《电子测量技术》简介

正《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品应用,以促进电子测量技术的发展和进步。作为国内第一本专注于电子测量领域的杂志,为了《电子测量技术》更好地发展,希望大家能够积极踊跃投稿。本刊征集:测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入式技术、通讯技术、DSP、EMC/EMI测试、纳米测试、虚拟仪器技术、基于总线的测试、集成电路测试、在线测试与故障诊断、计算机在测控系统中的应用、软件工程、网络技术、可编程器件在测控系统中的应用、微处理器应用,以及测试测量技术在航空航天、机械电子、医疗、智能家电和汽车电子等领域的应用等方面的研究或应用论文。     

《电子测量技术》简介

《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品应用,以促进电子测量技术的发展和进步。作为国内第一本专注于电子测量领域的杂志,为了《电子测量技术》更好地发展,希望大家能够积极踊跃投稿。本刊征集:测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入式技术、通讯技术、DSP、EMC/EMI测试、纳米测试、虚拟仪器技术、基于总线的测试、集成电路测试、在线测试与故障诊断、计算机在测控系统中的应用、软件工程、网络技术、可编程器件在测控系统     

《电子测量技术》简介

正《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品应用,以促进电子测量技术的发展和进步。作为国内第一本专注于电子测量领域的杂志,为了《电子测量技术》更好地发展,希望大家能够积极踊跃投稿。本刊征集:测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入式技术、通讯技术、DSP、EMC/EMI测试、纳米测试、虚拟仪器技术、基于总线的测试、集成电路测试、在线测试与故障诊断、计算机在测控系统中的应用、软件工程、网络技术、可编程器件在测控系统中的应用、微处理器应用,以及测试测量技术在航空航天、机械电子、医疗、智能家电和汽车电子等领域的应用等方面的研究或应用论文。     

《电子测量技术》简介

《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,致力于加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品的应用,以促进电子测量技术的发展和进步。本刊为半月刊,每月15日、30日出版。作为国内第本专注于电子测量领域的杂志,现征集:测试测量的理论基础、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入式技术、通信技术、DSP、EMC/EMI测试、纳米测试、虚拟仪器技术、基于总线的测试、集成电路测试、在线测试与故障诊断、计算机在测控系统中的应用、软件工程、网络技术、可编程器件在测控系统中的应用、微处理器应用,以及测试测量技术在航空航天、机械电子、医疗、智能家居和汽车电子等领域的研究或应用论文。欢迎大家积极踊跃投稿。     

2009中国仪器仪表与测控技术大会会议通知

由中国仪器仪表学会主办,《仪器仪表学报》、哈尔滨工业大学、《电子测量与仪器学报》、《国外电子测量技术》、《电子测量技术》杂志社联合承办的"2009中国仪器仪表与测控技术大会"将于2009年7月23～26日在哈尔滨举办。本次会议旨在促进我国仪器仪表与测控技术的发展,加快测试测量新理论、新方法、新技术的应用与推广,推进本行业产、学、研合作与交流。     

《电子测量技术》简介

《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品应用,以促进电子测量技术的发展和进步。作为国内第一本专注于电子测量领域的杂志,为了《电子测量技术》更好地发展,希望大家能够积极踊跃投稿。本刊征集:测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入式技术、通讯技术、     

《电子测量技术》简介

《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品应用,以促进电子测量技术的发展和进步。作为国内第一本专注于电子测量领域的杂志,为了《电子测量技术》更好地发展,希望大家能够积极踊跃投稿。本刊征集:测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入     

泛华测控推出柔性测试技术，开拓测试测量新时代

近日,北京中科泛华测控技术有限公司宣布推出一种面向应用和系统、实现完整测试解决方案的技术——柔性测试技术。这一全新概念进一步理清了面向应用的测试系统概念,明确了测试测量技术的发展方向。     

泛华测控推出柔性测试技术

北京中科泛华测控技术有限公司推出一种面向应用和系统、实现完整测试解决方案的技术——柔性测试技术,进一步理清了面向应用的测试系统概念,明确了测试测量技术的发展方向。     

《电子测量技术》简介

正《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品应用,以促进电子测量技术的发展和进步。作为国内第一本专注于电子测量领域的杂志,为了《电子测量技术》更好地发展,希望大家能够积极踊跃投稿。本刊征集:测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、     

泛华测控推出柔性测试技术

生产商：泛华北京中科泛华测控技术有限公司宣布推出一种面向应用和系统、实现完整测试解决方案的技术柔性测试技术。这一全新概念进一步理清了面向应用的测试系统概念,明确了测试测量技术的发展方向。     

聚焦航空航天测控技术新发展研讨会在2014成都电子展成功举办

正2014年7月11日,由中国电子器材总公司、中国电子学会、中国电子仪器行业协会主办,中国电子学会电子测量与仪器分会、中电会展与信息传播有限公司、《国外电子测量技术》承办的2014中国(成都)电子展系列活动之第二十届国际电子测试与测量专业研讨会——聚焦航空航天测控技术新发展在成都世纪城新国际会展中心成功召开。     

柔性测试技术迎来测试测量新时代

层出不穷的新技术不断满足着新的测试需求,也使测试测量行业不得不面对新的挑战.为了满足日益变化和发展的应用对测试系统的更高要求,北京中科泛华测控技术有限公司提出了柔性测试技术的新理念.柔性测试概念的诠释,进一步理清了面向应用的测试系统概念,测试测量技术的发展方向也为之更加明确.     

2009中国仪器仪表与测控技术大会征文通知

由中国仪器仪表学会主办,《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、《国外电子测量技术》、《电子测量技术》杂志社联合承办的“2009中国仪器仪表与测控技术大会”将于2009年7月23～26日在哈尔滨举办。本次会议旨在促进我国仪器仪表与测控技术的发展,加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用与推广,推进本行业产、学、研合作与交流。     

2009中国仪器仪表与测控技术大会会议通知

由中国仪器仪表学会主办,《仪器仪表学报》、哈尔滨工业大学、《电子测量与仪器学报》、《国外电子测量技术》、《电子测量技术》杂志社联合承办的“2009中国仪器仪表与测控技术大会”将于2009年7月23-26日在哈尔滨举办。本次会议旨在促进我国仪器仪表与测控技术的发展,加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用与推广,推进本行业产、学、研合作与交流。     

2007’中国仪器仪表与测控技术交流大会通知

为了进一步促进现代测控技术和仪器仪表的发展，加快该领域科研成果的推广、移植和转化的步伐，给业内人士提供一个面对面交流、探讨，推动技术进步，拓展业务合作的机会，中国仪器仪表学会、电子科技大学、北京自动化学会、《仪器仪表学报》、《计量学报》、《国外电子测量技术》与《电子测量技术》联合决定2007年6月6日在成都举办“2007’中国仪器仪表与测控技术交流大会”，此次会议主题为：“技术驱动应用”。     

《电子测量与仪器学报》征稿启事

《电子测量与仪器学报》是经国家科委批准,由中国科协主管,中国电子学会主办的国内外公开发行的国家级学术刊物。《电子测量与仪器学报》自1987年创刊以来,始终以出版一种在本专业范围内具有引领作用,充分展现新颖性、参考性和可读性的中文学术期刊为己任,面向致力于本专业科学研究的专家、学者和技术开发的工程技术人员,探讨新的测试理论和方法,交流新的测试仪器和测试系统的设计与应用,目标是成为他们的良师益友。     

2005年测控、计量、仪器仪表学术年会将于9月召开

由中国电子学会电子测量与仪器分会、中国计量测试学会国外仪器技术专业委员会、中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会及《电子测量与仪器学报》杂志社承办组织的2005年测控、计量、仪器仪表学术年会（MCMI’2005）定于2005年9月25至29日在湖北省宜昌市召开。同时召开的还有以上三个二级分会的工作会议和学报编委会会议。     

脚踏实地 泛华16年的华丽转变 坚持不懈 永恒的技术创新之路——访北京中科泛华测控技术有限公司、北京泛华恒兴科技有限公司董事长左毅先生

＂柔性测试＂技术是以虚拟仪器技术为核心,集测试测量技术、机电一体化技术、软件技术、通信及网络技术等于一身,专注于研究测试测量系统整体功能及性能的专业测控技术。它是对测试测量系统的精确性、可靠性、灵活性、适用性和扩展性的不断追求,为用户提供充分满足其需求的、可信赖的系统。它既面向应用,又专注于测试行业,旨在推动现代测试技术在实际应用中的快速发展。     

2008’中国仪器仪表与测控技术交流大会暨仪器仪表与测控技术进展报告大会会议通知

为进一步促进我国仪器仪表与测控技术的发展，加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用与推广，推进本行业产、学、研的合作与交流。由中国仪器仪表学会和《仪器仪表学报》、《国外电子测量》、《电子测量技术》杂志社联合，报请中国科协批准与资助，每年举办一届“中国仪器仪表与测控技术交流大会”。首届会议于2007年6月在成都成功举行，张钟华院士、高洁院士、杨士中院士等我国仪器仪表与测控技术领域的著名专家、学者出席会议和作专题报告，国内外多家知名企业给予大力支持，会议规模300余人。