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随着内存的价格越来越“白菜”价(2GBDDR3仅90元左右),超大容量的内存系统早已进入寻常百姓家,现在装机基本采用4GB、6GB内存。然而,内存频率比容量对整机性能的提升帮助更大。现在DDR3的频率最高可达2133MHz,但随着DDR4内存的出现,内存频率冲击5000MHz大关,已不是遥不可及,本文将对DDR4内存技术发展作简单的讲解,供爱好者参考。 相似文献
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《国外电子测量技术》2012,(5):91-91
新的DIMM直插式夹具有助于客户使用现有逻辑分析仪模块进行更高速度的内存捕获2012年5月4日全球测试、测量和监测仪器提供商泰克公司宣布,推出用于逻辑调试和协议验证的下一代DDR3探测解决方案,采用了泰克TLA7000系列逻辑分析仪支持 相似文献
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《国外电子测量技术》2014,(4)
正近日,Teledyne LeCroy(力科),世界高速I/O分析和协议测试方案的领导者,升级了其Kibra 480DDR协议分析仪平台,使其带有JEDEC的新288脚的边沿连接器的DDR4内存模块的探测选件。新的内插器支持DDR4 UDIMM,R-DIMM,以及LR-DIMM,并能够对每个通道的速率高达3 200 MT/s的2个DIMM进行非侵入式监控。新的内插器的设计是用于配合力科的Kibra 480的协议分析仪的使用,其可坐落于DIMM内存槽中,且可适合于 相似文献
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《国外电子测量技术》2011,(7):89-89
凌华科技推出Compact COMExpress规格的新款嵌入式模块计算机Express-LPC,搭载双核英特尔Atom处理器与DDR3高速内存,相比目前以Pentium M处理器为核心的平台而言,凌华科技Express-LPC提供更优异的性能以及更节能的低功耗设计, 相似文献
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孙灯亮 《国外电子测量技术》2006,25(9):75-79
1 DDR1&2&3总线概览
DDR全名为Double Data Rate SDRAM,简称为DDR。DDR技术已经发展到了DDR3,理论上速度可以支持到1600MT/s。DDR总线走线数量多、速度快、操作复杂、探测困难,给测试和分析带来了巨大的挑战。 相似文献
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针对大规模采集数据读取时间较长的问题,特别是PCI总线接口的微处理器,采用单周期读取方式时,将会严重影响采集数据的实时处理。通过在FPGA中设计PCI接口控制器和DDR控制器,将PCI总线接口协议转换到内部自定义局部总线,采用双端口FIFO 作为时序同步控制缓冲器,同步内部局部总线和DDR控制器,从而解决了微处理器对DDR存储器突发读取的时序同步问题,实现了大规模采集数据的快速上传。 相似文献
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孙灯亮 《国外电子测量技术》2006,25(9)
1 DDR 1&2&3总线概览 DDR全名为Double Data Rate SDRAM,简称为DDR.DDR技术已经发展到了DDR 3,理论上速度可以支持到1600MT/s.DDR总线走线数量多、速度快、操作复杂、探测困难,给测试和分析带来了巨大的挑战. 相似文献
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泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能 总被引:1,自引:0,他引:1
《电子测量与仪器学报》2009,23(12):54-54
泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDR测试和验证解决方案系列。用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3.1867标准的总线捕捉和分析功能。新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用。泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP—DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案。这些新功能完善了泰克全面而广泛的DDR存储器解决方案, 相似文献
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基于Infiniium MSO9000系列示波器的DDR总线测试方案 总被引:1,自引:0,他引:1
马卓凡 《国外电子测量技术》2009,28(11):10-16
概述
DDR (Double Data Rate)DRAM由于性能和价格的优势,正日益广泛的应用于计算机平台以及各种嵌入式产品设计中。DDR规范从DDR1,DDR2发展到DDR3,并且也发展出主要应用于移动设备领域的LPDDR(低功耗DDR)。随着总线速度的提高,信号完整性问题,互操作问题越来越被设计和测试人员关注。而由于DDR总线复杂度高,探测困难,测试和分析也有非常大挑战。 相似文献
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《国外电子测量技术》2009,28(12)
泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDR测试和验证解决方案系列.用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3-1867标准的总线捕捉和分析功能.新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用.泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP-DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案.这些新功能完善了泰克全面而广泛的DDR存储器解决方案,为验证和改善工程师的设计提供帮助. 相似文献
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《国外电子测量技术》2009,(12):93-93
泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDRNII试和验证解决方案系列。用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3-1867标准的总线捕捉和分析功能。新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用。泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP—DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案。 相似文献
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基于Infiniium MS09000系列示波器的DDR总线测试方案 总被引:1,自引:1,他引:0
马卓凡 《国外电子测量技术》2009,28(11)
概述
DDR(Double Data Rate)DRAM由于性能和价格的优势,正日益广泛的应用于计算机平台以及各种嵌入式产品设计中.DDR规范从DDR1,DDR2发展到DDR3,并且也发展出主要应用于移动设备领域的LPDDR(低功耗DDR).随着总线速度的提高,信号完整性问题,互操作问题越来越被设计和测试人员关注.而由于DDR总线复杂度高,探测困难,测试和分析也有非常大挑战. 相似文献
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2010年8月3日,富士通元件(美国)公司推出了DDR3(双数据速率)DIMM(双列直插内存模块)插座连接器,主要用于降低与DDR3内 相似文献
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《国外电子测量技术》2008,27(12)
配置Intel(?)Core~(TM)2 Duo T7500处理器、GME965芯片组与4GB DDR2内存,提供测量与测试应用最高等级运算性能。凌华科技推出旗下首款双核3U PXI嵌入式控制器PXI-3950。此款PXI控制器搭配英特尔T7500 Core 2 Duo 2.2GHz双核处理器、GME965芯片组与高容量4 GB 相似文献
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作为SDRAM的第3代动态同步存储器,DDR3以其高速率存储、大容量、低功耗以及良好的兼容性得到广泛应用.基于目前高速信号存储领域对存储性能要求越来越高,利用Virtex-7系列FPGA实现了DDR3控制器,自行设计用户接口模块有效控制数据读写.该DDR3控制器有效解决了目前存储器速率有限、功耗较大、带宽较低的问题.最终通过Modelsim仿真平台进行功能仿真验证,并且在硬件平台测试,验证了该控制器稳定性好,占用资源少以及可移植性强. 相似文献
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《可编程控制器与工厂自动化(PLC FA)》2009,(7):13-13
全球领先的测试、测量和监测仪器提供商——泰克公司日前宣布,为DPO/DSA70000B系列和DP07000系列示波器推出第三代经过验证的DDR分析软件产品(DDRA选件)。泰克DDR测试解决方案支持DDR、DDR2、DDR3、LP—DDR和GDDR3的全部速度,同时覆盖了物理层和数字域。 相似文献