DJS061-1微型计算机使用的N618ACRAM测试报告

前言为了提供061—1型微处理机存贮器,我们开始了N618ACN沟静态随机存贮器的研制。此报告只涉及有关该存贮器研制过程中的版图验证,直流参数、功能及交流参数的测试报告。存贮器的测试是以功能测试为主,参数测试为辅。所谓功能测试就是对存贮器的读写功能进行测试,这种读写功能测试是在改变寻址序列与改变数据图形,相结合的情况下进行的。内容包括检测所有存贮单元能否正确地     

Intel产品服务信息《五》

MDS.0052RAM诊断产品iMDX430/431/440/441 问题:当用户在系统中又增加额外的存贮器板时,希望能运用测试程序来测试这些额外内RAM板。“Seri Se IV Field Service Manual”没有清楚地给出如何进行这些测试,故不能实现对额外存贮板的测试。解决:用户可以使用“SZVEXT”诊断程序来测试额外的存贮器板。这可以通过设置V变量来实现。当“SZVEXT”被引入时,缺省的设置是这样的: 1)V(0)=01,以允许对全部板外内存进行有关测试。     

附录F STARAN计算机系统

STARAN是一台用它的内存的所有的或所选出的字同时执行算术、搜索、或逻辑操作的数字计算机系统。STARAN区别于一般计算机在于有四个主要特点: ·多维访问阵列存贮器。 ·按内容访问的存贮器(联想存贮器) ·对存贮器的每一个字有简单的处理器。     

高性能单片存贮器

本文包括三篇译文: (1)“高性能单片存贮器”——介绍IBM360/85系统等应用的高速双极缓冲存贮器的系统考虑、逻辑型式以及外围电路和使用情况。 (2)“64位平面双扩散存贮器芯片”——介绍上述存贮器所用的双极存贮芯片、工艺结构,布线图形和器件性能。 (3)“一种新型高性能双极单片存贮单元”——介绍上述存贮器阵列单元的电路原理、工艺图形设计及性能参数。     

五、语音处理中集成电路技术的影响

1、集成电路的特性 A 面积高密度只读存贮器在IC技术中,只读存贮器ROM是特别高效的。用一种动态读出电路和虚拟地参考系统,可使这种存贮器对每一位数据的绝对面积减少到最小值,即每一位仅要求一个晶体管,而该管的大小这样安排:用最小的扩散宽度和空间以及最小的表面来定义。由于处理的尺寸变小,ROM尺寸也自动变小,故在特性上保持了先进性,並超过随机逻辑电路。动态读出方法意味着对大阵列的存取时间将相对变长。这对于2~(13)位或更小的ROM来说不是主要问题,但当阵列达到2~(17)位范围时,要求的存取时间便上升到10至20倍逻辑周期时间。     

TTL中规模集成电话及其应用(第八讲)

<正> 二、只读存贮器(一)结构与参数1.结构因为双极型只读存贮器(ROM)的信息是预先写入的,一旦写入后,其内容就不能改变了,所以工作时只能读出信息。它不象随机存贮器那样,要用较复杂的双稳态电路作为存贮单元,而ROM可用熔丝、三极管、二极管等作为存贮元件。它是通过究竟是设置还是不设置存贮元件来表示存入的信息是“0”还是“1”的。这样,ROM的结构就要比RAM简单得多。其价格也比RAM要便宜。ROM一般采用多位结构     

具有程序存贮器和记号存贮器的数据流计算机结构

本文提出了使用两种存贮器——程序存贮器和记号存贮器的一种新的数据流计算机结构。程序存贮器(PM)存贮数据流程序或图以指明指令间数据相关性。在程序执行期间不需要改变PM,对每一个处理或操作部件需要复制PM 的内容。记号存贮器(TM)主要存贮当前需要的数据值并起到类似传统计算机上的累加器或寄存器的作用。要求TM 的容量相对地小,因为数据值在TM 中占留的时间是非常短的。在我们的结构中由于采用小容量的TM,从而可以减少操作部件和存贮器之间开关机构的复杂性以及控制电路的规模。     

只读存贮器的某些使用方法

本发明的范围 本发明涉及只读存贮器,这是一种能读出但不能写入数据的存贮器。本发明详细涉及到的存贮器其存贮元件是晶体管排列成的阵列或矩阵。例如,“1”可用一通导晶体管来表示,则“0”用一截止晶体管来表示。     

差错改正电路的设计

前言目前,作为计算机等信息处理装置的主存贮器,大都使用MOS半导体存贮器。在这些主存贮器中、往往使用差错改正代码(Error Correcting Codes;ECC)。在主存贮器中使用ECC的主要理由如下:1)把半导体存贮器用作主存贮器的最初阶段,效果是很差的。为了提高可靠性,采用了ECC。2)为减少用作主存贮器的每一存贮器集成电路封装的外引线数,采用了一位结     

CPU 的功能及其结构

1.CPU 的功能(1)CPU 和存贮器将用 CPU(Central Processing Unit:中央处理机)可以进行算术运算和逻辑运算等指令,按着处理问题的顺序排列起来的指令序列,叫做程序。存放程序和程序中使用的数据的装置是存贮器。在存贮器的存贮区中,一个一个地分布着若干地址。CPU 把地址送到存贮器,从这个以地址表示的存贮区域中,把指令或者数据取出的操作,叫做“读     

面向工业控制的一位微型计算机——第三讲 系统设计的几个问题(上)

<正> 一、交错存放问题在有些单机控制系统中,现场开关量输入或输出的数目(通常叫I/O点数)往往少于16,因此指令字长只要8位(4位操作码和4位I/O地址码)。如果用的是4位宽的存贮器(例如2114),则为了节约存贮器的片数,可以把操作码和I/O地址码交错存放在4位宽的存贮器里,即一条8位长指令占2个单元。同样,也可以把16位长的指令(4位OPC和112位I/O地址码)交错存放在8位宽的相邻2单元内。图1是交错存放的示意。     

ATLAS计算机的管理程序

1.引言Atlas 计算机是一台大型通用计算机,其中包含各种类型的外部设备与大容量的存贮器,它们都受计算机内部的“管理程序”(Supervi-sor)控制。磁心存贮器是主要的存贮器,工作周期为2微秒。如果采用多路选择方法,实际工作周期还可以缩短。磁心存贮器划分成若干     

DUAL(MC68000)微机的综合测试系统——TEST86

本文详细介绍了在DUAL(MC 68000)微机上实现的一个综合测试系统TEST86.该测试系统全面、严格的实现了对CPU板、外存贮器、C编译器、文件系统等模块的各种功能测试.文中重点讨论了CPU模块的故障模型建立,测试数据选择以及测试算法的生成,并在此基础上实现了测试程序,生成了一个较为通用、完善的测试系统。     

TTL中规模集成电话及其应用——第七讲 存贮器

<正> 存贮器是电子计算机不可缺少的组成部分。由于存贮器的容量不断增大、电性能和结构不断改进,亦起到了促进计算机发展的作用。随着科学技术的不断发展,对于容量大、存取速度快、耗电少、体积小、成本低、可靠性高的存贮器的需要日趋迫切。因此,具有这些特点的半导体存贮器正在逐步替代磁芯存贮器。半导体存贮器按采用元件的类型来分,有双极型和MOS型两类。前者的存取速度比后者高,但集成度不如后者;半导体存贮器按功能分类,有随机存贮器(也有叫随机存取存贮器、读写存贮器的,英文缩写为RAM)和只读存贮器(又称固定存贮器,英文缩写为ROM)两类。使用随机存贮器时,可以随时把信息从它的任一选定的单元中取出(称读出),又可以随时把新的信息写入它的任一选定的单元(称写入)。使     

高密度静态ESFI MOS记忆单元

去除触发器中的跨接和用二极管来选择单元,减小了静态MOS记忆单元的面积。这种单元具有互补晶体管、二极管和高额定值负载电阻,已用绝缘衬底上外延硅膜工艺(ESFI)实现;单元面积可以小到1500微米~2(2.4密耳~2),是到目前为止已知道的面积最小的静态MOS记忆单元。本文将讨论这种记忆单元的静态和动态特性,以及在大规模集成电路中的性能;为此目的,已在3.5×4.2毫米(140×170密耳)的面积上,做成了带有简单译码和读出电路的4096位的探索性存贮器。考虑所测量的数据,ESFI MOS存贮电路比动态MOS存贮器,在速度和功耗方面都显示出更好的性能,但其主要的优点是静态工作方式。     

用软件模拟生成随机访问存贮器故障的方法

在许多与存贮器测试及可靠性有关的场合,都需要模拟生成一些存贮器故障,用来考查系统的工作情况。本文在指出现行的几种方法都难以形成任意单元间的耦合故障与图形敏感故障之后,提出了用软件实现模拟生成存贮器故障的方法。在一个普遍采用的故障模型下,分析了存贮器故障出现时所满足的规律;并根据这些规律,构造了故障模拟生成软件,它可以实时形成任意单元间的耦合故障与图形敏感故障。最后,讨论了这种方法的应用。     

伊利阿克Ⅳ的只读存贮器

引言 由于伊利阿克Ⅳ计算机操作速度高,指令库大和控制集中,所以使用了一个只读存贮器将指令翻译成控制信号。这些控制信号撒播到并联处理机阵列,逐步控制各处理机的操作。有260条指令,每一条都译成一个微序列(微程序)用于选取只读存贮器。每个微序列由1到69个微步(微指令)组成。 只读存贮器是一个晶体管交点矩阵并且是用分离晶体管配置在大型多层板上。存贮器容量是720字(微步)×280位(控制信号),周期时间是50毫微秒。     

从结构角度对微处理机进行功能测试

文中提出了一般用户从结构角度对微机处理机进行功能测试的实用方法。用户把从手册等资料中收集到的信息绘制出一个测试用的逻辑结构功能框图,该框图以运算部件为中心,标出了主要部件和数据通道。测试根据这个框图来进行,基本故障模型为单个可检测的s.a.0(1)。如果实践认为确有必要,在局部范围内可扩大该故障模型。     

MAS-ROM-可以用电的方法重新编存程序的带译码器的只读存贮器

简介——本文对在芯片上进行X-Y矩阵译码的金属一氧化铝-硅(MAS)只读存贮器的电特性和可靠性进行评价。MAS只读存贮器利用栅绝缘物薄膜中的所谓电荷存贮现象,是可以反复用电编存程序和不易失信息的集成电路存贮器组件,其中一位存贮单元。仅由一个N沟道增强型MAS晶体管组成。有选择地从沟道注入电子使晶体管阀值电压增大,而在栅极外加大的负电压使阀值电压减小。可靠性试验表明长期衰减对时间呈对数依赖关系,在150℃栅压为+10伏下,每10年存贮时间的衰减斜率为0.7伏。 使用由一台中型计算机、一个命令输入键盘、一组舌簧开关板和一台存贮型阴极射线管图解输出装置组成的人-机相互会话操作系统,对MAS只读存贮器进行鉴定。为证明MAS只读存贮器是切实可行的,以一个4 K字节的只读存贮器系统作为一台小型计算机微程序存贮器的样机进行了评价,其取数和周期时间为150毫微秒。     

固定存贮系统诊断新法

根据杨晓东的〈故障函数法诊断技术〉的基本思想,考虑到存贮器区别于一般逻辑电路的特殊性,产生了存贮器故障诊断的新方法。这里关键是将信息到公用读放电路之间连线虚拟为某种逻辑元件,这样就可以和普通逻辑电路一样地用求变态法求测试组及定位逻辑式了。对随机存贮器诊断比较易行;但对固定存贮器诊断却较难,因为其不能任意加载测试码,只靠其本身的固定码子来提供敏化条件,有时不敏化,为此以逻辑模拟法特殊处理之。根据需要选用中规模集成组件组成的微程序库作为诊断对象,能精确定位出插件板中中规模组件的输入,输出脚的故障,冒‘1’,‘0’复合‘1’故障,以及插件板中其它元件的短路,断路故障。此软件思想及有关程序不仅可以诊断其它存贮器,只读存贮器,还可以诊断有固定码子的只读组件中的故障,这对于生产中规只读存贮器(ROM)的厂家的自动测试都是适用的。