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利用振动台和频谱分析仪对碲镉汞中波光导器件的噪声进行了研究.随机振动的实验结果表明,振动环境中测量到的噪声随着随机振动功率谱密度的增大而线性增加,其比例系数是分段的,当振动功率谱密度小于0.01 g2/Hz,为32μVHz0.5/g2,大于0.01 g2/Hz,为80μVHz0.5/g2.对实验结果进行了初步分析,认为振动能量以一定的内耗系数转化为热能,以声子的形式在碲镉汞材料内传递,改变了晶格振动的能级,影响了材料的散射特性,从而影响器件的输运特性、电阻率等电学特性,产生了附加的振动噪声. 相似文献
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本文叙述在低温<80℃条件下,实现一次性焊接的同时,研究了焊点的外形,焊接的牢固性等问题,并就导电性能与热压焊进行了比较。 相似文献
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本文概要叙述了128元长波碲镉汞焦平面器件的原理及研制工艺;CMOS互连后测试结果:峰值Dλ^*=3.4×10^10cmHz^1/2W^-1,Rvλ=1.2×10^8V/W,利用128元长波碲镉汞焦平面器件研制成功的热像仪成像情况。 相似文献
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采用机械抛光和机械化学抛光的方法进行碲镉汞焦平面器件的碲锌镉衬底背面减薄,最后利用专用腐蚀液腐蚀的方法将碲锌镉衬底全部去除,碲镉汞完全露出;器件测试结果表明减薄后的MW1280×1024器件经受高低温循环冲击的可靠性显著提高。 相似文献
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本文通过多元光导器件制备实践和专题实验,考察了器件平均电阻R_D与材料电阻率p的关系,对器件和材料之间出现的不对应性进行了分析和讨论。 相似文献
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采用不同钝化工艺制备了一系列具有不同P/A比的变面积光电二极管器件.在77~147 K温度范围对器件R_0A和1 000/T关系进行了分析,结果表明在该温度区间器件暗电流主要以扩散电流占主导.对器件的R_0A分布进行了研究,77 K下HgCdTe薄膜内的体缺陷及非均匀性对器件性能产生了重要的影响;127 K下由于体扩散电流增加,缺陷对器件的作用显著弱化.77 K和127 K下器件R_0A随P/A比增大而减小,表明表面效应对器件具有重要的影响.基于Vishnu Gopal模型对器件1/R_0A值和P/A关系进行了拟合分析,证实了器件存在较大的表面漏电现象,且通过表面钝化工艺的改进,有效减小了表面效应对器件性能的影响. 相似文献
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碲镉汞(MCT)红外探测器在天基平台中的应用正在逐渐增多,运行于空间辐射环境这一特点给其功能实现带来了挑战.MCT器件的独特性质要求人们对空间辐射效应给予特别考虑.目前,通过利用CdTe钝化MCT探测器技术,器件的总剂量脆弱性问题已经得到解决.随着材料质量的改进(例如通过降低原生缺陷浓度),MCT器件更容易受到位移损伤... 相似文献
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用化学腐蚀法观察到,器件工艺过程中的机械应力和效应力使碲镉汞(HgCdTe)晶片的位错大幅度增殖,汞气氛下低温热处理(220℃)使(HgCdTe)体材料的位错密度增殖3~4倍,并分别对实验室结果进行了分析讨论. 相似文献
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本文通过超声楔焊过程,理论分析了塑性变形和界面的切向移动是提高焊接质量的两个主要因素,根据上述两方面因素,结合我们目前的多元光导碲镉汞器件流程中半过渡延伸电极形成区焊区的特点,提出了适合该工艺压焊区薄膜的最佳厚度在500nm以上,膜层要有良好的欧姆 相似文献
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报道了HgCdTe光导探测器光电参数随温度变化的关系,重点描述了光谱响应变温测试,给出了HgCdTe器件从液氮到室温 之若干个不同温度点测试的光谱响应曲线及器件变温测试的性能参数对照表,并与经验公式计算结果进行对比,给出了相应的测试误差分析。 相似文献