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介绍了纹波电流对铝电解电容器的寿命影响,分析了影响铝电解电容器耐纹波电流能力的因素,通过选用高品质材料、改进芯组结构及制造工艺来提高铝电解电容器的耐纹波能力. 相似文献
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《电子元件与材料》2002,21(7):41-41
影响铝电解电容器寿命的主要因素是工作环境温度。在纹波电流可以忽略不计的情况下,铝电解电容器的寿命可用阿列纽斯方程(Arrhenius?equation)推算: L = L0 ?2{ (T0 - T)/10} (1) 式中:L为在温度T下的寿命;L0为在温度T0下的寿命。 这里,未考虑降低电压对寿命的影响,它与温度对寿命的影响相比可以忽略不计。 若纹波电流较大,必须考虑它对电容器的影响。因为内部损耗(ESR)会产生热。所产生的热量可用下式推算: P = I 2 R (2) 式中:I为纹波电流(rms);R为ESR。 随着电容器温度的增加: DT =… 相似文献
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铝电解电容器耐纹波电流探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
随着电子设备的发展,对铝电解电容器耐纹波电流能力的要求越来越高。从材料选择、电容器发热原因、散热途径等多方面对提高铝电解电容器耐纹波电流能力进行了分析;对电容器最大纹波电流的测试及其额定纹波电流的确定作了一定的说明。 相似文献
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CDS型双极性铝电解电容器具有无极性、低损耗、耐高温、耐高纹波电流等特性。介绍了105℃长寿命型及耐纹波电流型的设计原理、关键制造技术。产品性能达到国外同类产品水平。 相似文献
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开关电源用铝电解电容器的失效机理探讨 总被引:2,自引:0,他引:2
研究彩色电视机早返机开关电源用铝电解电容器失效现象及其失效机理,并针对开关电源如何选用铝电解电容器,提出了增加电容器CV积、增强耐纹波能力等建议措施,以减少铝电解电容器在产品中的早期失效。 相似文献
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<正> 用于开关电源输入端滤波电路的铝电解电容器必须具有承受高纹波电流的能力。铝电解电容器在脉动电路中使用时,往往由于发热而使其承受纹波电流的能力降低。因 相似文献
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文章分析了铝电解电容器等效串联电阻对产品性能的影响,讨论了等效串联电阻的构成及其影响因素,阐述了铝电解电容器生产中控制等效串联电阻的对策,推出了一种改进的铆接工艺,能够有效降低、稳定电极箔与引线间的铆接接触电阻。 相似文献
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采用温度作为铝电解电容器寿命加速因子,通常根据“10℃法则”或“7℃法则”计算。作者通过对63V-47μF铝电解电容器在四种不同温度下的负荷试验(+85℃、+95℃、+105℃、+115℃)后对数百只样品、数万个测量数据进行了处理分析。认为单纯地使用“10℃法则”或“7℃法则”不能准确地描述温度加速因子。作者结合铝电解电容器的结构,分析了铝电解电容器的失效因素,给出了负荷试验中温度与铝电解电容器寿命的关系。 相似文献
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首先,分析了雷达发射电源输入整流滤波电路的特点;然后,对比分析了铝电解电容与薄膜电容在发射电源输入整流滤波电路中应用的优缺点;最后,通过实验对比了两种电容器在电路中的性能参数。实验部分通过完全替代和部分替代两种方式研究了薄膜电容替换铝电解电容后对发射电源输入整流滤波电路的影响,并分析了这两种方案与传统的铝电解电容的优缺点。实验结果表明:在发射电源输入整流滤波电路中,相比于铝电解电容,薄膜电容具有耐高压、损耗小、寿命长等特点。 相似文献
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在计算机CPU的电源电路中,采用电解电容器作为电源的去耦电容。研究了CPU的负载高速变化时,三种类型电容器提供瞬时电流以稳定电源电压的情况。结果显示:PA-Cap聚合物片式叠层铝电解电容器(56μF)的Res为23mΩ,△V为–90mV,而220μF钽电容Res为73mΩ,△V为–172mV,1000μF液体铝电解电容Res为56mΩ,△V为–232mV。因此,PA-Cap聚合物电容器用在开关电源和数字电路中应用前景广阔。 相似文献
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为满足铝电解电容器的缩体要求,对比研究了使用6种电解纸制作引线式缩体105℃400V68μm铝电解电容器(φ18 mm×25 mm)时的电容器芯包外径、芯包短路、芯组浸渍、一次老化合格情况以及电解纸对电容器电参数和可靠性的影响。结果表明,使用总厚度为60μm的W165-40和W180-20电解纸,并调整浸渍工艺,可使产品具有良好的性价比。 相似文献
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铝电解电容器技术的新进展 总被引:3,自引:3,他引:0
详细讨论了电子技术的发展对铝电解电容器的性能要求,提出了其技术对策,分析了存在的技术瓶颈,找出了它的技术出路,探讨了它的技术难点,给出了当前我国铝电解电容器行业的技术现状,指出了未来发展方向。 相似文献