基于弹性背散射率的低能电子IMFP计算

采用蒙特卡罗程序对Fe、Cu、Ag和Au表面的电子弹性背散射过程进行了研究.模拟程序中电子的弹性散射截面使用在Dirac-Hatree-Fock交换势下求解得到的Mott散射截面.计算了固体表面弹性背散射率随非弹性散射平均自由程(IMFP)的变化规律,利用弹性背散射率实验数据得到能量为100-2000 eV的电子IMF...     

一个PIXE-RBS离子束分析系统的刻度

四川大学原子核科学技术研究所依托2.5 MeV范德格拉夫静电加速器搭建了质子诱发X射线荧光分析(Proton Induced X-ray Emission,PIXE)与卢瑟福背散射分析(Rutherford Backscattering Spectrometry,RBS)相结合的离子束分析系统,描述了该分析系统和刻度过程。通过10个金属单质的PIXE-RBS测量,刻度得到的仪器常数H值是一条随能量变化的曲线,然后采用最小二乘法拟合确定了X射线探测器前的Mylar膜有效厚度、选择性滤膜的有效厚度和中心小孔大小,从而得到H值。为了对刻度H值进行检验,在相同实验条件下测量了标准粘土样品元素成分,测量数据与证书数据符合得较好。刻度结果将用于以后的PIXE-RBS分析。     

100 MeV回旋加速器能量测量设备的安装调试

正为了测量100 MeV回旋加速器实际输出质子束流的能量,回旋加速器研究设计中心采用了Physikalisch-Technische Werkst tten(PTW)公司生产的水体模剂量测量系统(以下简称水箱)测量质子束流在水中的深度剂量曲线,确定布拉格峰位置。测量采用的是100 MeV回旋加速器南向单粒子效应束流线和单粒子效应实验台架。该束流线是一条水平方向固定的束流线,因此输出的质子束流为水平方向固定束。水箱的侧面有一个入射窗,入射窗处安装1个参考探测器。束流线与     

固体核径迹氡探测器刻度系数及其受大气压强影响的蒙特卡罗模拟计算

利用氡及其子体在测量容器中的位置分布和衰变时α粒子出射方向的随机性,建立了固体核径迹氧探测器(SSNTD)的刻度系数的蒙特卡罗模拟计算程序。对不同大小的圆柱形容器和不同类型探测片(CR-39、LR-115)氡探测器的刻度系数进行了计算,其结果与已有的实验数据符合较好。     

基于~(90)Sr源β射线的外推电离室入射窗修正因子

为实现外推电离室对β辐射吸收剂量的准确测量,对影响外推电离室入射窗修正因子k_(wi)的主要量进行了研究。实验测量了外推电离室不同极间距和不同源-探距(源到外推电离室入射窗表面的距离)下的k_(wi)。研究结果表明,在源-探距不变的条件下,k_(wi)随电离室极间距的增大而减小;在电离室极间距为3 mm的条件下,k_(wi)随源-探距的增大而减小。利用蒙特卡罗模拟计算出不带展平过滤器、源-探距为30 cm、电离室极间距为3 mm时,k_(wi)为1.084 5,与实验测量结果比较,其相对偏差为0.11%。因此,在给出k_(wi)的同时,应提供相应的源-探距和电离室极间距。     

基于γ射线的阵列式康普顿背散射二维测量控制系统

基于γ射线阵列式康普顿背散射探测系统的特点,设计了相应的二维测量控制系统,完成对测量对象某一断面的自动测量。系统基于VC开发设计了相应模块,包括了步进电机控制模块、数据采集与通讯模块和信息显示与保存等模块,实现了探测位置的准确定位控制,并对背散射数据进行自动采集传输、显示及保存,系统控制界面友好,显示丰富。实验测试表明系统设计合理可靠,较好满足了阵列式康普顿背散射检测系统要求。     

1 A GeV下Au+Au反应中的径向流的Blast-wave方法分析

径向流是重离子碰撞中研究高温高密核物质性质极为重要的实验可观测量。本文在同位旋相关的量子分子动力学(Isospin dependent Quantum Molecular Dynamics,IQMD)模型框架下,用爆炸波模型提取1 A GeV的Au+Au反应体系中的径向流和热力学冻结温度,发现径向流的大小由中心碰撞到周边碰撞逐渐减小,与FOPI(4πCollaboration)实验结果及其他模拟结果一致。同时详细分析了径向流参数α对拟合结果的影响,得出此能量下α合理取值范围应在0-1。     

重离子反应实验计算机离线分析中的修正方法

本文介绍了几种采用△Ｅ－Ｅ望远镜和飞行时间探测器系统所进行的重离子反应实验的数据的刻度和修正方法，特别是通过形成弹性散射冲高度中心谱对入射窗厚度及其非均匀性的修正方法。这些修正明显提高了对类弹碎片的电荷和质量分辨。     

利用背散射方法测量整体X光透镜的性能

为了避免探测系统的死时间问题,采用有机玻璃刀口作为散射体来降低探测系统死时间.通过分析来自有机玻璃散射体的背散射谱,测量了不同能量X射线在透镜会聚光束中的空间分布,为分析"光晕(halo)"现象提供了能谱依据,在此基础上,系统地分析了"halo"现象.在大能量范围内,分别利用轴向扫描法和刀口扫描法测量了透镜出口焦距、发散度及焦斑大小与能量的关系.利用背散射方法测量透镜焦斑直径时的相对误差在3%以内;利用轴向扫描法确定透镜出口焦距时的绝对误差在-120-120μm之间.     

132 I半衰期的测量

采用位置接力法和HPGe γ谱仪跟踪测量132I的半衰期.位置之间的交替测量避免了效率刻度,设定每次跟踪测量的真时间相等,简化数据处理,并用平移和迭代两种方法进行数据处理.实验测得132I的半衰期为(2.283±0.002)h,经检验数据可靠.