泰克为下一代DDR3存储器推出最完善的系列测试工具

泰克公司日前宣布,为DDR2和DDR3技术推出完善的系列测试工具(www.tek.com/memory)。DDR3是下一代双倍数据速率(DDR)同步动态随机访问存储器(SDRAM),将提供性能更高的数据速率。泰克DDR测试解决方案基于业内领先的硬件和软件,支持所有DDR、DDR2和DDR3速度,同时涵盖模拟域和数字域。泰克为工程客户提供了完整的DDR3测试解决方案。     

泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能

泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDR测试和验证解决方案系列。用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3．1867标准的总线捕捉和分析功能。新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用。泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP—DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案。这些新功能完善了泰克全面而广泛的DDR存储器解决方案,     

泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能

泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDRNII试和验证解决方案系列。用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3－1867标准的总线捕捉和分析功能。新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本，使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用。泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP—DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案。     

泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能新功能包括TLA7000逻辑分析仪提供的DDR3-1867存储器总线数据捕捉和分析功能以及业内首项LP-DDR2测试和验证功能

泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDR测试和验证解决方案系列.用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3-1867标准的总线捕捉和分析功能.新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用.泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP-DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案.这些新功能完善了泰克全面而广泛的DDR存储器解决方案,为验证和改善工程师的设计提供帮助.     

安捷伦发布业内第一种基于示波器的DDR2符合性测试应用软件

安捷伦科技日前发布业内第一种基于示波器的DDR2符合性测试应用软件,它适合计算机、数据存储、电子数据处理和消费类电子产品行业的工程师使用。该Agilent N5413A DDR2测试应用软件在Infiniium 54850和80000系列示波器上运行,提供基于电子器件工程联合委员会(JEDEC)JESD79-2C DDR2 SDRAM规范和In- tel~(?)DDR2 667/800 JEDEC规范附录1．1版的DDR2电气符合性测量。     

业界动态

安捷伦公司发布业内第一种基于示波器的DDR2符合性测试应用软件安捷伦科技(NYSE:A)现已推出业内第一种基于示波器的DDR2符合性测试应用软件,它最适合计算机、数据存储、电子数据处理和消费类电子产品行业的工程师使用。该Agilent N5413A DDR2测试应用软件在Infiniium54850和80000系列示波器上运行,提供基于电子器件工程联合委员会(JE-DEC)JESD79-2C DDR2SDRAM规范和Intel(DDR2667/800JEDEC规范附录1·1版的DDR2电气符合性测量。N5413A测试应用软件的先进调试模式所提供的关键性测量有眼图、模板测试和振铃测量等,以及许…     

安捷伦公司发布业内第一种基于示波器的DDR2符合性测试应用软件

安捷伦科技（NYSE：A）现已推出业内第一种基于示波器的DDR2符合性测试应用软件，它最适合计算机、数据存储、电子数据处理和消费类电子产品行业的工程师使用。该Agilent N5413A DDR2测试应用软件在Infiniium 54850和80000系列示波器上运行，提供基于电子器件工程联合委员会（JE-DEC）JESD79-2C DDR2 SDRAM规范和Intel DDR2 667／800 JEDEC规范附录1．1版的DDR2电气符合性测量。     

基于FPGA的DDR3控制器设计

作为SDRAM的第3代动态同步存储器,DDR3以其高速率存储、大容量、低功耗以及良好的兼容性得到广泛应用.基于目前高速信号存储领域对存储性能要求越来越高,利用Virtex-7系列FPGA实现了DDR3控制器,自行设计用户接口模块有效控制数据读写.该DDR3控制器有效解决了目前存储器速率有限、功耗较大、带宽较低的问题.最终通过Modelsim仿真平台进行功能仿真验证,并且在硬件平台测试,验证了该控制器稳定性好,占用资源少以及可移植性强.     

基于Spartan-6 FPGA的DDR3布线分析和测试

介绍了DDR3的特点,在自主设计的基于Spartan-6FPGA的硬件平台上完成了DDR3的布线策略分析,利用IBIS模型对PCB版图进行了仿真。结合自动化测试软件和手动测试的方法对DDR3信号进行了实际测试。测试结果达到了预期目标。     

DDR1＆2＆3信号完整性测试分析技术探析

1 DDR1＆2＆3总线概览 DDR全名为Double Data Rate SDRAM，简称为DDR。DDR技术已经发展到了DDR3，理论上速度可以支持到1600MT／s。DDR总线走线数量多、速度快、操作复杂、探测困难，给测试和分析带来了巨大的挑战。     

DDR1&2&3信号完整性测试分析技术探析

1 DDR 1&2&3总线概览 DDR全名为Double Data Rate SDRAM,简称为DDR.DDR技术已经发展到了DDR 3,理论上速度可以支持到1600MT/s.DDR总线走线数量多、速度快、操作复杂、探测困难,给测试和分析带来了巨大的挑战.     

泰克公司推出DDR3-2133、DDR3-2400逻辑调试、协议验证解决方案

新的DIMM直插式夹具有助于客户使用现有逻辑分析仪模块进行更高速度的内存捕获2012年5月4日全球测试、测量和监测仪器提供商泰克公司宣布,推出用于逻辑调试和协议验证的下一代DDR3探测解决方案,采用了泰克TLA7000系列逻辑分析仪支持     

一种新颖的DDR3读写分离与眼图测试方法

DDR3器件广泛应用于各种设备的单板,而在实际调试与测试中,DDR3的读写时序测试是非常复杂的也是最为耗时的。本文比较各种读写分离方法优劣点及使用场合,通过分析DDR3读写时序的特点,利用ODT及读写前导码的时序关系,使用力科示波器特有的级联Cascaded触发功能,提出一种较为新颖的DDR3的读写分离的眼图测试方法。     

基于Infiniium MSO9000系列示波器的DDR总线测试方案

概述 DDR （Double Data Rate）DRAM由于性能和价格的优势,正日益广泛的应用于计算机平台以及各种嵌入式产品设计中。DDR规范从DDR1,DDR2发展到DDR3,并且也发展出主要应用于移动设备领域的LPDDR（低功耗DDR）。随着总线速度的提高,信号完整性问题,互操作问题越来越被设计和测试人员关注。而由于DDR总线复杂度高,探测困难,测试和分析也有非常大挑战。     

基于Infiniium MS09000系列示波器的DDR总线测试方案

概述 DDR(Double Data Rate)DRAM由于性能和价格的优势,正日益广泛的应用于计算机平台以及各种嵌入式产品设计中.DDR规范从DDR1,DDR2发展到DDR3,并且也发展出主要应用于移动设备领域的LPDDR(低功耗DDR).随着总线速度的提高,信号完整性问题,互操作问题越来越被设计和测试人员关注.而由于DDR总线复杂度高,探测困难,测试和分析也有非常大挑战.     

大尺寸 TFT 屏视频信号的尺度变换与降场频实现

为解决测试超高清视频处理主板需要更换不同规格TFT屏幕的难题,同时进一步缩短测试耗时;提出了一种FPGA器件联合DDR3 SDRAM存储芯片的尺度变换和降场频的系统结构,将不同分辨率和不同场频的视频信号归一化为高清视频信号。系统以4 K@60 Hz超高清视频作为输入信号,送到由FPGA控制的DDR3组成的视频数据读写模块中,实现数据跨时钟域传输和尺度下变换处理及视频数据的连接;连续输出尺度下变换与降场频处理后的高清视频信号。经对比实验测试,相较于多路FIFO加DDR3的存储结构,消耗的存储资源减少352 256 bit,同时转换过程耗时减少6.761μs。结果表明本系统更适用于生产线上视频处理主板的测试需求。     

FuturePlus Systems为泰克逻辑分析仪推出世界上速度最快的DDR3插补器

科罗拉多州，科罗拉多泉城，2008年6月18日讯——FuturePlus Systems公司目前为下一代双倍数据速率（DDR）SDRAM总线推出FS2355 DDR3 1333插补器预处理器。这款世界上速度最快的插补器是为用于泰克TLA7000系列逻辑分析系统设计的，以增强1333DIMM卡调试，改善最新的高性能DDR存储器技术的可靠性、加快产品开发周期。     

基于FPGA的DDR SDRAM控制器设计与实现

在高速数据采集系统中,高速大容量数据缓存成为1项关键技术.DDR SDRAM凭借其大容量、高数据传输速率和低成本优势,正在越来越多的被应用于高速数据采集系统中.采用Altera公司的Cyclone III系列FPGA和MT46V16M16 DDR SDRAM芯片作为硬件平台,完成了DDR SDRAM控制器的设计,使用S...     

泰克TLA6000系列逻辑分析仪推出新选件,简化DDR2测试

业内唯一中端逻辑分析仪DDR2调试和验证解决方案——提供从探测到分析软件的全套工具泰克公司日前宣布,推出完整的DDR2协议调试和验证解决方案,基于屡获奖项的TLA6000系列逻辑分析仪。     

泰克为探测内存推出新型探头前端附件 为DDR2和DDR3 DIMM测试推出的多款新探头前端附件提高了适用性,降低了成本

泰克公司日前推出多种新型探头前端附件,支持高达8GHz的信号带宽,包括适用于P7500系列Tri ModeTM差分探头的高温探头前端附件。新探头前端附件是为探测DDR2和DDR3内存DI MM专门设计的,也可以用于通用探测应用。新附件使用插座电缆技术,连接快捷简便。与市场上现有的产品相比,新