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一、前言关于显微镜的分辨率,许多文献都有介绍,其内容也都大致相同。由于上述文献中的分辨率都是根据夫琅和费圆孔衍射试验和瑞利判据推导而来,故文献将其统称为显微镜的点分辨率,并根据夫琅和费单缝衍射试验提出了显微镜线分辨率的判据,推导出线分辨率的计算公式。文献对显微镜分辨率的判据和推导方法提出了不同的看法,并根据光栅方程和阿贝成象原理提出了新的判据。 相似文献
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分辨率测试卡是客观描述射线实时成像检测系统分辨率和实时成像检测图像分辨率(包括射线照相底片分辨率)质量指标的重要器具,概述了图像分辨率测试卡的结构和正在制订的《无损检测射线透视检测用分辨率测试卡》行业标准进展情况。 相似文献
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《组合机床与自动化加工技术》2016,(2)
超声电机作为一种新型特种电机,有着广泛的应用。由于超声电机应用压电陶瓷作为驱动元件,使得定子产生受迫振动驱动动子运动,从理论上具有高的位置分辨率,为了确定超声电机的位移分辨率,文章从超声电机运行机理出发,分析了影响超声电机位置分辨率的因素为定子/转子摩擦材料系统的瞬态响应。应用单片机作为控制器,通过程序控制超声电机驱动器,测试了旋转型行波超声电机的位置分辨率,得到旋转型超声电机的位置分辨率可以达到0.0078°。得到结论:得到了超声电机分辨率,且发现超声电机定子/转子摩擦材料系统的阻尼是影响超声电机位移分辨率的关键因素之一,超声电机定子和转子摩擦材料系统非线性特性明显。 相似文献
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针对AD转换器精度与数据转换速率的矛盾,本文提出了2种电路,使用较低分辨率的AD转换器,能达到更高的分辨率,并且保持较高的数据转换速率. 相似文献
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射线实时成像检测中的图像清晰度与分辨率 总被引:4,自引:0,他引:4
清晰度与分辨率是X射线实时成像检测中的重要质量特性,分析检测图像的清晰度与分辨率问题及相互关系,介绍分辨率测试卡结构和使用方法以及提高图像分辨率的途径。 相似文献
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由于MAG焊外部干扰大,用CCD采集的MAG焊熔池区图像不够清晰.因此,在进行进一步处理比如边缘检测之前,需要进行必要的图像增强和去噪等预处理操作,这样才能获得更加清晰的图像边缘信息.针对以上问题,采用超分辨率技术对MAG焊熔池图像进行处理和分析.在此基础上,提出了基于小波分形插值的超分辨率图像重建方法.结果表明,该方法相对于基于传统的小波双线性插值的超分辨率方法,能有效提高MAG焊图像的分辨率,获得更加清晰的焊缝位置和图像的边缘信息,为后续的焊接质量控制和焊缝跟踪工作提供了很好的基础. 相似文献
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在机床加工过程中,刀具转速高、微细刀具直径较小等因素以及工业相机在机床上安装困难,导致难以获得高分辨率刀具图像,限制了视觉方法在监测上的应用。针对普通相机获得的低分辨率图像,提出了一种基于残差网络的刀具图像超分辨率卷积神经网络。该网络将学习全局残差和学习局部残差两种方法相结合,学习高低分辨率图像对之间的映射关系,对低分辨率图像进行超分辨率重建。为了提高对刀具图像边缘的重建效果,提出一种包含图像边缘信息的损失函数。与双三次插值算法以及典型的超分辨率网络相比,所提出的网络在两项客观图像质量评价指标以及主观评价上的表现均为最佳。 相似文献
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根据微小焦点X射线成像检测的基本原理,建立系统点扩展函数模型,并推导出检测系统的分辨率关系,最佳放大倍数以及最小检测缺陷公式。对成像检测具有指导作用。并给出在金属缺陷检测中的实际应用。 相似文献
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超声检测图像分辨率的维纳滤波去卷积研究 总被引:2,自引:0,他引:2
为了研究改善超声检测横向分别率以及缺陷检测精度的方法,对聚焦换能器和非聚焦换能器的超声检测成像结果进行了比较,结果表明聚焦换能器在焦点位置具有较高的横向分辨率。为了提高平面非聚焦换能器的成像分辨率,根据平面换能器的平底孔散射模型,计算出换能器的点扩展函数,并利用维纳(Wiener)滤波进行去卷积研究。结果表明,只要选取适当的滤波参数,去卷积处理能有效改善成像检测的横向分辨率。 相似文献
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目的制备新型导电探针,解决目前探针针尖曲率半径较粗、饱磁力大、调频困难、不容易得到高分辨图像等问题。方法向Si探针针尖蒸镀导电金属薄膜得到导电薄膜Si探针,镀Fe薄膜厚度约为几纳米,同时保证探针的曲率半径约10 nm。利用透射电镜观察和超高真空原子力显微镜扫描镀膜前后探针Na Cl(001)表面,分析其性能。结果自制的Fe薄膜Si探针由于蒸镀了金属薄膜,探针针尖性能稳定,Si探针扫描效果的悬挂键影响被消除,同时提高了系统的扫描分辨率。结论导电薄膜Si探针能够充分利用现有的仪器设备进行实验,具有造价低、使用简单、性能稳定等优点,可以作为将来磁交换力显微镜(MEx FM)的磁性探针来测试材料的表面磁信息。 相似文献