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耦合去耦网络被广泛用于电磁兼容射频传导抗扰度试验,阻抗是其校准的关键参数。为了测量耦合去耦网络的阻抗,适配器被用于连接矢量网络分析仪和耦合去耦网络的受试设备端。目前国内校准实验室普遍没有考虑到适配器对矢量网络分析仪自校准质量的影响,导致高频段阻抗模值测量结果偏差较大。因此,分别基于实验和理论计算原理,设计了同轴转换自校准法和电长度补偿计算修正法用于改善阻抗测量结果。数据表明,上述方法较好地减小了适配器的负面影响,对测量结果起到了改善作用。 相似文献
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本文详述片式电感器电器参数(射频工作频率下电感量和Q值、固有谐振频率、射频等效串联电阻等)的校准方法、测量夹具和误差修正。频率范围为100kHz~100MHz时所采用的谐振技术及方法已被实验验证并作为我国射频Q值标准推行[1]。100MHz至2GHz频段采用射频电流/电压测量技术及专门设计的连接夹具已在国外成熟应用,文中也作简要介绍 相似文献
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一、基本原理在电磁兼容试验中有两种类型的网络 ,即人工电源网络和耦合去耦网络。人工电源网络 ,又称线路阻抗稳定网络 ,能在射频范围内 ,在受试设备端子与参考地之间 ,或端子之间提供一稳定阻抗。同时将来自电源的无用信号与测量电路隔离开来 ,而仅将受试设备的干扰电压耦合到测量接收机输入端。耦合去耦网络是由各种电感组成 ,以便在测量频段内产生高阻抗隔离。使用HP阻抗分析仪 ,可以对人工电源网络和耦合去耦网络进行阻抗测试。测试原理图见图 1:图 1 阻抗测试原理图下面主要介绍一下CDN耦合去耦网络的阻抗测试 :如图 1所示 ,阻… 相似文献
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利用改进的同轴线传输/反射法测量材料的射频电磁参数 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了传输/反射法测量射频介质参数(复介电常数(εr=ε′r-jε″r=ε′r-jσ/ω·ε0)和相对复数磁导率(μr=μ′r-jμ″r))的基本原理;对Nicolson算法中的厚度谐振、多值性和相角跳变等问题进行了深入分析,并提出了改进方案.利用网络分析仪的扫频技术解决了多值性的问题.文章利用矢量网络分析仪和同轴夹具组成的测试系统对聚氯乙烯、聚丙烯、聚甲醛、铁氧体及介电型吸波材料的电磁参数进行了测算,对空气间隙、试样长度和S参数等误差影响因素进行了分析.文章还利用两个系列的同轴夹具(Ф16mm/Ф7mm和Ф7mm/Ф3.05mm).对几种常用电介质材料进行了测算,对同轴传输线高次模对测试频率范围的影响规律进行了探索.本文为研究电工电子功能材料在高频应用场合下的储能特性和损耗特性奠定了基础. 相似文献
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采用HP-8510B微波矢量网络分析仪测试了超细SiC、SiC晶须和纳米SiC的电磁参数,并对三者的电磁参数进行了比较,结果表明粒径较小的纳米SiC的电磁参数在大部分所测试频段上均高于其余二者.根据电磁波传输线理论计算了3种SiC吸收剂的反射率曲线,发现纳米SiC的吸波性能明显优于超细SiC和SiC晶须.纳米SiC吸收剂的吸收峰随着厚度的增加而增大,谐振频率随着厚度的增加而向低频转移.纳米SiC吸收剂在涂层厚度为5.0mm时,吸收峰值可达-8.45dB,谐振频率为7.12GHz,小于-5dB的频宽为1.8GHz. 相似文献
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含损耗介质和谐振子复合材料的电磁参数测定与反射系数计算 总被引:6,自引:1,他引:5
制备了一种含损耗介质和谐振子的环氧树脂基微波吸收复合材料,在8.2~12.4GHz频率范围内作了复合材料的电磁参数测试.结果表明:这种复合材料的磁损耗很小,主要损耗机制是介电损耗.由传输线等效电路模拟吸波复合材料,根据输入阻抗计算电磁波反射系数,给出了功率反射系数计算的BASIC程序.并把计算结果与扫频测试结果作了对比.对比结果表明:理论计算与实测的功率反射系数随频率的变化规律基本一致. 相似文献
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Borsero M. Vizio G. Parena D. Teppati V. 《IEEE transactions on instrumentation and measurement》2007,56(2):271-274
This paper describes the main features of the time-domain reflectometry (TDR) measurement technique and, in particular, the TDR analysis performed using a proper operating mode of the vector network analyzer (VNA), which is called synthetic TDR. Furthermore, some results of reflection measurement, which aim to characterize the impedance behavior of transverse electromagnetic (TEM) and gigahertz TEM cells by means of a commercial VNA in time-domain mode, are presented 相似文献
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Williams W.K. Compton R.C. Rutledge D.B. 《IEEE transactions on instrumentation and measurement》1988,37(1):95-100
A microwave measurement system has been developed that combines a personal computer (PC) and an conventional vector network analyzer to yield a full complex-error-corrected automatic network analyzer. The system consists of a Hewlett-Packard HP 8410C network analyzer, an HP 8350B sweep oscillator, and an IBM PC. A program called Elf runs on the PC, performing calibration and measurement algorithms and providing a flexible, menu-oriented user interface. The system, when calibrated, achieves a worst-case measurement error vector of magnitude ⩽0.02 for transmission and reflection coefficient measurements over the 2-12.4-GHz frequency range and has a measurement speed of three frequency points/s. Elf provides an inexpensive method for upgrading the HP 8410 to achieve the high accuracy of an automatic network analyzer 相似文献
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通过对AV3620型矢量网络分析仪工作原理的研究,列举了该型号矢量网络分析仪主机、信号源、耦合器的常见故障及其维修方法,完成关键部件的维修。 相似文献
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主要介绍用于进行电路阻抗分析、匹配网络设计的Smith阻抗图。Smith阻抗图是分析待测器件反射系数、驻波比和阻抗的重要工具,并且常用于矢量网络分析仪中。重点叙述了Smith阻抗图的基本原理、VC的图像处理和在VC环境下绘制Smith阻抗图的方法,并说明了如何在Smith阻抗图中找到某个特定高频电路的负载阻抗。 相似文献