对象不断复杂,而且用户对测试速度以及其他方面的要求也越来越高。传统的人工测试已经不再满足当前测试工作的需要,因此必须要大力研究自动测试系统并加强应用,以提高测试工作的效率和质量。PXI总线电子装备测试系统是基于PXI总线的虚拟仪器技术,主要应用于电子装备测试,本研究主要针对电子装备的测试需求,设计了一套基于PXI总线的检测设备。