同位素吸水剖面测井方法在石油地质中的应用

在油田开发过程中,同位素吸水剖面测井在注水油藏动态监测中占主导地位,目的是为了了解地层自然注水状况和分层配注后的注水效果。本文通过对大量前人的研究详细介绍了同位素吸水剖面测井方法、同位素沾污的影响因素以及对吸水剖面测井方法在油气生产与开发中的应用等进行了撰写。     

吸水剖面污染校正方法研究

由于存在同位素污染，造成测井资料失真，给解释评价带来困难。经过对吸水剖面测井资料进行污染校正和二次解释，使资料的解释清度和应用水平得到很大提高。     

同位素吸水剖面测井影响因素探讨

同位素吸水剖面测井受诸多因素的影响,各种影响因素都会对资料的解释精度产生一定的影响.根据大量的测井资料对同位素污染、地层污染、同位素颗粒密度、粒径、同位素释放深度及时间、测井时间、施工方式、管柱腐蚀变形等进行了探讨分析,并对各种影响因素的识别与校正提出了相应的方法和依据.     

用大粒径同位素测井技术测定吸水剖面

对于注水开发油田,通常使用放射性同位素测井测量注水井的吸水剖面。但由于不同地层其孔喉半径不同、受注入水的冲刷程度不同,当向井内注入粒径较小的放射性同位素载体后,对部分孔喉半径大、受注入水的冲刷程度严重的井,其小粒径同位素载体不是滤积在井壁附近,而是注入到探测器无法探测到的远离井筒部位,造成测量结果失真。通过改用大粒径同位素载体测量吸水剖面,不但可以提高资料的准确度,而且可以更明确地划分吸水层位。     

中原油田开发后期改善注水井吸水剖面的途径探讨

油田进入特高含水阶段，由于储层的非均质影响，平面、层间及层内吸水状况极不平衡，如何改善注水井吸水剖面，提高注水波及系数，从而提高水驱采收率，是油田开发后期亟待解决的重大课题。文中认真分析了中原油田历年注水井吸水剖面变化趋势，并从理论和实践两个方面阐述了影响吸水剖面的主要因素，提出了改善注水吸水剖面的有效途径，为油田增产挖潜指明了方向。     

吸水剖面测井沾污控制与校正处理

对吸水剖面测井中沾污形成的原因进行了分析,提出降低示踪剂的比强度和注入"冷球"两种控制吸水剖面测井沾污的新工艺.从理论上分析了如何对沾污进行校正,建立了沾污校正的解释模型.实际结果表明,对沾污进行校正后提高了吸水剖面测井的解释精度.     

提高同位素吸水剖面精度研究

同位素吸水剖面资料是油田动态分析和注水调整的重要依据,资料的准确性受到地层条件、井下管柱结构、测井工艺等诸多因素影响。文章根据大量的测井资料和现场实践,对同位素沾污、大孔道、井口防喷装置、井下管柱结构等方面进行探讨,找到一些可有效控制影响因素的具体方法,提高了同位素吸水剖面测井资料的精度和应用效果。     

吸水剖面同位素曲线低幅度异常解释与应用

分析了吸水剖面同位素曲线低幅度异常显示的形成原因，探讨了针对同位素曲线低幅度异常的资料解释方法。应用实例表明，结合动静态、井温、流量资科综合分析修正原解释结论，可提高吸水剖面测井资料的解释精度。     

沾污校正系数确定方法研究

放射性同位素示踪测井是确定注水剖面的有效方法．但沾污校正系数的准确性将影响同位素吸水剖面测井资料的解释精度。分析了放射性沾污对吸水面积与吸水量的关系的影响．讨论了沾污校正系数的基本含义及其影响因素，并重点讨论了沾污校正的实质及其具体实现过程．提出了在有代表性的注水井加测电磁流量确定沾污校正系数的新方法。     

确定吸水剖面的一个简易方法

注水井吸水剖面反映着地层的吸水能力，常规的研究分层能力的方法是采用生产动态测井技术。在采集资料时受产量、工艺条件、井况等因素的影响，部分井剖面无法获取。提出了一种快速简单的计算方法。应用该方法，只要有电测解释成果：电阻率Rt、声波时差△t及砂层厚度h即可。经大量剖面实例资料验证，该方法是有效可行的。     

同位素注水剖面测井资料深度校正的几种方法

在同位素示踪注水剖面测井中，根据注水井中不同的管柱结构，短套管位置，自然伽马基线等因素，提出了自然伽马对比法，磁定位短套管接箍对比法，磁定位与自然伽马曲线综合对比法和注水层位残留放射性和同位素曲线辅助校深法等4种不同的测井资料深度校正方法，并阐述了其各自的特点，认为在资料深度校正时，自然伽马对比法是普遍适用的，磁定位短套管法是最为简单的，为了要准确地进行资料的深度校正，应综合运用多种校正方法，以满足各种井况下同位素注水剖面测井解释之需要。     

表面活性剂在同位素注水剖面测井中的应用

同位素注水剖面测井受多种因素，特别是管柱沾污的影响，使得测井资料质量差或根本无法解释。实践表明，利用表面活性剂预处理井筒，可有效降低同位素管壁沾污，提高测井资料质量。     

同位素吸水剖面测井资料在水驱深度调剖效果评价中的应用

试验表明,通过应用同位素吸水剖面测井资料,可以较好地评价水驱深度调剖效果。调后注水井吸水层数增加,目的层相对吸水量下降,相同配注情况下注入压力上升;连通采油井产液未变,含水下降,产油上升。     

注水剖面测井精细解释

注水剖面测井由于受到示踪剂微球颗粒直径大小，同位素粘污以及储层长期注水造成的内部孔隙喉道结构的变化等多种因素的影响，使常规测井解释遇到非吸水层位的同位素污染，主力吸水层同位素异常幅度太低，射孔井段的腐蚀穿孔或窜槽吸水等问题的困扰，致使测井解释精度大大降低，提高测井解释精度应注重同位素污染校正中水流方向确定和污染系数的校正，正确划分吸水层，对于非均质较为严重的储层必须开展厚层细分，对测井系列要不断改进和完善，例举了实例进行分析。     

注水剖面测井确定分层吸水指数方法研究

针对常规方法获取分层吸水指数存在的问题,结合渗流理论和注水剖面测井一次下井能连续测量流量和压力的特点,提出了测井时多次改变井口注水量,通过注水剖面资料的处理确定各储层的相对吸水量、确定各储层的地层压力和吸水指数的方法,由此还能掌握各储层地层压力和吸水能力的差异.理论分析和实例表明该方法实用可行,克服了传统方法不能分层求取地层参数的不足.     

一种注入剖面多级同位素释放器的设计及应用

大庆油田部分区块注入井配注层段多、注入量低,其同位素测井一直采用常规的一次释放工艺,资料反映注水井底部层位吸水比例明显偏低,测试结果与地质开发数据差异较大。研制了一种可以分时控制同位素释放的多级同位素释放器,说明了释放器的总体结构、工作原理以及施工工艺。通过与一次释放工艺对比,多级释放器井下测量准确性高,并且测井效率高。采用多级释放器进行同位素测井,测试资料显示吸水比例明显上升,释放器在射孔井段长、配注层位多的注入井中有广阔的应用前景。     

同位素注水剖面测井相关影响因素的实验与分析

从油田测井资料测试与分析中存在的一些实际问题出发，通过对同位素注水剖面测井中相关影响因素所做实验的研究分析，总结出了一些有助于提高同位素测试成功率与剖面解释精度的方法和结论。     

一种注聚剖面测井仪及应用

注聚剖面组合测井仪是一种能测量自然伽马、流量、井温、压力和磁性定位的多参数仪器。这种仪器是由遥测单元、同位素释放器及伽马测量短节等组成,是一种既能测量注聚井的分层段注入量,也能连续测量注聚剖面曲线的仪器,所测资料能对各层段进行细分。本文介绍了该仪器自的设计目的、仪器结构、电路设计、测井原理和应用情况,并结合测井实例对分层段注入量、注聚剖面曲线进行了分析。     

吸水剖面测井沾控制与校正处理

对吸水剖面测井中沾污形成的原因进行了分析 ,提出降低示踪剂的比强度和注入“冷球”两种控制吸水剖面测井沾污的新工艺。从理论上分析了如何对沾污进行校正 ,建立了沾污校正的解释模型。实际结果表明 ,对沾污进行校正后提高了吸水剖面测井的解释精度。     

返注井段同位素示踪注水剖面的分析研究

在放射性同位素示踪注水剖面测井中，对于一些油管喇叭口下过射孔层的笼统注水井，如果最上面的射孔层距喇叭口较远，如何判断同位素微球是注入水上返还是沉淀，从理论计算到现场实验对同位素微球在井下环境中的运动情况进行了分析研究，分析结果表明，注水量大于20m^3/d的井，选用同位素微球密度1．06g/cm^3，粒径10－600um的同位素示踪注水剖面测井施工工艺是合适的，同位素示踪注水剖面在返注井段的测试成功与否取决于微球的下沉速度。