磁力轴承数据采集与处理系统的测试技术

在介绍数据采集与处理系统组成的基础上,提出了磁力轴承数据采集与处理系统的测试技术,主要探讨A/D转换与D/A转换部分的测试方法,给出了测试程序片断,并指明了控制器、功率放大器及线圈的测试技术.最后给出了磁力轴承工作时转子振动特性的实验测试结果,以此判断数据采集与处理系统是否出现异常.     

J750到BC3192测试程序转换方法

由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。     

ASIC及集成系统设计方法

ASIC系统设计过程主要分为：设计前期，将用户要求转换为用于设计的技术规范。设计过程，软／硬件划分、电路设计与软件开发、系统仿真、可靠性分析、制造和生产、系统测试。设计后期，为系统软件和硬件的测试生产测试程序和测试矢量。     

分立器件测试系统软件平台的设计及实现

为解决目前国内分立器件测试系统成本高,可维护性低等特点,开发了一套性价比高、操作简单、自动化程度较高的测试系统。并采用层次化、模块化的软件结构设计方法,设计开发了分立器件测试系统的软件平台。该软件平台可以完成系统硬件资源自检与校准、软件账号管理、流程图测试程序自动转换、测试指标报表生成及打印等一系列功能,并做到测试程序...     

基于脚本的自动化软件测试框架

为缩短测试周期,提高软件自动化测试的效率,设计了一种自动化测试模型,在模型框架内根据测试场景定制自动化测试程序。通过框架内组件的复用,达到快速开发自动化测试程序的目的。该自动化软件测试框架模型采用了脚本技术、关键字驱动测试技术以及可扩展标记语言(XML)技术,有效提高了测试效率,减轻了测试人员的工作压力,提高了测试资产的利用率,增强了脚本的可维护性,缩短了自动化测试的准备时间。基于该框架的自动化测试程序已经在一些小型项目中得到初步应用,能够覆盖基本的功能测试需求。     

集成电路测试系统软件的设计及实现

本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建模的基础上讲述了集成电路软件的结构及设计方法。着重介绍了流程图测试程序转化为文本测试程序的方法以及对文本测试程序的编译方法。用户只需要根据测试流程编写流程图即可以实现测试程序的编写,实现对IC的测试,提高了开发效率。该软件系统具有和硬件系统低耦合性,当向集成电路测试系统添加删改硬件时,不需要修改太多的软件内容即可以正常工作,通用性较好。     

CAM在飞针测试文件转换中的运用

在飞针测试前要先进行测试文件转换,CAM软件能够很好地完成这一工作.介绍了CAM软件在飞针测试文件转换中的运用,以PCB设计软件Protel为例,讲述CAM350进行飞针测试文件的转换过程.     

基于数据流的软件测试序列自动生成技术研究

测试用例自动生成技术是软件测试的一个重要研究领域，而如何从待测试程序中选取适当的测试序列集合是其中的一个关键问题。文章提出一种构造结构性测试序列集合的方法，此方法首先对待测试程序进行静态分析，然后根据程序的语句间关系生成程序图，最后基于数据流测试准则，根据程序图以及变量的定义和使用信息构造结构性测试序列集合。在Linux平台上使用这种方法对若干条程序进行分析处理，得到的测试序列集合可以使待测试程序得到充分测试。本文提出的方法具有比较高的测试覆盖，同时，在计算过程中避免了无用路径的生成，节省了算法空间和执行时间。     

高效率测试MPW晶圆上的同类型芯片的方式

本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率。列举了正常测试程序流程的不足,阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比,采用新的测试方法,优化测试效率,进而降低了测试成本。     

一种MCU的测试解决方案

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点.文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案.使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本.     

基于硬件规范信息的测试设备设计

在介绍一种多对象适用自动检测设备硬件结构的基础上,详细叙述了该自动检测设备应用软件设计时将被测对象信息、检测设备硬件平台同被测对象间的硬件关联信息相对于测控程序进行分离并规范的思路及方法。通过硬件规范信息库的构建,该自动测试设备测控程序大大地减少了对检测设备与多被测对象硬件的关联性,具有一对多、易于扩充的优点。     

虚拟仪器与传统ATE联合测试技术研究

虚拟仪器技术是测试领域的重要发展方向,在IC测试中也有广泛应用。传统IC测试技术主要基于传统自动化测试系统(ATE),随着IC设计和制造技术的进步,普通IC测试系统已不能满足研究和生产需要。文章介绍了一种利用虚拟仪器技术与传统IC测试系统结合的测试方案。该联合测试系统把传统测试系统、数据采集卡和分立仪器通过LabVIEW程序联合在一起。系统组成包括硬件和软件两部分,其中硬件部分由ATE系统、测试PC和示波器组成,软件使用LabVIEW程序编写,完成仪器控制、数据采集和报表生成等功能。该系统已完成了某型号数模混合电路的测试。     

电流输出控制设备在ATE上的TPS开发设计

简要阐述了ATE测试平台的应用背景和在电子设备测试维修中的必要性,对ATE测试平台的功能、组成和工作原理做了概括描述。介绍了测试程序集（TPS）的组成及在ATE测试平台上的开发设计思路。并以电流输出控制设备为例进行TPS开发设计,在分析了电流输出控制设备测试需求的基础上,具体设计了电流输出控制设备在TPS开发中的测试接...     

一种FPGA验证与测试方法介绍

文章重点介绍了一种FPGA验证与测试的方法。该测试方法的优点是不依赖于芯片设计与测试机台,低成本、开发周期短。基于PC、ATE与自制转换软件,对FPGA验证与测试开发技术进行研究。PC主要完成bin文件的生成,自制转换软件主要将bin文件转换为机器可识别的atp文件。ATE导入配置文件、完成信号输入与输出验证。基于该理论对Xilinx公司的XCV1000进行了实验,实验表明该方法可行并能快速实现测试开发与芯片验证,且具有很好的通用性,可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证,还可以应用于不同的ATE机台。     

面向TPS架构的混合电路测试系统设计

面向测试程序集（TPS）软件架构是通用自动测试系统的发展方向,而建立统一的测试系统模型是测试系统中资源管理与配置的关键。提出了一种基于TPS的自动测试系统建模方案及实现机制,利用关系型数据库建立包括仪器仪表资源自动配置、被测件管理、测试底版通信控制的自动测试系统模型。基于VC6.0平台,在测试主程序与仪器仪表控制、与测试底版之间建立引擎,实现资源的自动选择和配置,解决了测试程序对仪器仪表的依赖问题及测试底版的通用性问题。该方案已经成功应用于某出口三型雷达综合电路集成测试系统中。     

数字ATE上内部示波器的实现

内部示波器是ATE测试设备上的一个调试工具模块,它的主要功能就是可以动态地显示ATE被测芯片某个输出管脚的实时波形,是ATE测试设备进入中高端市场必备的一个模块。对于测试工程师来说,在编写测试程序或者调试测试程序的时候,相对于外部示波器来说,内部示波器的优点是非常明显的。本文主要讨论了如何在数字ATE上实现内部示波器的功能,以及实现上的一些难点和波形优化的问题。     

How to produce better quality test software

LabWindows/CVI is a popular C compiler for writing automated test equipment (ATE) test software. Since C was designed as a portable assembly language, it uses many low-level machine operations that tend to be error prone, even for the professional programmer. Test equipment engineers also tend to underestimate the effort required to write high-quality software. Quality software has very few defects and is easy to write and maintain. The examples used in this article are for the C programming language, but the principles also apply to most other programming languages. Most of the tools mentioned work with both C and C++ software.     

晶圆测试中BIN分设置的一种应用

本文介绍了一种集成电路晶圆测试过程中自动测试设备测试程序的BIN分设置的改善方案。通过设置多个PASSBIN,巧妙地应用了自动测试设备的BIN分类功能,从晶圆测试的汇总结果中直接得到关键参数的分布规律,避免了原来需要通过分析自动测试设备记录的详细数据才能得到分布规律的情况,省去了集成电路工程晶圆需要进行二次测试才能进行分类的步骤,对缩短集成电路工程品的测试周期、加强量产产品的工艺监控、提升晶圆测试的品质具有重要意义。     

某型声自导头自动测试系统设计与研究

提出了基于ATE技术的鱼雷声制导头自动测试系统设计思想和总体设计方案。在硬件设计中介绍了声制导头各部件的测试原理、方法、信号隔离电路设计。软件部分采用面向对象、可视化设计的快速应用开发软件平台Labview完成编辑、编译、连接、调试等开发。     

应用系统级ATE测试增进IC设计验证效率(英文)

在IC设计周期内尽早发现问题,对于保证项目在预算内按时完成是至关重要的。大多数设计公司目前的通用方法是利用分立仪器,如示波器、频谱分析仪等,连接至一块评估板,并连至PC机,搭建一个系统级验证系统。这样的系统比较易于搭建,但相对缺乏大量数据的分析处理能力,且通常需手动测试。另一方面,ATE在数据采集及分析处理方面具有非常强大的能力,例如SHMOO及自动测试。但通常ATE是在芯片级的自动化测试量产中大量应用,利用ATE进行系统级的测试并不容易。这里介绍一种新的方法,简化ATE上的协议通信设置,使得ATE能够在系统级测试中方便地应用,不增加测试成本,而且大大简化了ATE上的测试程序开发。应用此方案,设计及验证工程师可以协同工作,在短时间内搭建一个基于ATE平台的系统级的测试环境,充分利用ATE强大的数据采集,分析能力,更快更有效地进行芯片的测试验证,从而赢得上市时间。