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相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 281 毫秒
1.
从质量等级的概念入手,通过比较采用不同质量等级的元器件的电源系统的平均故障间隔时间,详细论述了元器件质量等级对系统可靠性的影响。最后阐明了如何正确选择及合理使用元器件,它是实现高可靠性水平系统设计的基础。  相似文献   

2.
文章分析了现阶段商业低轨通信卫星星座用元器件保障模式,导致的卫星研制成本居高不下的挑战,提出在保证卫星可靠性的前提下,从差异化元器件等级选型、优化集中采购模式和元器件差异化质保等3个方面论述降低商业卫星星座用元器件成本的方法,以达到指导型号元器件选型、评价与验证、质量保证等,以建立起满足商业航天应用需求的元器件低成本长期稳定供应体系,支撑商业航天型号工程顺利实施,为国内商业低轨卫星星座用元器件供应模式提供借鉴参考.  相似文献   

3.
针对生产与销售电感线圈、滤波线圈、组合线圈等的相关元器件厂家或企业,电子元器件生产全过程的质量控制十分有必要.由此,本文介绍了一种具有高度适用性的基于SPC下的电子元器件生产过程质量控制系统,并进一步对系统的功能设计与关键技术进行了相关分析.  相似文献   

4.
老炼筛选试验是电子元器件的产品质量控制的重要方法之一,为剔除具有潜在缺陷的电子元器件提供数据参考。为了提升老炼筛选方法对电子元器件品质控制的筛选强度,设计了电子元器件老炼筛选灰色预测挖掘模型和质量控制灰色关联模型,有效保障电子元器件的可靠性。采用质量灰色预测挖掘算法以及质量灰色关联-关联规则算法,以期在质量信息数据库中找出数据信息置信度大于预定阈值的规则以此预测电子元器件未来的质量控制趋势。在此基础上研究已经发生故障的元器件与老炼筛选之间存在的关系,按照关联规则数据挖掘的流程,构建电子元器件老炼筛选方法提升元器件质量控制的数据挖掘筛选模型。最后通过算例试验证了该算法提升老炼筛选方法对电子元器件产品质量控制的有效性,有效提升老炼筛选方法的合理性。  相似文献   

5.
针对电子元器件可靠性问题设计了电子元器件老化测试系统,实现在仿真的温度环境下对电子元器件进行老化测试,自动检测出元器件潜在故障缺陷,保证电子产品良好的加工质量与可靠性,为改进生产工艺和提高产品质量提供有效保障。  相似文献   

6.
根据微小电子元器件的形状和正反两面的纹理特征,提出一种基于图像处理的微小电子元器件自动计数算法.该算法采用层次特征提取及数学形态学的图像分割算法,对图像中的元器件正面和反面,分别进行图像处理.根据元器件反面亮度高及纹理简单的特点,采用阈值化方法对其进行完全分割.将正面朝上的元器件从图像中分割出来,并采用数学形态学方法分离粘连的正面元器件.从而对粘连在一起的微小电子元器件实现了完全分割.对元器件进行精确分割后,即可采用连通区域标记的方法对所有分离的元器件进行计数.该算法实现了微小电子元器件实时自动计数,计数精度达到百分之百.  相似文献   

7.
随着电子元器件制造工艺的不断进步,当前电子器件行业朝着高集成度、低工作电压、低功耗和小型化的方向发展,这就使得元器件功能在不断强大的同时,成本却在不断缩减。当然,由于电子元件的工作电压不断降低,这也降低了电子元器件的抗静电能力。电子产品在使用过程中,如果静电防护措施做的不好,就有可能被人体静电损坏。人体静电等级最高可达上万伏,尤其在冬季,由于空气干燥静电不容易被空气中的水分子释放掉,所以容易累计在物体上。因此电路设计中必须做静电放电防护措施,以防止因ESD放电造成元器件损坏或设备故障。  相似文献   

8.
所谓二次筛选,是对电子元器件施加一种或多种应力试验,暴露元器件的固有早期缺陷而不破坏其完整性,是非破坏性试验。二次筛选对剔除存在制造缺陷的早期失效元器件有十分必要的作用。本文阐述了元器件二次筛选范围、目的、原则、方法和质量控制、失效分析等过程。  相似文献   

9.
随着我国经济发展的速度不断加快,电子产品的使用范围越来越广,已经成为人们日常生活中不可缺少的一个重要部分。电子元器件是电子产品中最主要的一部分,它的好坏直接关系到它的使用寿命与服务品质。为了提高产品的合格率,应当重视对其质量的提升。通常,所有的电子元器件在投入使用之前都需要进行二次筛选,以保证其质量得到有效地控制,从而提升产品使用的可行性。鉴于此,本研究将以电子元器件为研究对象,结合实际的实验,从筛选试验方法、目的、原则三个方面探讨电子元器件老炼二次筛选质量控制的内涵,并从电功率老炼、电参数测试以及失效防止三个方面提出针对性的二次筛选质量控制方法,实验结果显示,将上述几种质量控制方式应用于电子元器件筛选中具有较好的效果,可以提升质量控制的效果,提升电子元器件的使用寿命。  相似文献   

10.
电子元器件在现代工业中起着至关重要的作用,然而在制造元器件的过程中往往会出现一些缺陷,这些缺陷可能会导致元器件的性能下降甚至完全失效。因此,本文设计一种基于深度学习的电子元器件快速检测的系统,为电子元器件的自动化检测提供了新的可能性。文章首先设计了系统总框架,然后详细介绍了系统的软件设计,其首先收集并构建一个大型的电子元器件缺陷图像数据集,对元器件的图像进行训练,学习其缺陷的特征表示,训练完后将训练后模型通过深度学习模型集成与部署模块部署到实际的检测系统中,通过提高检测元器件的效率和准确性,以期为电子制造业的质量控制提供新的解决途径。  相似文献   

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