相位噪声谱密度测量

本文叙述了以相位噪声谱密度测量频率源稳定度的优点和测量相位噪声的理论基础。推导了有关谱密度计算公式,讨论了以电压表测量噪声的读数修正原因。介绍了测试仪器制作情况,和测量相位噪声的方法及计算方法。还对50Hz及其谐波干扰作了实验比较。     

一种实用的“保持”电路

测量噪声时,经常要测量变化声级的最大有效值。例如,测量交通噪声时,就要测量行驶中的车辆噪声的最大有效值。为使测量时读数方便,要求声级计具有最大有效值“保持”功能。本电路就是为了使声级计具有“保持”功能而加在其表头电路里的一种经济、实用的电路,称为“保持”电路。“保持,电路由一个运算放大     

三点法噪声测试系统

三点法噪声测量系统可直接测定各种固态器件的噪声电流谱密度或电压谱密度。与传统的正弦波法和噪声发生器法比较,大部分系统本身噪声可被分离而扣除,因此可测噪声下限低、精度高。而且不必知道测试系统的系统增益,对它的频率响应和输入阻抗亦无严格要求,无需对输出读数进行修正,也不需要在低频范围难以获得的白噪声发生器。这样可提高噪声测量的准确度。实验证明测量结果的精度优于传统的测量方法,本系统特别适用于低噪声的红外探测器的噪声测量。     

电子测量仪器

智能化图示仪面世　查询号２６３北京无线电仪器厂集多年研制图示仪的经验，直接采用ＰＣ控制研制成功ＢＪ４８１３型半导体管特性图示仪，使国内在图示仪智能化的研制上取得突破性进展。该仪器最大输出电压１，０００伏，最大输出电流５安，具有双游标定点读数、ＤＭＡ方式数据传输、１０组预定测试条件、菜单操作方式及打印输出等功能。双游标定点读数技术可在曲线任意点上读出该点的电压、电流及β值，使测试结果更加准确。对管的测试选配上，传统的方式是利用特性曲线靠观测来判定，误差较大，而该仪器则是根据样管和选配管两组曲线的参…     

冲击波超压测试系统U盘读数盒的设计

针对野外环境进行的冲击波测试读数和擦除操作繁琐的情况,为了提高冲击波超压测试的效率,提出自带电源、带有擦除功能的U盘读数盒的设计 。该读数盒通过USB控制芯片CY7C68013的GPIF接口与测试装置通信并向测试装置发送时钟信号和控制信号,将Flash中的数据暂时读入到其内部FIFO中。然后通过68013内部增强型8051单片机控制U盘文件管理芯片CH376S将数据存入到U盘中,实现对测试装置的U盘读数。通过现场实验证实,该读数盒可以简化野外冲击波测试繁琐的操作,提高冲击波测试的效率。     

高质量信号源相位噪声精密测量用的测试装置

本文介绍的测量装置,能测量离1到500兆赫载频20赫到50千赫频率内的相位噪声的谱密度。本文只讲述到50兆赫的测量情况。测量装置的剩余单边带相位噪声功率与信号功率之比,在离载波20赫时为-142分贝/赫,离载频大于5千赫时减小到背景噪声-172分贝/赫。除去观测时相位起伏高斯分布引起的随机读数误差。可达到的计标校准精度为±0.8分贝。计标的16测量重复性为0.7分贝(测试中百分之七十的观测,都在平均值±0.7分贝以内)。这种测试装置能够表征现有原子频率标准、晶体振荡器、频率合成器及比以前更精密的高质量源的相位噪声特性。能把读数起伏减到最小的系统设计,可进一步提高精度,从而可以把减小系统误差所用的校准系数测得更准,将操作错误和偏差的可能性减到最小。     

无闪烁噪声分量的白噪声发生器

白噪声发生器生成不同频率下输出功率密度恒定的频谱图。 这类发生器适用于低频响应较大或是有直流响应的测试电路。但是,由于存在粉红噪声（或称闪烁噪声）,使频率范围延伸到几赫兹甚至更低的白噪声发生器变得十分复杂。半导体元件产生的噪声总是带有特征性的粉红噪声，即其输出功率密度幅值随频率降低而升高，转折频率为几十赫兹到几千赫兹。高阻值的电阻会产生带有自身闪烁噪声分量的噪声，噪声分量的值和特性随电阻制造技术的不同而发生变化。     

电感测试仪

此电路可以利用数字频率计数器来测试0.1μH～2000μH的电感值,其精度误差在5％以內。该读数经简单计算或先作出图表查表可求得真实电感值。 工作在3.5～4MHz的RF振荡器经缓冲后送计数器,当测试端Lx短接时,其测试结果是振荡器的固有频率.当接入未知电感时,增加了总电感值使得振荡频率变低,该数据可经计算求得未知电感,C是已知的。接收器     

He-Ne激光器的噪声

我们建立了微机控制的He-Ne激光器噪声测试系统(RMS值,0～1MHz,测试分辨率1μV,噪声本底10μV,测试精度高于5％),全面测试了国内17个厂家的58支激光器的噪声,并进行了分析。 测试结果表明,国内生产的同轴内腔式He-Ne激光器噪声水平〈0.5％,占22.5％;0.5～1.0％,占25.0％;1.0~2.0％,占35.0％;〉2.0％,占17.5％。     

喇叭线的理论、结构和客观评测（下）

四、试验将一只8Ω电阻直接接到ParasoundHCA—1000A晶体管放大器的输出端，待系统预热完毕，使放大器在8Ω电阻上输出2VrmS电压后，测量放大器输出的THD＋N（失真加噪声）与频率之间的关系。然后，将每根被测喇叭线分别依次与8Ω电阻串联起来，再在该电阻上测量THD＋N。结果发现，接上喇叭线和不接喇叭线测得的读数基本上没有差别。遗憾的是，我没有胆管功放用于这些测试。     

JS-8型晶体管中频功率增益测试仪

JS-8型晶体管中频功率增益测试仪是上海无线电仪器厂1966年的新产品.它是专门用来测试小功率中、高频晶体三极管在共发射极组态时的有用功率增益值.由于其测试回路中的输入、输出阻抗分档连续可调并有读数,故通过测试功率增益值也可同时测知被测晶体管的有效输入、输出阻抗值,通过换算也可     

基于CMOS图像传感器的像增强器闪烁噪声测试系统

随着国内像增强器性能的逐步提高，闪烁噪声成为分辨力进一步提升的障碍之一。为了深入分析和研究闪烁噪声的相关特性，筛选性能更好的像增强器并进一步改进生产工艺，设计了一套闪烁噪声测试系统。通过驱动长光辰芯GSENSE400BSI系列低照度CMOS图像传感器，采集像增强器荧光屏上的图像，利用USB接口传输数据至上位机进行图像分析。实验中对像增强器进行测试，得到了相应的闪烁噪声离散系数分布，发现在2.8×10-6 lx照度环境下噪声最为明显，信噪比越高的像增强器整体离散系数越低。利用连通域检测算法，在二值化阈值为100的条件下，三种型号像增强器在连续200张图像中的高亮噪声数量平均值分别为5.18,1.40,0.86，重复性分别为1.26%,3.23%,2.66%，可以将离散系数和高亮噪声数量作为评价像增强器显示质量的指标之一。     

时空域三维结构图象噪声及信噪比测试

微光ＣＣＤ电视系统性能测试是微光成象技术的重要组成部分。本文提出了时空域三维结构图象噪声的测试模型，建立了测试和分析系统，对微光ＣＣＤ电视系统信号和噪声进行测试与分析，并且分别给出了时间域噪声和空间域噪声分布情况的三维曲线。     

高分辨相机传函测试误差分析

文中通过对高分辨相机静态传函测试中误差产生的机理进行分析,提出了相应的测试策略,有效抑制条纹靶标周期偏差、环境振动及图像噪声对MTF的影响。TDI CCD相机的MTF测试值受到条纹靶标周期偏差、环境振动和图像噪声的影响,通过分析上述因素对MTF测量值的影响机理,建立了条纹靶标周期偏差、环境振动和图像噪声对传函的影响模型,并分别提出了针对条纹靶标周期偏差引入的MTF测量值修正方法,以及针对噪声影响提出了MTF计算模板的最优化选取算法,通过最优化模板计算得到的MTF测量值可以有效抑制图像噪声的影响,同时抑制环境振动以及条纹靶标周期偏差引起的摩尔条纹对MTF测量值的影响。根据对某空间相机实测图像的分析结果,横向模板尺度应不大于摩尔条纹横向周期的4%,纵向模板的尺度应不大于摩尔条纹纵向周期的2%,分析表明模板越大,MTF受噪声影响越小,但受环境振动和条纹靶标周期偏差影响越大,实际工程中应结合相机本身的噪声水平,在最优区间选取MTF计算模板,使得测量值更准确。     

EMI测试中射频前置放大器的噪声及影响

在电磁干扰(EMI)测试中,射频前置放大器被用来放大微弱信号使其能被准确测量,而其噪声经常被忽略。比较了电场强度背景噪声的理论计算和实际测试结果,得出电场强度的背景噪声值取决于射频前置放大器的输入噪声。因此,噪声这一参数和前置放大器的增益同样影响着该放大器的实际效用。     

AlGaAs/GaAs HBT的低频噪声

测试了AlGaAs／GaAsHBT的低频噪声，并将测试结果分解为1／f噪声、G－R噪声和白噪声，阐述了它们的产生机理，在此基础上建立了AlGaAs／GaAsHBT输入噪声电压的等效电路模型，该模型有助于AlGaAs／GaAsHBT电路的CAD。     

频率源相位噪声对雷达改善因子的影响

频率源相位噪声是影响雷达改善因子的主要因素之一,文章分析、计算了雷达改善因子随频率源相位噪声的变化情况。通过对某型号雷达系统更换高相位噪声指标的 X 波段频率源模块,测试频率合成器及发射机相位噪声指标,并测试雷达的改善因子,实测雷达整机改善因子获得了平均约 5~8 dB 的收益,其结果与理论计算值相吻合。     

雷达频率源相位噪声频域测量技术

描述了相位口气的概念及其数学表征，讨论了相位噪声频域的两种测试方法。最后，介绍用ＨＰ３０４８Ａ相位噪声测试系统完成对雷达频率源的相位噪声测试的技术。     

用于相关流量仪的正弦波超声传感器

《采用单片机的相关流量仪》一文中所介绍的流量仪主要有三部分组成:流体流动噪声传感器、实时快速相关器及流量读数显示器。本文首先介绍该流量仪所采用的一种流体流动噪声传感器——正弦波超声传感器。     

薄膜电阻器件的低频噪声测试方法研究

薄膜电阻器件的低频有色噪声是器件内部微观结构影响的缩影，承载了大量的与器件结构和工艺水平相关的信息，往往能够反映器件的内在质量和可靠性的优劣。本文给出了薄膜电阻器件低频噪声测试的一般方法并探讨了样品在低阻和裸片情况下进行低频噪声信号测试应采用的技巧和注意事项，还讨论了探针接触噪声对测试结果的影响，对正确的噪声信号采集和器件可靠性评估有重要意义。