应用微波全息照像测量大型反射体天线

引言作为解决天线测量中某些问题的一种可能的方法,特别是从近场测量中判断误差和评价天线结构的设计特性,提出了反射体天线微波全息照像(相位和幅度)测量技术。利用这种方法所能够测出的许多天线特性中,测量整个反射体表面与理想形状的偏差是有重要意义的     

卫星电视地面接收站天线的装配与调整

卫星电视地面接收站(6M、4.5M)的机械装配主要包括反射体的装配、付盘的装配、支架的装配及各部的联装和总站的架设。其中以反射体、付盘的装配为工艺难度较大者。这里主要讨论的是反射体总成误差的分析,装检工装的设计,反射体、付盘的装配及测量数据的处理。其它各部分的装配和联装由于工艺难度不大,就不涉及了。     

多通道成像卫星误差校正方法研究

研究高速运动多通道成像卫星的误差校正问题,提出了利用地面角反射体回波数据进行阵列校正的新方法,该方法简单易行,校正效果良好,使得存在沿航向误差和通道幅相误差情况下卫星多通道成像成为可能。通过计算机仿真实验验证了方法的有效性。     

一种新的多通道成像卫星误差校正方法

本文针对高速运动的沿航向运动的线阵中存在的误差,提出了基于角反射体回波数据进行阵列校正的新方法,该方法不需要迭代搜索,校正效果良好,可以估计存在沿航向误差和幅相误差时的导向矢量,文末通过计算机仿真实验验证了文中方法的有效性.     

13米天线反射体检验数据处理

13米天线反射体由l6块组装而成。每小块测68个检验点,共1088个检验数椐。图纸要求反射体拆装运输前后均方根误差小于1毫米。数椐多,输进计算机直接计算整体均方根时产生溢出。故用机算机算出各块平均数,均方根值,间接求出整体均方根值办法     

SAR图像质量外场试验与评估技术

SAR图像质量评估是评判SAR系统性能的关键指标,常用SAR图像质量评估参数包括目标分辨率、峰值旁瓣比和积分旁瓣比等。首先介绍了SAR图像质量评估参数的定义;其次分析了SAR图像质量评估参数测试误差,给出了单个角反射体时积分区间对积分旁瓣比的影响,以及多个角反射体时图像质量评估参数测试误差,并进一步给出了定标场地设计要求;最后介绍了SAR图像质量评估软件系统。SAR图像质量评估技术研究已在SAR系统试验中得到应用,开发的评估软件系统在sAR图像质量评估中具有一定的推广价值。     

扩展底面角反射体RCS特性分析及其应用

三角形角反射体用于海面靶标中,存在一些问题:在低俯仰角情况下,其RCS特性易受海面环境的影响,RCS值显著下降。针对这些问题,分析了底面无限扩展的三角形角反射体的RCS特性,给出了相应的几何光学计算公式,公式应用到扩展底面角反射体中,将其计算结果与标准角反射体进行了比较,结果表明扩展底面角反射体在低俯仰角情况下,能够增强目标的RCS值。在低弹道导弹试验任务中,可以考虑采用扩展底面角反射体来替换标准角反射体。     

相移反射体布拉格光栅在谱合成中的应用

谱合成是获得高功率激光输出的有效方法。建立相移反射体布拉格光栅谱合成模型,利用传输矩阵法,分析相移反射体布拉格光栅的衍射特性,并对反射体布拉格光栅的衍射特性和相移反射体布拉格光栅的衍射特性进行了比较。以两束光为例,分析相移反射体布拉格光栅谱合成特性,分析在高斯单色平面波入射条件下,光谱宽度对谱合成效率的影响。结果表明,通过在反射体布拉格光栅中引入π/2的相位畸变,可有效抑制衍射效率中的旁瓣的影响并增加参与谱合成的光束数目,对于两束光谱间距为30 pm的窄带光束谱合成,谱合成效率可达97%。     

一种低副瓣的双反射体柱面天线

针对串联馈电的波导裂缝平面阵天线波束随雷达工作频率改变而指向不恒定问题,提出了一种通过赋形的双反射体实现预先给定的口径场幅度、相位的低旁瓣一维相扫雷达天线的设计。该天线为赋形的卡塞格伦式极化扭转柱形双反射体。由于在赋形面,馈源的相心至口径面电磁波的传播路径处处相等,从而使波束指向恒定。又由于采用了对双反射体的赋形及其他降低副瓣的技术,使天线能够获得低副瓣效果。文中对赋形双反射体的理论计算公式作了简单推导,最后还给出了按照不同的天线波束副瓣电平要求,利用几何光学法得到的赋形主、副反射体的计算结果。     

某折叠天线反射体的装配方法研究

天线反射体作为某车载折叠天线的重要部件，具有数量多、动作次数多、安装复杂的特点。文中针对某天线反射体的结构特点和安装精度要求，分析了天线背架及铰链的装配难点及影响安装精度的因素。合理安排装配工艺流程，采样板装配及使用配套工装的方法，最终实现了天线反射体的安装精度，满足所有技术指标。该方法在批生产时成本低、效率高，可供同类型车载折叠天线反射体的安装提供参考。     

低副瓣天线反射体制造工艺

本文简略介绍低副瓣天线及其反射体的组成部分、结构特点和技术要求。然后着重介绍低副瓣天线反射体制造工艺中的主要关键技术。     

一种反射假目标自动抑制系统设计

如何进行假目标的抑制一直是二次雷达的重要问题之一,它是影响着二次雷达性能的关键问题。有效的抑制假目标是提高二次雷达性能的有效方法之一。文章从二次雷达地面多路径效应产生的机理出发,利用反射体位置的计算方法和假目标位置的预测方法,提出一种假目标模拟判断机制,用以验证反射体位置信息的可靠性,去除不可靠的反射体位置信息,选择可靠的反射体位置信息进行假目标抑制,从而设计出一种自动抑制假目标的系统。在假目标抑制问题上具有一定实际意义。     

强散射体的RCS分析

用简单的强散射体制作简易的目标模拟体．以较小的反射体模拟散射较强、体积较大的目标可以有效地提高目标的生存能力,达到伪装、迷惑的目的．常见的强散射体有二面角反射体、三面角反射体等,采用矩量法计算它们的RCS,通过分析、比较和计算结果来选择合适的强散射体．     

相控阵的缺陷

电子扫描相控阵与固定波束反射体天线相比,通常是很复杂的。除非辐射阵元间距为0.5λ左右,否则会出现栅瓣。要达到与DSCS通信用的1米直径反射体等效的面积,需要约1700个阵元。按经验,相控阵的续生成本为每阵元1000美元左右。成本的提高是因为与简单反射体天线相比,其零件多,装配量大、测试繁琐。     

基于改进GO/AP法的三面角反射体RCS预估

三面角反射体是一种重要的无源对抗器材,高效、准确、快速地预估其雷达散射截面积(Radar Cross Section,RCS)具有重要意义。以方形三面角反射体为例,推导了利用改进的几何光学/区域投影法(Geometrical Optics/Area Projection,GO/AP)进行RCS预估的一般流程;基于该流程对方形、圆形三面角反射体的单站RCS进行预估,将预估结果与RCS最大值的经验公式以及FEKO软件的仿真结果进行对比,表明改进的GO/AP法具有正确性、快速性和广泛适应性;针对异型三面角反射体,提出一种基于GO/AP算法利用SolidWorks软件进行RCS快速预估的方法。     

表面误差对双弯曲反射面天线副瓣的影响

天线反射面的表面误差会引起反射面天线的副瓣发生变化。为确定赋形波束双弯曲反射面天线反射面的表面误差与反射面天线副瓣最大值变化之间的关系,采用数理统计的方法,对受到随机表面误差影响的面电流积分,得到天线辐射场。随机表面误差用相关半径和Z向随机误差两个参量表示。根据随机表面误差求出其天线最大副瓣样本分布函数,较好地展现了表面误差引起的副瓣最大值变化,使得反射面天线表面误差引起的副瓣变化可预测,为天线反射面加工的精度要求提供了理论依据。     

激光自混合干涉式位移测量数值模拟及实验研究

对激光自混合干涉式位移测量原理进行了数值模拟和实验研究。首先，从三镜法布里珀罗腔理论出发，得到了基于半导体激光自混合干涉原理的位移测量模型，在此基础上对多种波形调制外反射体位移情况下激光自混合干涉信号进行了理论分析，证实信号倾斜方向发生反转的间隔条纹数目对应反射体位移的幅值范围；反射体有半个波长的位移，信号即输出一个完整的条纹；反馈强度的增加将增大输出条纹的倾斜。对信号倾斜现象进一步分析发现，当反射体位移减小时，信号向左倾斜，反之向右。造成信号倾斜的原因是由于高反馈强度下引起的非线性相位调制了输出信号强度。这些结论同样适用于任意波形调制的反射体位移。实验测试结果同理论分析吻合较好。     

凝胶注模成型氧化铝陶瓷反射体的制备

以微米级氧化铝为原料,采用AM-MBAM凝胶体系,制备出了流动性良好、高固相体积比的浆料,然后采用凝胶注模成型工艺制备出了中空氧化铝陶瓷反射体。研究了分散剂、引发剂、单体浓度及固相含量等关键因素对凝胶注模成型氧化铝陶瓷反射体的影响。结果表明:当分散剂、引发剂、单体的质量分数分别为0.4%,0.08%,7%时,浆料的固相体积分数为55%,黏度达到710 mPa.s,并可制备出表观形貌好,结构致密的氧化铝陶瓷反射体。     

计算辐射积分的简化方法

本文叙述了一种与口径场法(AFM)或感应电流法(ICM)有关的计算反射体天线辐射积分的简化方法。这种方法包含了相位函数的线性近似以及将近似误差计入幅度函数,然后将积分改写为一慢变函数乘以相位指数。该慢变函数对径向利用多项式展开,对切向则利用三角函数展开,其展开系数由口径上(与实际分布)对应的点决定。对应点则按类似二维积分的方式选取。     

一种新型舰用雷达天线反射体的研制

型面面板与背筋是雷达天线反射体中的主要结构件。本文提出了“背筋精度影响区”的观点，即借助于结构分析计算，合理地确定背筋的数量与间距，以最大限度地提高反射体型面组装精度。按这一观点进行设计的某舰用雷达天线反射体在结构自重与型面精度方面均获得了令人满意的效果。