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在检定和使用立式接触干涉仪时,首先必须按下式调整仪器的刻度值:n=(λK/2i)式中 n——K 个干涉条纹间隔中所应包含的刻度间隔数;λ——单色光的波长;i——仪器的分度值。其实质是以分划板格数一定,用改变干涉条纹的多少来决定仪器的刻度值。由于每台仪器所带干涉滤光片巅值波长(λ)的不同,工作前的计算是不可免的(那怕是最简单的计算),这给仪器检修员下广工作带来一些麻烦。是否可用再简单一点的办法来调整仪器的刻度值呢?我们在工作中是这样做的,即用固定干涉条纹数量(20条)改变与它相对应的分划板格数的方法来调 相似文献
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721型分光光度计一般都存在着一定的波长误差,在误差较小时,只需稍调整波长刻度盘的位置,即可使误差缩小到合格范围内。当波长误差较大时,不能简单地用上述方法调整。本人总结出一套非常简单、准确而迅速的调整方法,现介绍如下: 首先检查一下仪器波长误差的情况。选两块合适的干涉滤光片, 相似文献
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一、故障现象检定721型可见分光光度计时,经常会遇到波长准确度非线性误差超差的情况,具体表现为:在波长为500nm~600nm范围内波长准确度合格,而在小于500nm和大于600nm的波长区间的波长准确度出现超差,且呈现两端一正一负符号相反的现象。这时简单地调节仪器左侧的波长校正螺杆可能使波长准确度一端合格而另一端超差更加严重,无法根本解决问题,对这类问题的调整必须从原理着手。 相似文献
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接触式干涉仪采用同一光源的两束光由于光程差而产生的另级次干涉带(即黑色干涉条纹)作为测量标线。另级次干涉带移动的距离代表了光程改变所移动的距离,该仪器的测量分度值是由干涉带的疏密程度决定的,在一固定的刻线范围内用单色光(可用滤光片产生)可见多条干涉条纹。因此。对干涉带疏密度的精确定量、干涉滤光片的波长准确与否直接影响仪器的示值准确性。 相似文献
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干涉滤光片的波长在400nm至750nm的可见光光谱区内,除了能获得单色光外,还可用作较正分光光度计可见光区波长,它较之汞灯、氢灯校正仪器波长,有操作简单、方便等优点。用干涉滤光片校准72型分光光计的波长可 相似文献
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在检定721型分光光度计时,常发现其波长准确度超差。当其波长高、中、低段超差均为正或负时,可通过同方向调整波长度盘以达到校准目的;但若超差为负、正、负15nm以上,用上述方法去校准就比较困难,而且费时。本文介绍一种简单的调整方法,具体操作过程是: 在波长度盘580nm处对应的单色光为黄光的条件下,选用三块标准干涉滤光片,如437nm、533nm、694nm,用比较法分别比较波长度盘的误差。即先将437nm干涉滤光片置于同波长的单色光路中,调节光亮调节器1至透射比为50%处(见示意图),然后调节波 相似文献
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72型分光光度计是我国目前广泛使用的比色分析仪器。本仪器所使用的光源灯丝容易变形或烧坏,同时,由于仪器受到震动或更换灯泡时位置不正确等,都会改变入射光的方向,而造成较大的波长误差。因此,当长时间地使用仪器或更换灯泡以后,都必须对仪器的波长进行检定和调整。本方法是采用干涉滤光片对仪器进行波长 相似文献
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文章以可见分光光度计主标准装置之一的干涉滤光片对上海第三分析仪器厂生产的721型分光光度计检定为例,进行波长示值误差测量不确定度评定。 相似文献
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一、波长最大允许误差与重复性检定需要注意的事项波长最大允许误差检定即检定波长准确度,是指扫描标准样品或标准滤光片时,仪器测得的光谱峰的波长值与该峰的标准值的符合程度。波长准确度误差随仪器不同一般在(±0.2~±1)nm之间。JJG178-2007《紫外、可见、近红外分光光度计》检定规程提供了9种标准物质供选择,实际检查波长准确度常用的方法是用仪器光源氘灯的发射谱线、用汞灯的发射谱线、用镨钕滤光片或钬滤光片的吸收峰检查。 相似文献
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问题一:用干涉滤光片检仪器波长时,“连续法”与“逐点法”的结果不同。甚至会引起不同的判定结论。此类情况应以“逐点法”的结果作为判断依据。所谓“连续法”即连续驱动波长传动机构,直接从仪器透射比示值变化上测得滤光片峰值波长所对应的波长点,它与JJG178—1996《可见分光光度计》检定规程所规定的“逐点法”有区别。 相似文献
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本文从三个方面介绍了721型分光光度计波长误差的调整: (1)721型分光光度计的单色器中,因选择波长的转动螺线轮设计较好,波长度盘示值间隔基本均匀,故当波长误差在几个波长区皆正、皆负且数值接近时,仅松动度盘的三个紧固螺钉,转动波长度盘,即可调节成功。 (2)当721型分光光度计长短各区的波长误差数值不一致,但差别不大时,旋转仪器左侧准直镜的调节螺钉,调节其沿铅垂轴的转角方位,使各点波长示值误差符号相同和数值相近后,再转动波长盘也可调节成功。 (3)当以上两种方法仍不能使波长示值合格时,也就是在仪器波长误差较大时,首先,应注意记录短、长两波长检定点的示值差 相似文献
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针对高准确度光谱共焦传感器缺乏相应校准装置及方法的问题,提出了一种基于激光干涉测量的校准方法,并研制了相应的校准装置。一方面,提出了一种波长倍数间隔测量法,通过位移反馈控制将位移间隔设置为激光波长的整数倍,以减小激光干涉仪非线性误差对测量的影响;另一方面,提出了测点修正算法,消除了受检点处位移标准值因校准装置定位准确度限制不重合对测量的影响。实验结果表明:在0~100μm的测量范围内,示值误差为±23 nm,重复性为5 nm,示值误差测量结果的扩展不确定度U2=7.0 nm(k=2)。构建的校准装置在0~50 mm的测量范围内的示值误差测量结果不确定度为U1=3.0 nm+2×10-7L(k=2)。 相似文献
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正直读光谱仪广泛应用于钢铁、机械、铸造、有色金属等行业,JJG768-2005《发射光谱仪检定规程》规定了波长示值误差、检出限、精密度、稳定性等主要检定项目。但在一些检定项目(如波长示值误差、检出限等)的检定中经常会遇到一些问题,笔者结合近几年检定/校准中的一些经验与大家探讨。检定前一般应按要求清理仪器激发台、聚光透镜等部件。一、波长示值误差的检定波长示值误差的检定按检测器不同可分为两种情况:一是以光电倍增管(PMT)为检测器的仪器;二是以电荷耦合器(CCD)为检测器的仪器。 相似文献
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由使用说明书规定,立式接触干涉仪的分度值是经常需要根据下式算出的数值 n 来检查和加以调整的。n=(λ/2)·(K/i)式中 i 为所要选取的分度值(说明书推荐可以采用0.05微米/格,0.1微米/格或0.2微米/格);K 为可以任意选取的干涉条纹数(说明书对应于 i 推荐采用8条、16条和32条)。根据上式计算,分度值最后是由 K 个干涉条纹内包含有 n 个刻度尺间隔来决定的。对于刻度尺,只要求相邻间隔的均匀性不变化即可(材料的不稳定虽然可以造成刻度尺绝对长度的变化,但对相邻间隔均匀性的变化影响是很小的),所以影响分度值精确度的主要因素是所用滤光片波长的数值是否与实际波长相符合。 相似文献
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线型光束感烟滤光片的校准主要包括减光值、正反面误差、均匀性和稳定性。以双光束紫外、可见、近红外分光光度计为测量设备,在800~1 000 nm的范围内测定滤光片的光谱透射比并计算出相应的减光值。结合光源的光谱功率分布和探测器的光谱响应度,分析了滤光片光谱透射比非"中性"对测量结果的影响。提出了以积分法计算减光值,降低测量结果不确定度的方法。 相似文献
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721型分光光度计是工厂、矿山、医院以及各科研单位在可见光区范围内(360~800nm)进行定量比色分析的常规仪器。在日常工作中,721型分光光度计多用于各单位的化验室取样化验,由于此仪器使用频率较高,故障频率也较高,光路易出现下列故障:1 光斑不清晰、不完整或有杂散光开机后,将波长调至580nm 附近,调100%旋钮, 相似文献