硅橡胶膜中的溶胀行为及分配系数

采用自制的硅橡胶(PDMS)膜，研究了两组分混合溶剂在硅橡胶膜中的溶胀行为及分配系数．比较了溶胀率的实验值和理论值，考查了溶胀液平衡浓度与硅橡胶膜的溶胀率和分配系数的关系，以及溶胀液平衡温度与分配系数的关系．     

溶胀对中空纤维膜萃取器传质性能的影响

由于溶剂对中空纤维膜的溶胀，使得溶胀对传质性能产生一定的影响。以３％ＴＢＰ（煤油）－苯酚－水为实验体系，在聚砜中空纤维膜器中系统地研究了溶胀性对总传质系数、中空纤维膜厚度、内径以及壳程流动状况的影响。结果表明，中空纤维膜在溶剂作用下发生溶胀后其膜厚度和内径并未发生明显的变化，而中容纤维膜的长度会因此增大。由于溶胀的影响，造成中空纤维膜器壳程溶剂的流动偏离柱塞流模型，从而使计算值与实测值有一定偏差。     

聚丙烯微孔膜表面的臭氧处理接枝改性

采用臭氧处理聚丙烯微孔膜,在其表面引入过氧化物,然后通过过氧化物的分解引发丙烯酸单体在微孔膜表面接枝。研究了臭氧处理条件、接枝反应条件对聚丙烯微孔膜的接枝率、亲水性及溶胀性的影响。研究结果表明,丙烯酸接枝微孔膜与水的接触角随接枝率的增加而逐渐下降,吸水率随接枝率的增加而呈线性增加趋势,表现出良好的亲水性与溶胀性。     

硝酸体系尼龙微孔膜

尼龙材料具有机械强度高，耐卤代烷烃、酯、醇、醛、酮等有机溶剂和耐酸碱等特性。是制作亲水性微滤膜的理想材料。以硝酸为溶剂，采用不同等级的尼龙材料，研计了尼龙微孔膜的成膜工艺参数。     

PS-b-PNIPAAm嵌段共聚物多孔薄膜的制备及形貌研究

将两亲性PS-b-PNIPAAm嵌段共聚物(BCP)溶解在四氢呋喃中配制成浓度为2%(质量分数)的溶液,旋涂后得到初生嵌段共聚物薄膜,以乙醇为退火溶剂退火后,探讨了退火时间对薄膜微孔结构的影响,结果表明,随着退火时间的延长,膜表面的微相分离越明显,微孔结构的分布更均匀。进一步将在乙醇中退火预处理的薄膜分别在乙醇或去离子水中进行溶胀处理,通过选择性溶胀成孔法制备PS-bPNIPAAm纳米多孔膜。研究了溶胀时间、温度及溶剂类型对薄膜形貌的影响,结果发现升高溶胀温度和延长溶胀时间均有助于膜表面微孔结构的形成,且该过程中乙醇的成孔作用比水的作用更为明显。     

溶胶－凝胶法制备的SiO_2膜的结构与性质

本文用ＴＥＯＳ和硅溶胶作原料，用溶胶一凝胶法制备了无支撑体和有支撑体的ＳｉＯ２膜．用ＴＥＯＳ制得的无支撑体ＳｉＯ２膜，无１．７ｎｍ以上的微孔，由硅溶胶制得的无支撑体ＳｉＯ２膜平均孔径为７．５ｎｍ，且孔径分布集中，这种差异主要来自于由不同原料制备的溶胶，其聚合物分子具有不同的形态和生长模式．用ＴＥＯＳ作原料，在无过渡层的α－Ａｌ２Ｏ３多孔支撑体上制得了无大孔缺陷、厚约１５μｍ的ＳｉＯ２膜，膜对ＢＳＡ的百分截留率为７５．８％．在有过渡层的α－Ａｌ２Ｏ３上制得的ＳｉＯ２膜的纯Ｎ２渗透表现为Ｋｎｕｄｓｅｎ扩散特征．起超滤和扩散作用的是ＳｉＯ２膜层内部的缺陷微孔．     

溶剂对溶液法制备的SPEEK质子交换膜性能的影响

本文在聚醚醚酮(PEEK)磺化反应制备相同磺化度的磺化聚醚醚酮(SPEEK)基础上,采用不同的溶剂通过溶液法制备一系列SPEEK质子交换膜,采取交流阻抗法、扩散池法和溶胀法分别评价其导质子能力、阻醇性能和溶液稳定性,探讨溶剂种类对SPEEK质子交换膜性能的影响规律.试验结果表明溶剂对所制备膜的导质子能力和阻醇性能影响依赖于溶剂分子与SPEEK中磺酸基团的相互作用,若存在越强作用,膜的导质子能力越弱,而阻醇性能越高.此外,溶剂种类对膜的吸水溶胀性能存在较小的影响,对膜表面的微孔形态存在明显的影响,并与膜的导质子能力及阻醇性能存在对应关系.综合比较不同溶剂制备膜的导质子能力、阻醇性能和吸水溶胀性能,DMAc是优于DMF和DMSo的制膜溶剂.     

有机溶剂分离膜结构和膜材料设计理论研究

综述现存有机溶剂分离膜的不同结构特点，分析膜结构对溶剂渗透性能的影响．围绕溶剂渗透过程的溶解-扩散机理模型，重点阐述预测溶解性的溶液热力学理论和计算扩散系数的自由体积理论，强调化工热力学理论对新型溶剂分离膜开发的指导作用．在此基础上，提出膜材料和膜结构相互协调，利用物性推算法进行有机溶剂分离膜材料设计的思想．     

聚丙烯中空纤维微孔滤膜在油田含油污水处理中的应用

聚丙烯中空纤维微孔滤膜是以聚丙烯为原料经融熔纺丝、拉伸、定型制成的平均孔径为０．０７￣０．１μｍ的疏水性微孔膜，经特殊工艺亲水处理后亲水膜。在油田含油污水的处理中，用亲水微孔聚丙中空纤维膜装置进行了中型试验，结果处理后的水质可达含油≤１ｍｇ／Ｌ，悬浮固体≤１ｍｇ／Ｌ，固体颗粒直径≤２μｍ的占总体积的９０％以上，完全可达到低渗透油层注入水的要求。实验中，发现因污水的温度比较高，造成封装组件的环氧树脂     

定点激光反射热循环测量铜膜应力及屈服强度

采用定点激光反射热循环测量基片上薄膜应力的新方法，测定了硅片（１００）上四种厚度（０．２４μｍ，０．５３μｍ，１．２８μｍ，３．４２μｍ）磁控溅射纯铜膜应力随温度（２０～３００℃的变化，发现屈服强度与膜厚倒数成线性关系。