线性调频激光双干涉仪绝对距离测量的研究

提出一种双干涉仪绝对距离方法，利用参考干涉仪的误差补偿作用，有效地抑制了激光器光学特性相关误差源对外腔半导体激光器线性调频绝对距离干涉测量系统的影响，提高了测距精度。文中介绍了测量原理和实验装置，作了误差补偿分析，并给出实验结果。     

半导体激光端点干涉长法原理探讨

阐述利用半导体激光的频率变化和波长变化测量干涉仪光程差的基本原理，探讨一种在长度的两个端点干涉测量长度的新方法，即端点干涉测长法的原理，推导这种方法测量长度的公式，指出这种方法区别二其它干涉测长方法的独特优点，最后讨论测量中的注意事项以及需要深入的研究的问题。     

半导体激光端点测长干涉仪实验系统

半导体激光端点干涉测长法是利用半导体激光频率调制特性的一种在长度的两个端点干涉测量长度的新方法。本文介绍基于这种测长方法研制的半导体激光端点测长干涉仪实验的基本原理,构成,定标方法和测量结果。     

激光测微仪测量准确度的研究

本文分析了激光测微仪测量部分的基本原理，讨论了主要部件所带来的测量误差，并在此基础上提出了有效的误差校正方法，以提高仪器的测量准确度。     

可调合成波长链绝对距离干涉测量

本文提出一种利用半导体激光器的波长调谐特性实现的可调合成波长链绝对距离干涉测量方法 ,针对不同的待测距离 ,可选择不同的合成波长链 ,完成对待测距离的由粗测到精测的整个过程。文中基于这种方法构建了干涉测量系统 ,该系统利用压电陶瓷调制的在一条直线上的两个双光束干涉仪 ,使待测距离被包含于一个交流信号的相位项中 ,从而使小数条纹的测量转化为相位测量 ,合成波干涉条纹的小数级次由单波长干涉信号的相位测量值计算得到。文中以外尺寸测量为例描述了实验装置 ,实验结果表明 ,在现有的测量系统和实验条件下 ,待测距离小于 5mm时的测量极限偏差优于 2 0μm。     

大长度角度综合测量系统设计及应用

本文设计了一种大长度角度综合测量系统,该测量系统利用高分辨率CCD图像传感器与30m大尺寸高精度导轨相结合,利用光线的多重反射,配合定制的分析软件可以对激光和光学对中仪器的长距离垂准(对中)精度进行自动测量分析。     

半导体激光端点干涉测长法原理探讨

阐述利用半导体激光的频率变化和波长变化测量干涉仪光程差的基本原理，探讨一种在长度的两个端点干涉测量长度的新方法，即端点干涉测长法的原理，推导这种方法测量长度的公式，指出这种方法区别于其它干涉测长方法的独特优点，最后讨论测量中的注意事项以及需要深入研究的问题。     

半导体激光器谱线展宽因子测量

以１．３μｍＤｈ－ＩｎＧａＡｓＰ半导体激光器为研究对象，利用自发辐射谱测量谱线展宽因子，测出了α因子随工作电流变化的关系曲线。     

试析光干涉测量几何长度的相对不确定度极限

随着稳频激光和现代干涉仪的发展，光波波长在空气中的不确定性已成为限制用光学方法测量几何长度相对不确定度的主要因素。本回顾了现代干涉测长精度的提高；探讨了用Ｅｄｌｅｎ公式修正空气中波长及其在高精度实际应用中的限制，用折射率干涉仪修正空气中波长的技术关键和可达到的精度极限；最后介绍了在真空中测长的实用性以及可能达到的精度。     

半导体激光器后腔面高反射涂层的研究

采用金属银(Ag)做为高反射镀膜材料，ZrO2介质膜作为与激光器端面的绝缘层和Ag保护膜，在激光器后腔面实现了高反射涂层。经激光器光电特性测试表明，该高反射膜系能使激光器输出功率提高60％，阈值电流减小20％～50％，并且具有良好的化学稳定性、热稳定性和机械强度，能有效保护半导体激光器后腔面。     

外腔式半导体激光器的输出光谱

用射线法导出了两段式激光器的输出谱公式，分析了外腔式半导体激光器的输出光谱，计算了ＥＣＬＤ被调二极管模式的不同波长处振时的阈值，获得了ＥＣＬＤ模式的波长表达式，讨论了二极管靠近光栅的一面的反射率的波长特性对输出的影响。     

调频激光干涉绝对距离测量技术及其信号处理

最最的绝对距离测量方法是非相干飞行时间测量法。随后，在小数重合法的基础上，产生了多波长干波绝对距离测量技术。随着半导体激光器的发展，８０年代又出现了调频干涉绝对距离测量方法，并很快成为一种新的测长技术。本文在综述绝对距离技术及方法的基础上，着重介绍了调频激光干涉绝对距离测量技术的一些新发展及其几种不同的信号处理。     

用于绝对距离测量的0．6328μm氦－氖激光外差干涉仪

提出了一种用于绝对距离测量的新型外差干涉仪，它采用０．６３２８μｍ双模氦－氖激光器，光外差干涉和电信号混频、比相技术，直接测量合成波小数级次。此法避免了该领域常用的外差干涉仪的不足和拍波干涉仪结构复杂的问题，而且测量精度高、抗干扰能力强、测量时间短，使绝对距离测量技术更具有实用性。     

半导体激光器与单模光纤自动对准

提出盲目搜索与模式搜索相结合的多自由度搜索算法,完成半导体激光器(LD)与单模光纤(SMF)的自动对准。盲目搜索算法采用优化策略,使算法能够根据粗对准过程中的异常情况进行自适应调整,避免了搜索结果的不确定性,减少了粗对准时间。精密对准阶段的模式搜索法具有多自由度同时搜索的优点,因此对准速度较快,可以克服多自由度交叉耦合的影响,受噪声影响小。实验结果证明,使用模式搜索法进行xyz三自由度对准,对准时间为30~50s,定位成功率大于80%,对准速度和全局收敛性都优于传统的爬山法。     

半导体激光器特性自动测量系统

随着激光技术的广泛应用 ,尤其是光通信的迅猛发展 ,半导体激光器在工业和科研领域发挥着越来越大的作用 ,因此半导体激光器特性的自动测量具有非常重要的实用意义。文章介绍了一种计算机控制的半导体激光器参数采集和计算系统 ,能够自动完成半导体激光器的功率电流曲线、电压电流曲线、激光阈值、外量子效率的测量工作。其主要优点在于 :测量时间短、精度高 ,该系统适合用于大批量生产和使用半导体激光器的单位应用。     

利用光纤和调制半导体激光的准直方法

本提出了一种新的激光光纤准直方法。利用光传播的平行性和直线性，光学准直技术被用于精密地建立几何参数的测量基准，在这些应用中，光束、处理电路的漂移、杂散光是影响测量精度的主要因素。为了消除这些影响，本利用调制半导体激光技术和光纤技术形成准直光束，四象限探测器进行探测，相敏检波技术对光电调制信号进行解调，所有的信号共享同一信号处理信道，且光束的调制频率远离杂散光的频率范围，激光光束漂移杂散光、电路漂移被抑制，在１ｍ范围获得了０．３μｍ的准直精度。     

大长度激光测量中阿贝误差消除方法的研究

提出一种基于3路独立激光干涉仪消除大长度激光测量中的阿贝误差的方法,3路干涉仪的安装位置可布置成任意三角形。通过3路干涉仪的测量结果及被测仪器与3路干涉仪安装位置的几何关系,构造一路与被测仪器同光路的虚拟干涉仪,推导虚拟干涉仪的测长公式。该算法对干涉仪的安装位置无特殊要求,在实践中易于实现。为验证算法的有效性,依托于室内80 m大长度标准装置,通过改变被测仪器安装位置,在45 m范围内进行了3组不同的验证实验。实验结果显示消除阿贝误差后,残余的其它误差的最大值仅为1.10 μm,该算法可有效地消除阿贝误差。