生物医学EDS定量分析中薄标样的建立

EDS定量微分析越来越多的被用于生物医学领域,EDS定量微分析的准确性,主要取决于是否有适合的标样,对于生物EDS定量微分析来说,标样的选择及获得较困难,考虑到吸收,荧光和原子序数修正带来的问题,许多专家趋于使用有机薄膜标样。现在国外发展的薄标样主要有树脂——18冠醚6、Gelatine及Naphthenate,但这三种薄标样均存在着难以克服的缺陷:树脂——18冠醚6薄标样在均匀度方面还存在着争论;Gelatine标样的线性范围很小;Naphthenate的线性区很小,稳定性极差,因此,生物标样的研制一直未有突破。     

硅酸盐、氧化物电子探针分析中的标样问题及某些标样的制备

本文分析了硅酸盐—氧化物电子探针分析中标样的基本要求。指出了在氧化物分析中如使用线系为Z>18的K_α线和Z>45的L_α线,则可以用纯金属标样来代替氧化物标样。文中还提出了直接熔融法、助熔剂熔融法和热压法来制备氧化物标样。     

电子探针分析标样概论

文中论述了电子探针标准样品在定量分析中的重要作用,概述了统一探针定量分析计量标准的标准化工作:统一术语和概念;制定规范;制备、发放标样以及确立定量分析标准化方法。首先提出了探针标样的6个类,四个型和种的概念以及按发放单位来分级的办法,即国际、国家、部门三级。相应地编制了探针标样周期表以指导制备标样方向和定量分析。最后,对如何制备符合“GB—4930—85电子探针分析标准样品通用技术条件”的标准样品提出了应注意的几个问题,即:标样材料选择,清洁性,代表性和一致性,定值和配套。     

水泥熟料矿物的扫描电镜能谱定量分析研究

利用扫描电镜进行能谱定量分析时,可使用有标样法和无标样法。这两种方法的准确度不同,前者较高,后者稍低。在我国,能谱定量分析时普遍采用无标样法。这种方法使用无标样定量程序,它是从理论上计算出X射线的强度因子代替纯元素,其特点是无需标样,快速简便,但准确度低。该方法在国际上应用并不太广泛。为了查明无标样法的准确度究竟多少?它与实验条件及被测元素原子序数和含量的关系如何?需要筹集足够数量的标样。提出了一种能谱分析条件下测定标样均匀度和稳定度的方法。通过与同一标样在常规条件下的波谱分     

MmNi5-基储氢合金扫描电镜能谱仪定量分析

使用配备ＥＤＳ的ＳＥＭ,研究了ＭｍＮｉ５－基储氢合金的微观组织和微区成分。研究的合金中稀土元素含量低于化学比,晶界有Ｃｏ,Ｍｎ和Ａｌ富集相析出。分别使用ＲｅＢ６、ＲｅＰ５Ｏ和纯稀土金属作为分析稀土元素的标样进行定量分析。结果表明,全部采用纯金属标样（包括纯稀土金属标样）分析结果最好;采用ＲｅＢ６和ＲｅＰ５Ｏ１４作为分析稀土的标样时,分析误差较大。文章对误差较大的产生原因进行了讨论。     

电子探针定量分析中无标样联立方程法的研究

本文提出了电子探针显微分析中一种新的无标样定量方法—联立方程法,此方法对波谱分析和能谱分析均适用。从元素含量(或氧化物含量)和特征X射线相对强度的各种修正关系式(ZAF修正、α因子修正、δ因子修正等)出发,以标样X射线强度为未知量,并根据试样中所有含量加和为一这一事实,对一组含量各不相同的试样,可得到一组多元线性联立方程。通过求解可计算得到各个标样强度值,并计算各试样的含量。计算通过迭代方法完成,用电子计算机进行计算。当含量不同的试样的数目不足以使用完全无标样联立方程法,或已有标样的数目不足以使用有标样法时,可进行部分标样联立方程法的分析。     

《电视广播接收机主观评价节目源》制定简介

一、引言由机械电子工业部第三研究所国家广播电视产品质量监督检测中心主办的国家标准《电视广播接收机主观评价节目源》(以下称主观评价节目源)标准审定会于1991年8月30日在北京召开。参加会议的有来自机电部,广电部,有关科研单位,部分彩电生产企业,质检部门和家电公司等38个单位;52名代表。该标准包括标准文本和实物标样两部分。代表们在观看实物标样的基础上,对标准文本和实物标样制作质量进行了认真的讨论。与会代表认为,两年来经两次讨论和多次征求专家们的意见,修改后的节目源标样编辑、制作的技术水平和质量水平较高,能够作为国家标准提供给     

直接无标样x光能谱定量分析

本文将文献〔1〕的二元化合物成分的x光能谱无标样定量分析推广,使之应用于含有少于9个元素(原子序数11-83)的样品的无标样定量分析。并用BASIC语言编成EDAX9100谱仪能使用的分析程序。与EDAX9100上的Russ间接无标样分析程序比较,分析精度有所改善。     

生物试样的定量X射线显微分析

生物试样的定量X射线显微分析一般包括三个步骤:特征信号与背景信号的分离;分析已知成份的标样;应用定量理论对试样的谱线与标样的谱线进行比较。对于薄的,厚的和半厚的试样定量方法是不同的。生物试样定量显微分析中存在的问题有:低计数率、试样损伤和质量损失、污染和过强的外来辐射源产生的背景。     

电子探针分析无标样联立方程法的多试样回归分析

电子探针分析无标样联立方程法中,试样有n个组元,只要有含量各不相同的n个试样,可求得n个标样强度值,并计算组元含量。用部分标样和试样联立,也可进行。在此基础上,本文考虑当试样数大于组元数时,用回归分析处理,可提高分析结果的准确度。     

稀土氧化物探针分析标样

本文报导了用直流电弧法制备15种稀土氧化物电子探针分析标样的方法。从HI和SI的鉴定、定值分析测试结果论述了电子探针标样的有关问题。     

生物薄试样电镜X射线显微定量分析法进展

本文重点介绍应用Hall理论进行生物薄试样电镜X射线定量分析的原理和近年来运用此理论进行分析所采用的有关扣除背底、峰剥离、外源性背底校正以及标样等技术。文中还描述了“薄试样”的条件,介绍了近年运用Link公司开发的分析软件测定各元素的标样参数(FST)、根据标样参数对生物薄试样进行元素分析的方法。     

电子显微分析中的金属及半导体标样

本文概述了电子探针显微定量分析及对标样的要求。介绍了Fe、Sn、Ge、GaAs、InP、Lu_3Fe_5O_(12)、Yb_3Fe_5O_(12)标样的制备和有关参数。     

电子探针分析用标样检验中的一些问题

作为电子探针分析用标样,必须具有微米尺度空间范围的成份均匀性,用高于探针分析精度和准确度的分析方法加以定值,并且在真空中,电子轰击下具有良好的稳定性,能长期保存、使用。为了正确地鉴定这些属性以进一步判断标样的质量和实用性,应当有一套较为完善的检验方法和合理的判据,根据几年来标样工作的实践,提出以下几方面和大家一起讨论、研究。     

俄歇电子能谱表面定量分析

本文叙述了表面定量俄歇分析的一些方法:(1)多元素标样法,(2)纯元素标样法,(3)灵敏度因子法。给出了利用JAMP-10型俄歇电子谱仪进行定量分析(包括深度定量分析)的一些结果。     

电子探针对硬玉的无标样定量研究

由于电子探针分析技术能将矿物的形貌与所需分析的矿物部位进行对应点分析,因此其分析具有对应性强的特点,有利于对矿物组成中的不同组分进行化学成分分析,对于有标样矿物分析,具有精确度高,分析点准确的特点。但对无标样或其成分中含Na或Na被Ca、Al、Mg、Cr、Fe部分置换的矿物则分析误差较大,难利用电子探针进行精确的定量分析。本文结合电子探针对硬玉NaAlSi2O6的无标样定量分析对硬玉做一些研究。无标样探针分析数据的修正原理硬玉的化学成分较简单,但其中元素的置换所引起的成分变化是研究翡翠类型的重要数据,为此需要大量分析数据…     

较低倍X射线像的灰级修正

应用同型计算机直接采集电子探针Ｘ射线像,并用伪彩色显示技术进行观察。发现电子束扫描方式下的低倍Ｘ射线像存在严重失真,并且倍数越低越严重;相同倍数时,谱仪的低波段比高滤段严重;不同谱仪上迭起方向不同。极低倍Ｘ射线像已无法使用,较低倍Ｘ射线像可以进行灰级修理。修理方法是,在完全的相同的实验条件下,分别采集标样和试样中某元素的Ｘ射线像,根据标样Ｘ射线像找出各像素点的修理因子;用该修正因子对试样元素的Ｘ射     

我国电子探针标准样品技术条件的研制说明

“电子探针分析标样通用技术条件”(国际GB4930—85)已由中国国家标准局于1985年正式公布执行。本文叙述了“通用技术条件”的研制历史过程,以及均匀性指标(H.I.),稳定性指标(S.I.)的基本定义。本文也详细地说明测量H.I.,S.I.时的技术要求以及讨论了它们相应的临时判别值。对于标样的元素成份定值要求,标样尺寸大小以及其他条件也做了必要的叙述及解释。     

研究热轧过程磨损机制的扫描电镜的原位观察技术

报导本实验专门为研究热轧过程磨损机制而设计的一种扫描电镜原位观察技术。采用一种新的设计方案,把定位参考标样和被研究的试样分开制备,然后把两者按高精度公差配合要求而粘合在一起,如图(1)所示在图(1)中,B作为定位用的参考标样,在其紧邻被研究的试样A—侧开一贯穿裂纹作为定位的基准。试样A和试样B的宽度W被加工成高精度公差配合,以保证A试样可以利用B标样的裂纹尖端位置作为原始位置的基准。试样A单独在本实验室所设计的模拟热轧过程的试验机上进行试验,每阶段热轧1000周次后,从试验机上取下,再同参考标样粘合在一起,然后放进扫描电镜中进行原位观察和分析,其方法和步骤如下:1.在扫描电镜显象管荧光屏的左侧预先做好垂直位置和水平位置标记线。然后在低倍数下调节试样的位置,使试样A和参考标样B的交界线刚好对准垂直标记线,而在参考标样B上所观察到的裂纹刚好对准水平标记线。2.把放大倍数增加到350倍,从所观察到的A试样的微观细节找特征部     

能谱仪（EDS）无标样分析程序背底扣除的实验技术

能谱仪（ＥＤＳ）无标样分析程序背底扣除的实验技术张大同（华南理工大学测试中心，广州５１０６４１）利用无标样分析程序计算样品成分，必须精确地扣除背底。能谱背底是由样品中产生的连续谱Ｘ射线所形成。Ｆｉｏｒｉ等考虑连续谱被样品基体和探测器的吸收，提出背底模...