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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 526 毫秒
1.
边界扫描测试系统的以太网接口设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
将边界扫描测试技术应用于远程测试,可实现仪器设备的远程测试与故障诊断。研制了一种边界扫描测试系统的以太网接口设计方案,采用C8051F021单片机可编程外部存储器接口与网络接口芯片RTL8019实现总线连接,提高了RTL8019的访问速度,设计了网络接口电路和硬件底层驱动程序,并组建基于网络的边界扫描测试系统硬件平台。通过测试验证,测试结果表明,该以太网接口可以很好地完成网络数据通信,使测试系统具有远程测试功能,提高了边界扫描测试技术的应用价值。  相似文献   

2.
本文介绍了利用VXI总线技术组建的模拟电路ATS,它针对模拟电路PCB功能测试和故障诊断的特点,综合了多种自动测试方法,作为陆军电子装备ATS的一个子系统,较好地解决了模拟电路PCB的测试问题,实际应用效果良好。  相似文献   

3.
本文分析了传统在线测试仪的优点和面临的挑战,介绍了现代在线测试系统所添加的几种补充测试技术:制造缺陷分析,功能分析及非向量测试技术,并指出目前在线测试仍是印制板(PCB)的重要测试技术,不可替代。  相似文献   

4.
频域内的非线性模拟电路故障诊断   总被引:2,自引:1,他引:1  
利用Volterra级数分析非线性模拟电路核函数的结论,分析了测试节点输出响应信号各阶频率分量相对于电路中元件参数的灵敏度,从而确定被测电路的故障诊断算法.为了提高灵敏度计算的效率,本文分析了灵敏度计算时非线性元件高阶项对测试节点输出响应信号各阶频谱分量的直接影响因素和间接影响因素,从而避免了两者之间的耦合而增加灵敏度的计算量.实际应用电路的分析结果表明本文介绍算法不仅极大的降低了灵敏度分析的计算量,可广泛应用于非线性模拟电路的自动测试系统.  相似文献   

5.
龚铭  朱杰 《电子测量技术》2007,30(7):5-6,10
TOFD技术作为一种缺陷检测与定量的方法在无损探伤领域得到了广泛的应用。为了提高TOFD扫描图像中缺陷信号的可识别性,达到精确检测和定位的目的,本文提出了将图像处理中的边缘检测算子引入TOFD扫描图像的方法。在对TOFD技术和边缘检测算子进行简要介绍之后,本文进行了将Sobel算子、高斯—拉普拉斯算子等应用于TOFDD扫描图像识别中的实验。实验结果表明,边缘检测成功地识别了TOFD扫描图像中的衍射波信号,可以提高TOFD检测的精确性。  相似文献   

6.
杨卫 《江苏电器》2009,(9):50-53
IDDQ测试是一种新的集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期失效器件。介绍了一种新型的IDDQ开路和短路测试方法;利用模拟开关和简单的电流源并利用带A/D模块的MCU组成一个开路和短路测试电路。该方法既节省成本,又能实现简单的智能学习。  相似文献   

7.
在IEEE1149.1标准中,边缘扫描描述语言(BSDL)描述了边缘扫描寄存器的长度和结构、指令的二进制代码及器件标志代码等.本文利用PCI1149.1控制器,根据所给定的任意一个边缘扫描器件的BSDL文件,构建了边缘扫描测试软件平台,重点描述了互连线故障测试过程中向边缘扫描单元(BSC)预装测试矢量序列和提取响应序列的方法.  相似文献   

8.
基于单片机的FPGA/CPLD测试接口板设计   总被引:6,自引:2,他引:4  
文中介绍了一种基于单片机的FPGA/CPLD测试接口板,通过该测试接口板将计算机与FPGA/CPLD的数字单元电路连接,可以在计算机上比较和分析数字单元电路的输入和输出,从而测试其电路性能。  相似文献   

9.
为了便于对移动通信设备中射频前端模块进行生产测试,本文设计了一种基于I2C总线协议的通用测试适配器,主要功能是对从计算机上发出的测试控制信号和从待测模块器件发出的状态信号进行数据格式转换和电平匹配.该方案利用微控制器实现主控制器与各测试节点之间的数据交换.为了实现不同通信接口之间的正常通信,本文设计了结构简单但功能完善、性能可靠的接口匹配电路和直流电源转换电路.最后针对一种带有数字控制板的射频低噪声放大器(LNA)系统,简要介绍了该适配器的应用,实践证明了该设计方案的可行性和灵活性.  相似文献   

10.
本文针对集成电路测试应用时间长,导致测试费用高的问题,提出了用有限扫描操作代替全扫描操作的有限扫描集成电路测试生成方法.通过将扫描输入端、扫描选择端和扫描输出端视为电路通用输入输出端,消除了测试生成过程中扫描操作与测试应用向量之间的差别,同时在扫描操作周期和功能时钟周期上检测故障响应,有效降低了测试时钟需求,在相同故障覆盖率下,明显缩短了测试应用所需时间.基准电路实验结果表明,本文提出方法所需测试应用时间仅为传统方法的50%左右.  相似文献   

11.
系统级边界扫描测试系统的设计与实现   总被引:5,自引:1,他引:4  
模块测试与维护总线(MTM-Bus)给层次化边界扫描测试技术提供了方便。本文简要介绍了MTM-Bus原理及应用,论述了系统级边界扫描测试系统的结构与设计,通过FPGA实现了MTM-Bus主、从模块控制器,构建了测试系统,并设计了测试系统软件。通过测试验证,表明系统工作稳定,关键技术通用性强,能够准确地进行故障诊断和定位。  相似文献   

12.
Miniaturization trends in integrated circuit (IC) technology have caused many testing problems. As bigger packaged ICs with higher pin counts are more densely packed onto a printed circuit board (PCB), accessing an IC's pins is harder. No longer are the pins mechanically accessible to probes or a bed-of-nails fixture. Therefore, determining which IC or interconnect is faulty is difficult or impossible. Because each IC's input pins cannot be controlled, and each IC's output pins cannot be observed. The boundary scan method was developed with the goal of improving this controllability and observability problem. A shift-register is included next to each IC pin so that input and output values can be serially shifted in and out. This reduces the need to use probes to control and observe. Also, the output of each IC's scan register can be connected with the input of another IC's scan register. This effectively creates one big scan chain per PCB, further reducing points that must be mechanically probed. The inclusion of a scan-register on each IC allows: 1) the observation of each IC during normal operation; 2) the test of interconnects between ICs, and 3) the isolation of the IC from others so it can test itself. The IEEE Standard 1149.1 Test Access-Port and Boundary Scan defines the test logic for implementing a boundary scan test architecture. Example circuits were designed in CMOS. A boundary scan cell is described  相似文献   

13.
针对某两型出口雷达“D”级维护保障系统,详细描述了该两型雷达综合测试系统的设计与实现.该系统由5种测试台、辅助设备、电站和维修备件组成,测试台包括混合电路测试台、DSP电路测试台、RF/IF电路测试台、T/R组件测试台及电源测试台.该系统基于GPIB总线、PXI总线及网络化结构,参照IVI技术规范,开发仪器通用驱动库,各测试台共用同一个软件平台,测试程序与测试数据分离,实现了测试数据、执行逻辑、执行界面、开发界面的模块化.该系统可进行2种型号雷达各分系统电路板(共计129个品种)的故障检测和故障隔离.雷达测试系统联试实验验证了该系统的有效性和工程实用性.  相似文献   

14.
随着芯片集成度和PCB电路板布线密度的不断提高,电路板的功能和结构日益复杂,当前公司的电路板测试系统不能满足公司生产电路板的测试需求。为解决本公司生产部门关于电路板测试环节对操作人员知识和技能要求高、测试时间长、人工成本高、测试不全面不准确等常见问题,研发了基于TestStand的自动测试程序,完成了硬件平台的搭建以及程序的试验验证。实际应用表明,本测试程序能够可靠稳定地完成电路板测试任务,而且操作系统简单、兼容性高、灵活性好,对操作人员的技术水平要求低,有效提升了电路板产品的测试精度与测试效率,同时也对本公司产品开拓市场起到了至关重要的作用。  相似文献   

15.
阻抗元件在线测试的误差分析   总被引:2,自引:2,他引:0  
计算机和虚拟仪器的发展为PCB在线测试提供了更为灵活的实现方式。针对此种情况,本从阻抗元件在线测试的基本原理出发,通过系统分析和方框图变换,讨论了在线测试的误差来源,建立了适于不同元件参数条件的测试方案,并通过仿真实验予以验证,从而为实际PCB自动测试设备的开发提供了切实的依据。  相似文献   

16.
测试点的选择问题作为模拟电路故障诊断的基础性问题,如何找到数目最少的测试点以隔离电路的所有故障成为研究的重点,常用的测试点选择方法大多为故障字典法.研究发现,如果电路中一种特定的故障只能由一个特殊的测试点进行隔离,那么将这种特殊测试点选出可以大大简化故障字典,然后完成剩余有效测试点的选择和冗余测试点的移除,即可选出最优的测试点集合.这种方法称为特殊测试点隔离算法,通过对比实验,发现该算法很好的平衡了测试点选择中对时间和精度的要求,而且具有更高的效率.  相似文献   

17.
微带电路包含微带线以及电路元件等局部精细结构,采用传统的FDTD方法进行电磁波照射PCB板电磁耦合的全波模拟,因网格剖分得很细,导致网格量大,计算效率低下.将非均匀FDTD方法与多网格集总元件FDTD方法结合起来,形成一种新的FDTD混合算法,模拟了电磁脉冲对带有集总元件微带电路的电磁耦合,能够快速计算得到集总元件上耦合产生的瞬态电压和电流响应.通过与有限积分法软件的仿真结果进行对比,验证了该时域混合算法的正确性,并分析了不同电磁脉冲类型以及微带线线间距对微带电路电磁耦合的影响.  相似文献   

18.
印刷电路板(printed circuit board,PCB)易受到静电放电的危害,继而影响电子产品的正常使用。为了获得PCB的静电放电能量耦合规律,对简化的PCB进行静电放电测试。通过对PCB轨线上的耦合电压的测量,研究了放电位置、轨线特性及放电电压对静电放电电磁场耦合的影响。测试结果表明,放电位置、轨线宽度、长度和端接电阻会影响耦合电压的大小和变化趋势,放电电压和耦合电压呈现良好的线性关系。同时,根据在电磁仿真软件(compilation simulation technology microwave studio,CST-MWS)中建立的全波模型,从仿真的角度进一步论证了测试结果。研究结果对PCB电磁兼容设计具有一定指导意义。  相似文献   

19.
刘涛  张涛 《电子测量技术》2022,45(16):61-70
针对印刷电路板表面面积小而且上面电子器件焊点众多,传统检测方法很难进行有效检测的问题,提出了一种基于GhostNet-YOLOv4的印刷电路板表面焊点检测算法。首先,修改了YOLOv4算法的主干网络以增强特征提取能力,其次加入注意力机制使网络更注重缺陷特征,用GhostNet代替CSPDarknet53作为主干网络。此算法相比于传统的印刷电路板检测算法提高了检测精度和检测速度,可以实现对印刷电路板表面常见的断路、漏焊、短路等缺陷的精确检测和迅速分类。通过对印刷电路板数据集的检测结果分析表明,该改进算法具有较好的实用性,在测试集上的平均精度为86.68%,FPS达到了25.43,可以满足印刷电路板实际检测需求。  相似文献   

20.
本文提出了一种以PC104 FPGA架构为硬件基础的印刷电路板(PCB)的测试方法.在分析Kautz算法的基础上,根据FPGA和PC104的特点,同时采用并行检测与诊断法,快速准确地获取了PCB所有的电气网络.本文研究了在系统中Kautz算法的实现方法,给出了算法的实现步骤.实验表明,该方法是一快速有效的PCB故障检测方法.  相似文献   

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