基于DES理论的数模混合电路故障诊断研究

数模混合电路故障诊断是一个被广泛关注的前沿课题,它面临着许多测试上的难点,解决这个问题意义重大而任务艰巨.由于数模混合电路具备DES的特点,本文采用近来发展的DES理论对数模混合电路进行可测性分析,该法可用一定的算法在计算机上实现;最后对DES理论在电路测试中的应用进行了实例验证.实验表明:该方法可以有效地进行数模混合电路故障诊断.     

测试向量转换预处理技术研究

针对测试向量转换失效的原因进行分析,研究了在转换前通过噪声消除与虚拟信号合成方式提高测试向量转换成功率的预处理技术.基于常见的VCD格式的测试向量文件,重点分析了测试向量转换预处理的关键技术,给出了用沿对齐消除抖动、毛刺消除和信号合成的实现方法.在此基础上,使用编程语言实现了测试向量转换预处理的工具,并且进行了实验验证.实验结果表明,本文提出的预处理方法能够有效地解决因噪声和信号相关性造成的测试向量转换失效的问题.     

发电机采用数模混合仿真的微型动模试验系统

基于当前动模、数字仿真遇到的问题,搭建了基于数模混合发电机的微型动模试验系统.数字、物理混合仿真的发电机采用了功率在环技术,结合了物理仿真和实时数字仿真的优点,更接近现实的试验,实时运算可反复修改,减少测试验证周期.发电机采用数模混合仿真的微型动模试验系统,可实现电力系统的低电压、小电流、微功率的物理模拟,减少了测试准备时间、验证周期和测试成本,有效提高了电力系统仿真建模、验证研究的技术水平.     

简易母差装置的RTDS数模试验方案设计

设计了基于RTDS的简易母线保护装置数模试验的方案.首先简述了实时数字模拟试验系统应用于继电保护装置及二次设备检测工作的现状,分析了使用RTDS开展简易母线差保护数模试验的必要性.详细介绍了一种应用RTDS对简易母差装置进行测试的试验方案,包括仿真系统试验模型、模拟平台硬件接线以及数模试验测试项目的设计.最后根据该方案...     

基于RTDS的备自投装置的数模试验研究

提出了基于RTDS的备自投装置数模试验方案.简述了实时数字模拟试验系统应用于继电保护装置及二次设备检测工作的现状,分析了使用RTDS开展备自投装置数模试验的必要性.详细介绍了一种应用RTDS对备自投装置进行测试的实验方案,包括试验模型、硬件接线以及试验项目的设计.根据该方案进行了备自投装置数模试验,并将试验中出现的主要问题进行了分析,试验结果表明,应用此方案可以对备自投装置进行较为全面的考察.     

VXI数模混合信号集成电路测试系统

数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目(VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化)为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATE IC测试系统,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。     

数模混合电路测试技术的研究

随着电子技术的不断发展，大多数电路都同时包含数字和模拟两种信号。电路的测试面临着许多的困难，数模混合电路故障诊断技术也因此成为一个重要的课题。本文针对目前数模混合电路测试的发展现状，对现已提出的一些重要数模混合电路测试方法进行了总结，说明了各测试方法的基本原理，并分析了它们各自的优缺点。最后对数模混合电路故障诊断技术在实际中的应用进行了介绍，并对该学科的发展趋势进行了预测。研究表明．目前还没有比较成熟的数模混合电路测试方法。     

HVDC和FACTS控制与保护系统的实时测试技术

阐述了HVDC和FACTS控制与保护系统实时测试技术的发展和应用情况.分析了实时测试的步骤和内容,实时测试对仿真步长、等值系统及仿真模型的要求.论述了模拟仿真器与数字实时仿真系统各自的特点及数模混合实时仿真系统的结构和应用情况.提出了先进的集成混合实时仿真系统和实时数字混合接口的原理、数据交互方式和电压预测技术,对经济有效地扩大实时测试系统的规模具有重要意义.     

基于RTDS的同步相量测量装置动态数模试验方法研究

文章介绍了一种同步相量测量装置的动态数模试验方法,该方法在RTDS平台上搭建两站、500 kV和220 kV两电压等级电磁环网测试模型,配置两台同步相量测量装置分别采集两站的相量,对该系统进行了动态仿真测试,进行了金属性故障、发展性故障、转换性故障、频率偏移和系统稳定破坏等多种扰动下的动态数模试验,试验验证了测试方案的可行性和正确性。     

数字实时仿真在控制和保护系统测试中的应用

HVDC和FACTS装置的控制和保护系统在投运前必须进行仿真测试,以验证系统性能.文中结合实际工程项目,详细阐述了数字实时仿真系统进行HVDC和FACTS装置控制和保护系统实时测试的原理和过程.在此基础上进一步阐述了数模混合实时仿真系统的结构和应用情况,同时提出了先进集成混合实时仿真系统的架构和原理.混合实时仿真系统可经济有效地扩大实时测试系统的规模.项目中装置投运后现场试验的结果验证了实时测试的准确性.     

A uniform approach to mixed-signal circuit test

Owing to the analogue nature of many industrial processes and the increasing use of microprocessor techniques, many circuits nowadays carry mixed (digital and analogue) signals. As complexities of these circuits increase, the testability of mixed-signal circuits has become an important issue that must be dealt with by both design and test engineers. A systematic approach to study the testability of mixed-signal circuits is urgently needed, because current ad hoc methods cannot efficiently handle increasingly complex and ever-changing circuits. In this paper we develop a uniform and systematic approach to the mixed-signal circuit testability problem. The approach is based on a recently developed theory of discrete event systems. It is suitable for the following tasks: (i) checking the testability of a circuit; (ii) computing the minimum test set; (iii) finding the fault coverage; (iv) dividing a circuit into testable modules. © 1997 by John Wiley & Sons, Ltd.     

利用QR分解对Woodbury故障验证技术的改进

故障验证技术在模拟电路的检测中是一个有发展前景的方法.本文首先通过采用Woodbury公式来构造电路的故障诊断方程式,然后指出了现有的利用组合查找的方法存在复杂度过高的缺陷,提出了基于QR分解的最小模糊群查找的方法,降低了运算的复杂度,给出了对比图.本文中方法相对于以前的方法还减少了Woodbury故障诊断技术要测量的节点数,文中给出了算法流程图,并通过一个电路实例说明了此方法的改进效果.     

Emerging SiGe HBT reliability issues for mixed-signal circuit applications

We review the emerging reliability issues associated with high-performance SiGe HBT technologies which are being increasingly deployed in a wide variety of mixed-signal circuit applications. For the purposes of this work, we define the concept of device "reliability" to be broader than its standard usage in the industry, to include all possible transistor degradation mechanisms, for all possible mixed-signal circuit designs, in any of the various intended mixed-signal applications. For instance, in addition to classical device reliability mechanisms associated with reverse emitter-base and high forward current density stress, new reliability issues for SiGe HBTs, including impact-ionization induced "mixed-mode" stress, scaling-induced breakdown voltage compression and operating point instabilities, geometrical scaling-induced low-frequency noise variations, and the impact of ionizing radiation on device and circuit reliability, are also addressed.     

片上三角波信号发生器实现方法

针对混合信号电路内建自测试(BIST)结构中信号发生器的设计问题,本文提出了一种基于码密度直方图法测量模-数转换器性能的片上模拟三角波信号发生器的实现方法。该信号发生器由两个恒流源、电容和反馈控制电路组成,其中恒流源采用自偏压的Widlar电流源实现。实验结果表明,该信号发生器所生成的三角波信号不仅斜波部分具有良好的性线,而且其频率和幅值均可调。另外,该信号发生器结构精简,硬件开销小,易于片上集成。     

基于双空间的融合特权信息支持向量机模拟电路故障诊断

针对模拟电路故障诊断识别率较低的问题,提出了基于双空间特征提取的融合特权信息支持向量机的模拟电路故障诊断新方法。首先对采集的信号进行主成分分析(principal component analysis,PCA)——特征提取;并用融合特权信息支持向量机LUPI-SVM(SVM of learning using privileged information,LUPI-SVM)分类器和SVM-GA分类器进行预分类;对分类结果不同的样本进行独立成分分析(independent component analysis,ICA)—特征提取,并用LUPI_SVM进行分类识别,Sallen-Key滤波电路故障诊断仿真实验结果表明该方法有效提高了分类的性能,为模拟电路故障诊断提供了新的途径。     

数模混合电路故障诊断方法的现状

本文针对数模混合电路故障诊断技术的发展现状，对几种常见的方法进行了总结，说明了各方法的基本原理，并分析了各自的优缺点。最后简要介绍了数模混合电路故障诊断技术在实际中的应用，并对它的发展趋势进行了预测。研究表明目前还没有成熟的数模混合电路系统的故障诊断的方法。     

Teaching MOS integrated circuit amplifier design to undergraduates

The enhancement-mode MOSFET is the primary active device used in present-day digital and mixed-signal integrated circuit processes. Thus, it is important to introduce this device and associated circuit design methods early in the electronics curriculum. This article discusses four integrated circuit MOSFET amplifier configurations; the current source/active load stage, the source follower, the cascode connection, and the differential stage with a current mirror load. These stages serve as building blocks for more complex MOSFET amplifiers and allow the introduction of MOSFET integrated circuit design principles     

基于DSP的ADC测试功耗优化设计

随着大规模混合信号集成电路设计水平及复杂性的不断提高,对其进行测试的难度与成本变得越来越高,而测试功耗过高已经成为影响测试成本的一个重要因素。ADC作为混合信号电路的典型代表,已经应用在了各种集成模块上。文章中为降低ADC测试功耗,对ADC的测试结构进行了部分改进,并运用遗传算法搜索了低功耗测试激励。理论研究及仿真实验表明,优化后的结构和低功耗测试激励较优化前能同时降低测试时的峰值功耗和平均功耗。     

An approach to the analysis of the CMOS differential stage with active load and single-ended output

The complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) differential amplifier with active load and single-ended output is one of the most widespread analog building blocks in modern mixed-signal circuits for signal processing applications, because of its good performance in terms of common-mode rejection and voltage gain, combined with an extremely simple circuit structure, which performs directly differential to single-ended conversion. The authors present a straightforward approach to studying the behavior of such a simple circuit and try to explain some of its features in an intuitive way without resorting to tedious calculations. In particular, this study considers the DC operating point and the common- and differential-mode voltage gains, and the results of the proposed analysis are in good agreement with those provided by both accurate analytical solution and simulation of the circuit. Among the other results, this approach emphasizes some interesting, though very often neglected, aspects of the circuit behavior.