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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 61 毫秒
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故障现象:一台福日HFC2176型彩电,色彩、行幅、伴音始终正常,但光栅有时被压缩为1cm左右的水平亮带;有时满幅,却在距屏幕上、下边沿10cm处各有一条隐约可见的水平亮线;有时又正常。分析检修:初步判断问题出  相似文献   

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场扫描电路     
胡斌 《电子世界》1995,(7):27-29
  相似文献   

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<正> 近些年来,各类新型大屏幕彩电普遍使用飞利浦公司开发生产的较新型场扫描输出电路TDA8350和TDA8351,常见的系列型号有TDA8350、TDA8351、TDA8351A、TDA8351Q  相似文献   

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本人在《彩电技能训练》的实践教学中发现彩电的场扫描电路出故障率较高,而巧妙使用示波器去检修场扫描电路能快速排除故障。本文以黄河H C3710型彩电机为例,通过对该机型场扫描电路原理进行详细分析及常见故障检修过程,介绍如何巧妙使用示波器检修彩电场扫描电路常见故障的方法。  相似文献   

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本文是以我校用厦华XT-5680R型彩色电视机机型教学为例,在教学过程中,通过对该机型场扫描电路原理进行详细分析及记录常见故障检修过程,并结合本人几年来的维修经验,谈谈彩色电视机场扫描电路常见故障的检修方法。  相似文献   

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陈炳钦 《电子测试》2020,(3):53-54,10
本文深入探究电子电路障碍检测技术出现故障的原因,对电子电路故障的检测技术实施具体分析。  相似文献   

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行扫描电路能够为行偏转线圈提供符合显示方式要求的行频锯齿波电流,行逆程变压器可以将行逆程期间产生的脉冲电压转换为显像管需要的阳极高压、加速极电压和聚焦极电压和视放电路所需要电压。这部分电路是整个显示管中除电源外,电压最高功率最大的电路,同时也是故障率最高最难维修的电路。通过采用对行扫描振荡级、激励级和输出级的工作过程理论分析,和用示波器对波形进行测量,以及用万用表对电压的测试,得出针对调试中可能出现故障的检修方法,最终达到对行扫描电路维修和调试的目的。  相似文献   

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红外电路故障检测系统   总被引:5,自引:0,他引:5       下载免费PDF全文
利用红外热成像技术、计算机图像信号处理技术和电子技术,研制了TIP-Ⅰ电路故障检测仪,可对电路故障进行非接触式检测,检测效率高,使用简便,弥补了传统检测方法的不足.介绍了检测仪的工作原理、系统组成及基本工作过程,解决了确定热像头视场尺寸问题,并利用“渐入渐出”的方法实现热图像的拼接,从而兼顾了热像头的空间分辨率和视场尺寸,得到令人满意的电路热图像,便于故障诊断.经鉴定测试和实际使用,对电路故障的诊断率很高,为该检测仪的小型化、实用化奠定了基础.  相似文献   

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闵剑  余菲  梁蓓 《电子器件》2011,34(3):303-306
为了提高显示屏的成品率,降低成本,提出了AMOLED屏上行驱动电路的一种设计方案,以PMOS-TFT为行驱动电路的结构.该电路由阵列扫描控制电路构成,每个阵列扫描控制单元由2个时钟信号控制,并包含5个PMOS-TFT.通过HSPICE的仿真,结果得出电路的仿真结果与分析结果一致,验证了电路功能的正确性.  相似文献   

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光电二极管可以将光信号转化为电信号,它主要是通过半导体PN结的光电效应来实现这一转化步骤的.通过光电二极管对电路的噪声进行检测具有重要意义,就主要分析光电二极管对电路的噪声检测的价值,同时简单的分析相关的电路设计问题,希望所得结果能够为相关领域提供有价值的参考.  相似文献   

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中波调幅发射机发生包络输出信号畸变时,将引起传送的广播节目出现失真、可听度下降等问题。为避免以上情况的发生,DAM-10KW中波发射机设计了完备的包络检测电路,一旦发射机出现较为严重的包络畸变,该电路能及时提醒值班人员采取措施,确保安全播出。  相似文献   

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It is often stated that in irredundant two-level logic circuits, a test set for all single stuck faults will also detect all multiple stuck faults. We show by a simple example that this result does not hold for multi-output circuits even when each output function is prime and irredundant. Using a result from the programmable logic array technology, we give an output ordering constraint that, if satisfied during test generation, will make a single stuck fault test set a valid multiple stuck fault test set for irredundant two-level multi-output circuits.  相似文献   

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杨旭  郑冰  葛东林 《电子测试》2014,(20):103-105
分析了电子电路的故障诊断基本技术。包括电子电路故障的分类,复杂设备无耗损区规律,设备全寿命故障率递减规律,常用模拟电路故障诊断的方法,数字电路故障测试基本技术等。  相似文献   

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