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《纳米技术与精密工程》2016,(1)
针对半导体器件微结构侧壁关键尺寸检测需求,设计了一套三维原子力显微镜(3D-AFM)系统.该系统采用针尖末梢为喇叭口形的悬臂梁探针,以扭转谐振模式实现横向轻敲扫描.介绍了该3D-AFM系统的结构组成和工作原理,对系统的横向检测灵敏度进行了标定,获得了喇叭口针尖与样品侧壁横向接近过程中探针扭转振幅的变化曲线.利用该系统对栅格标样侧壁局部形貌进行了线扫描和面扫描,所得轮廓具有较好的重复性,且测量所得形貌特征与常规轻敲模式扫描结果一致,表明本文所述3D-AFM系统及工作模式能够用于微结构侧壁形貌的检测. 相似文献
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利用各向异性化学湿法刻蚀工艺在Si(100)上加工了具有本征侧墙角(54.73°)的典型微机电系统(MEMS)梯形结构.用该微结构作为线宽测试结构,对其进行了原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)线宽和轮廓的比对测量.并对AFM探针和样品耦合效应进行了研究,提出了AFM探针参数动态表征的模型,基于几何模型对线宽和轮廓测量中探针针尖形状和针尖位置参数进行了表征,提出了用曲率半径、安装倾角、扫描倾角和针尖半顶角来对原子力显微镜探针针尖进行表征.该方法是对现有AFM探针表征模型的改进和完善. 相似文献
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介绍一种扫描隧道显微镜针尖的直流腐蚀电路。电路中使用了MOS场效应管和快速比较器,使电解池切断时间达500ns。同时对影响针尖形状和尖度的各种因素进行了实验研究,并分析其电化学机理。文章也对交流腐蚀铂铱针尖进行了探讨。 相似文献
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机匣壳体因其制造材质的局限性、结构的复杂性,其曲面轮廓的扫描检测难度很大。本文通过对关节臂的实时曲面点扫描方法的探索与研究,解决了机匣曲面轮廓扫描所出现的盲区检测问题。 相似文献
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使用SPM的纳米级加工技术新进展 总被引:2,自引:0,他引:2
袁哲俊 《纳米技术与精密工程》2004,2(1):45-49
扫描探针显微镜(SPM)现在不仅用于表面微观形貌的检测,同时也用于纳米超精密加工和原子操纵,该文介绍了用STM和AFM进行纳米级加工的各种最新方法:针尖直接雕刻,针尖光刻加工,局部阳极氧化,原子沉积形成纳米点,原子去除形成沟槽微结构,多针尖加工,原子自组装形成三维结构等.使用SPM的纳米级加工对发展微型机械、纳米电子学和微机电系统具有重要意义. 相似文献
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弧面分度凸轮轮廓的精密测量与误差评定 总被引:3,自引:0,他引:3
本文论述了采用三坐标测量机利用其扫描功能以径向、旋向两各方式实现地凸轮轮廓面数据的采集来检测凸轮廓面的方法,并运用EB样条建立了轮廓的误差评定理论。 相似文献
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杜坤欧屹冯虎田荣乾锋 《振动与冲击》2017,(21):238-247
为检测滚动直线导轨副滑块内滚道的位置、圆弧半径,提出了一种基于激光位移传感器测距的滑块内滚道的检测方法,该方法将激光位移传感器相对内轨道轴线以一定角度倾斜,通过扫描内滚道轮廓得出一个半椭圆轮廓,以最小二乘法进行椭圆拟合。通过数学分析,内滚道位置和半径大小可以转化为拟合椭圆的形心位置和椭圆的短轴长。通过对高精度圆柱做等效验证试验,验证了测量方案的可行性,最后进行了多方面的误差分析。 相似文献
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为分析外界振动对扫描探针显微镜(SPM)针尖一样品副的影响,提出“抑振系数”的概念.围绕SPM针尖一样品副的动态力学模型,对抑振系数的物理含义、影响因素等进行了理论分析.搭建了SPM激振、测振的实验系统,对不同的SPM扫描器、探针、样品、针尖预应力以及针尖一样品副开/闭环对SPM抑振系数的影响进行了实验研究.在理论分析上和实验研究中,都证实SPM抑振系数与悬臂梁的有效质量、弹性系数、空气阻尼系数、针尖与样品的接触弹性系数和接触阻尼系数等相关,反映在实际SPM部件参数上,则较短的扫描器、较长的悬臂探针、较软的样品表面、较大的探针预应力、闭环控制的针尖一样品副等都是提高SPM抑振性的途经. 相似文献
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糙米轮廓形状描述是糙米品质检测及碾白加工机理分析的基础。本文主要在前期糙米轮廓激光扫描的基础上,对其形状加以进一步分析,即外形轮廓可分为胚芽部位与非胚芽部位两部分。针对两部分轮廓特点,对非胚芽部位采用激光环扫方式;而对胚芽部位采用先旋转轴线后纵切扫描方式。以期获得完整的糙米扫描数据,为建立较为精确的糙米扫描轮廓模型,尤其是能准确还原胚芽部分的形貌特征提供数据依据。同时开发实现该扫描运动的机电测控系统。 相似文献