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乙醇磷钨酸染色的血小板颗粒钙的定量分析丁舰,钟慈声(上海医科大学生物物理教研室,上海200032)电镜x射线定量分析,一般是用快速冷冻法制备样品,由于该法技术复杂,且需要昂贵的设备,其应用受到了限制。我室俞彰等采用乙醇磷钨酸(EPTA)特殊染色法制备... 相似文献
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细胞内的某些细胞器含有较高浓度的Ca~(2+),被称之为细胞内钙库。而细胞的不少活动有赖于钙库释放钙。本研究项目目的在于探讨心房特殊颗粒释放心房肽是否也与其钙的释放有关。为此必须首先了解心房特殊颗粒是否含有高浓度钙。本工作应用x射线显微定量分析技术及Ca~(2+)——ATP酶细胞化学技术进行研究,证实心房特殊颗粒中含有高浓度钙。材料和方法:用成年Spragul Dawfey大鼠,心房样品按以下几种方法制备:1)常规超薄切片制备法;2)磷钨酸乙醇特殊染色法<1>;3)Ca~(2+)——ATP酶细胞化学定位<2>;4)新鲜快速冷冻心房及冷冻超薄切片;5)电子探针x射线显微分析,应用link公司Quanten/FLS定量分析软件~*。结果和讨论:在磷钨酸乙醇特殊染色的切片上,不能清楚辨认心房细胞的超微结构,但能清楚识 相似文献
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用电子探针X射线显微分析法研究肾上腺素激发的心房特殊颗粒分泌 总被引:2,自引:0,他引:2
本文研究心房特殊颗粒(ASG)中的钙释放是否能促进颗粒内容的分泌.冷冻超薄切片技术和磷钨酸-乙醇(EPTA)特殊染色技术制备大鼠心房切片.X射线显微定量分析采用Hall连续谱法,用以测量在肾上腺素处理后15、30、60和120
min时ASG中钙含量的变化.用形态计量法的数密度作为判断ASG分泌状态的指标.结果显示心房特殊颗粒在生理状态下钙浓度高达80
mmol/公斤*干重.在肾上腺素注射后ASG的数密度逐渐下降,并于注射后60
min时下降至最低;ASG中的钙含量亦逐渐减低,但于注射后30 min即达最低,由此可见ASG钙含量的下降出现早于颗粒数的下降.推想肾上腺素处理引起的钙释放可能成为一种信号,启动心房肽的分泌,因此ASG在心房心肌细胞中可能具有细胞内钙库机能.本文同时讨论了Hall连续谱法近年来在生物试样定量分析中的应用和发展. 相似文献
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本文分别以磷钨酸和四氧化锇为染色剂对聚氨酯分散体(PUD)的透射电镜(TEM)样品进行制备,通过实验分析了染色液种类、染色时间、稀释后的PUD固含量等因素对TEM图像效果的影响,针对PUD的TEM表征技术进行了探讨研究。结果表明,PUD样品使用磷钨酸负染,控制负染染色时间为30 s~1 min,稀释后PUD固含量为0.03%~0.05%,染色液pH在7左右,注重制样细节,能获得良好的TEM表征效果。 相似文献
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粘土矿物EDAX能谱仪是粘土矿物化学成分分析重要技术之一。与传统化学分析方法相比,扫描电子显微镜加X射线能谱仪分析速度快,谱图直观,微区定位分析准确,样品用量少,损伤小,但对于粉末及颗粒样品的化学成分定量分析精确度较低,尤其是主量元素的定量分析与经典化学分析方法比较分析误差较大。为进一步改进和完善EDAX粘土矿物化学成分定量分析技术,我们初步建立了专门用于粘土矿物(粉末)EDAX定量分析的标样库,并综合使用TEM/SEM粉末试样制备技术改进了目前普遍采用的EDAX粉末样品制备技术。 相似文献
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X射线能谱仪(EDS)作为扫描电镜的重要附件,能够便捷、快速地分析样品微区的元素信息。然而,部分难分析样品在采用常规的EDS测试技术时会出现较大的分析误差或错误。本文利用装配布鲁克QUANTAX XFlash 6|30能谱探测器的Zeiss sigma 500型场发射扫描电镜,针对轻重元素兼具样品、粗糙不平整样品、谱峰相近元素样品以及纳米填充颗粒四种较难检测样品的能谱分析,分别给出了相应的解决技术并剖析了典型的应用案例,相比较常规技术,其能谱分析的准确性获得了很大的提高,这些解决问题的思路和方法可作为今后分析类似样品的一种参考。 相似文献
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肾上腺髓质细胞在刺激分泌耦联过程中 ,胞质内游离 Ca2 + 浓度升高是引起肾上腺素和去甲肾上腺素释放的原因之一。胞内 Ca2 + 浓度升高的原因 ,可以是质膜上钙离子通道开放 ,导致细胞外 Ca2 + 内流 ,也可以是细胞内钙库向胞内释放 Ca2 + [1] 。本实验通过激动剂作用于分离的肾上腺髓质细胞 ,以引起离体细胞的刺激分泌耦联过程 ,运用电镜 X射线显微分析技术测量用药过程中颗粒内钙含量的变化 ,并对嗜铬颗粒数进行形态计量 ,结合测量细胞悬液中的肾上腺素含量以反映细胞的分泌水平 ,进而从肾上腺素分泌和颗粒钙含量二者变化关系来探讨激动剂… 相似文献
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本文设计了两套应用会聚柬电子衍射(CBED)测定晶体点群的优化实验流程图。一套为应用CBED测定晶体点群的一般流程图,它适合于对完全未知的晶体进行点群测定,如透射电镜下发现的未知微细包裹体或未知出溶相等;另一套为已知晶系情况下应用CBED测定晶体点群的实验流程图,它适用于已有X射线衍射或选区电子衍射数据的情况。这两套实验流程图非常详尽,流程图各分支的终点都是唯一的点群,具有操作性强的特点。使得测定晶体点群的实验变得更加简便快捷,尤其适合于对天然细分散矿物晶体点群的测定。并给出了两个应用实例,镁铝榴石及硅钛铈铁矿晶体点群的测定。 相似文献
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体外冲击波碎石术对胆石症病人进行治疗的过程中对肝细胞的超微结构和功能有无不可逆的损伤是值得探讨的。用电镜酶细胞化学方法结合电镜X射线显微分析法对冲击波作用后肝细胞质膜Na^+-K+-ATP酶活进行检测,结果显示:施冲击波15分钟后,肝细胞质膜Na^+-K^+-ATP酶的活性见下降,45分钟降至最低,随后逐渐恢复,2个月时已完全恢复接近正常对照,与相同时程肝细胞微结构变化对比,酶活性受损较早,恢复亦 相似文献
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Longhua Tang Ying Wang Yueming Li Hongbing Feng Jin Lu Jinghong Li 《Advanced functional materials》2009,19(17):2782-2789
This paper describes the preparation, characterization, and electrochemical properties of reduced graphene sheet films (rGSFs), investigating especially their electrochemical behavior for several redox systems and electrocatalytic properties towards oxygen and some small molecules. The reduced graphene sheets (rGSs) are produced in high yield by a soft chemistry route involving graphite oxidation, ultrasonic exfoliation, and chemical reduction. Transmission electron microscopy (TEM), X‐ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), X‐ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Raman spectroscopy clearly demonstrate that graphene was successfully synthesized and modified at the surface of a glassy carbon electrode. Several redox species, such as Ru(NH3)63+/2+, Fe(CN)63?/4?, Fe3+/2+ and dopamine, are used to probe the electrochemical properties of these graphene films by using the cyclic voltammetry method. The rGSFs demonstrate fast electron‐transfer (ET) kinetics and possess excellent electrocatalytic activity toward oxygen reduction and certain biomolecules. In our opinion, this microstructural and electrochemical information can serve as an important benchmark for graphene‐based electrode performances. 相似文献
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PVC/PP,PVC/PP/SPS共混体系相结构的X射线能谱微区分析 总被引:4,自引:0,他引:4
本文用扫描电子显微微镜(SEM),能谱仪(EDS)和IPP图像处理系统联用对PVC/PP共混体系和磺化聚苯乙烯(SPS)增容PVC/PP共混体系相结构进行了X射线能谱微区分析。结果表明:X射线能谱微区分析方法可用于共混物相结构的研究,所得到的特征元素面分布图像清晰,相归属准确。通过对图像处理得到的相面积百分数能够半定量地说明相间相容性,研究还表明SPS能明显改善PVC和PP的相容性,SPS对PVC和PP共混物的增容效果随SPS磺化度增加而变差,随SPS用量增加而提高。 相似文献
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Advanced FIB sample preparation techniques for high resolution TEM investigations of HEMT structures
《Microelectronics Reliability》2014,54(9-10):1785-1789
In this paper advanced sample preparation techniques based on focused ion beam (FIB) optimized for TEM investigation of high electron mobility transistor (HEMT) structures are presented. It is shown that the usage of an innovative in-situ lift-out method combined with X2 window and backside milling techniques as well as live thickness control and end point detection can significantly improve the quality of electron transparent samples required for high resolution TEM investigations. This advanced preparation flow is evaluated and demonstrated at GaN HEMT structures for atomic resolution TEM investigation. 相似文献