光栅传感器检测电路的设计

介绍了一种新颖光栅检测电路与及光栅检测有关的方向传感器电路,它可以将光束的位移直接转换成数字信号的形式输出.     

一种谐波减速器传动精度测试仪设计

为测量谐波减速器的传动精度,设计了一种谐波减速器传动精度测试仪。利用2个高精度光栅传感器采集谐波减速器高速轴和低速轴的转速,采用放大分频电路将光栅传感器输出的信号调整为同频率的脉冲信号,利用相敏解调电路提取2个光栅传感器输出信号的相位差,通过相位差来判断谐波减速器的传动精度。实际测试结果表明,系统能有效地检测到谐波减速器的传动情况,且测量精度可达8″。     

时栅位移传感器在传动误差检测系统中的应用研究

采用"时域信号、空域分析"的思想,将时栅位移传感器输出的按时采样的角位移传感器信号转换成按空间均分的角位移信号,实现了用时栅替代等空间采样的光栅作为检测元件应用于传动误差测量。搭建了试验装置,绘制了试验的传动误差曲线,由曲线频谱图,分析、确定了误差的主要产生环节。证明了用时栅代替光栅测量传动误差是行之有效的。该研究不仅实现了用成本低廉的时栅代替光栅,而且克服了课题组前期开发的传动误差测试系统的采样不稳定性和速率不同步性带来的误差。     

基于域变换和灰色预测的光栅信号软细分方法*

针对在现有的光栅细分方法中,细分精度和细分倍数受光栅输出信号质量制约的问题,提出了一种基于域变换和灰色预测的光栅信号软细分方法。基于时空域变换原理将空间域的信息变换到时间域,将传统的等时间采样转换为等空间采样得到空间序列,然后根据灰色预测理论模型预测代表光栅空间位移信息的时间量,通过模型残差检验和修正算法不断提高预测的准确度,最后以时间脉冲方式输出光栅细分信号。实验研究表明,采用灰度预测模型对光栅信号实现预测的软细分方法,不受信号的正弦性、正交性和等幅性影响,细分误差精度可以达到±1.8″,细分精度优于信号周期的±5%。     

SC16光线示波器相频特性的一种测试方法

本文介绍了一种测试SC16光线示波器相频特性的方法,采用光敏二极管将输出的光信号转换成电信号,然后用相位计比较SC16光线示波器输入输出信号的相位关系。本方法简单易行,适合于生产厂家用于产品的检测。     

基于AT89C52单片机的容栅传感器测距系统

根据容栅传感器的检测原理,应用单片机对其输出的串行信号进行处理。设计了一套以AT89C52单片机为核心的容栅传感器测距系统,该系统通过将容栅传感器输出的串行信号转换成并行信号的方法,方便地实现单片机对容栅传感器输出信号的处理。该硬件结构简单,工作可靠,有良好的测量精度和灵敏度。文中阐述了容栅传感器的输出信号与该测距系统的硬件电路构成、工作原理及软件设计方法,并提出了一些改善系统的建议和方法。     

MT-Ⅲ型系列仪表及其在电站中的应用(二) 转换组件

转换组件能将频率信号、功率信号、位移信号等按一定标准转换成电压信号;或者将电压信号转换成频率信号。这类组件是控制系统的重要输入部件。下面分别介绍其中几种主要的转换组件。频率/电压转换组件ZDZY-6000 ZDZY-6000转换组件是实现频率/电压转换的功能组件,其输出的直流电压与输入信号的频率呈线性关系。与一次测信头配合可用于测量电网的频率或旋转机械的转速。     

一种改进的全数字化锁相环在光栅位置检测中的应用

全数字锁相环(ADPLL)应用广泛,但是在检测领域应用不多.为此,介绍了将一种改进的全数字化锁相环应用于光栅位置检测中的方法.该方法先将光栅传感器的输出信号进行相应调制预处理,再送入全数字锁相环中进行倍频细分,这样既避免了传统锁相环细分方法的缺点,又有细分数高,调节方便,捕捉范围宽的优点.     

圆光栅增量式光电轴角编码器性能自动检测方法

本文提出了一种对圆光栅增量式光电轴角编码器精度及性能参数进行快速、自动、动态检测的方法，对编码器在各转速范围内输出信号的主要参数如分度精度、频响特性、正弦性、正交性、每转信号周期数、脉冲信号占空比等的检测、评定作了介绍。     

双波长集成光栅干涉微位移测量方法

介绍了一种基于双波长激光的集成光栅干涉位移检测方法,利用该方法对硅-玻璃键合工艺制作的集成光栅位移敏感芯片进行了测试实验。实验系统主要由敏感芯片、波长为640nm和660nm的双波长半导体激光器、双光电二极管及检测电路组成,敏感芯片则由带反射面的可动部件和透明基底上的金属光栅组成。入射激光照射到光栅上产生衍射光斑,衍射光的光强随可动部件与光栅之间的距离变化,通过分别测量两个波长的衍射光强信号并交替切换选取灵敏度较高的输出信号,实现了一定范围内的扩量程位移测量,并得到绝对位置。实验结果表明,利用双波长集成光栅干涉位移检测方法测得敏感芯片可动部件与基底光栅的初始间隙为7.522μm,并实现了间隙从7.522μm到6.904μm区间的高灵敏度位移测量,其噪声等效位移为0.2nm。