航天用SRAM型FPGA定时刷新控制电路应用研究

为解决SRAM型FPGA在空间环境应用中单粒子翻转的问题,提出一种基于我国自主研制的定时刷新芯片（BSV2）的硬件设计方法。介绍了定时刷新器件BSV2及其基本刷新原理,同时以XC2V3000为例设计了刷新器件的典型应用电路,并对刷新的时序及有效性进行了测试验证。测试结果表明,定时刷新器件可以有效修复SRAM型FPGA的单粒子翻转及单粒子翻转造成的功能中断,提高了产品的可靠性。     

VHDL设计中变量和信号探讨

随着航天产品中越来越广泛使用FPGA器件,熟练掌握VHDL硬件语言对于电路设计显得至关重要。变量和信号是VHDL语言中最为常用和最重要的两种数据对象,该文针对变量和信号的重要区别和使用技巧展开了探讨,并结合实际FPGA测试中的实例进行了详细的阐述和仿真验证。     

基于FPGA的高速信号采集系统的信号完整性分析

以FPGA为核心构建了一个高速信号采集系统,结合该系统讨论了破坏信号完整性的原因及其解决方案,并借助器件的IBIS模型和HyperLynx软件进行了仿真分析,仿真结果说明解决方案有效可行.     

基于反馈约束的SRAM接口时序分析方法

FPGA验证作为保证FPGA产品功能和可靠性的重要手段已经备受关注。对接口芯片时序的验证通常通过布局布线后仿真来进行,但布局布线后仿真需要耗费大量的时间。本文介绍了一种基于反馈的SRAM接口时序验证的方法,将FPGA输入输出连接成一个回路,验证结果表明,与动态仿真验证相比,该种静态时序验证方法可以较早、快速、精确定位FPGA接口时序设计存在的问题。缩短了验证时间,提高了验证效率、准确性和覆盖率。     

SRAM型FPGA SEU缓解与验证技术分析

SRAM型FPGA产品在空间应用中易受单粒子翻转(SEU)影响而产生系统失效。分析了FPGA器件SEU的故障模式,并结合工程实践对三模冗余(TMR)技术、纠错编码(EDAC)技术、配置刷新技术三类FPGA单粒子效应缓解措施和基于故障注入的验证手段进行了研究和比较分析,阐述了不同技术的适用范围和优缺点,给从事空间应用系统的设计和测试人员提供参考。     

基于雷达处理机高速信号的信号完整性设计

反射是破坏信号完整性的原因之一。在充分考虑了反射的基础上,结合一种基于DSP和FPGA的雷达处理机的硬件设计,阐述了控制反射的具体方法。端接电阻和控制传输线长度可以控制反射。通过SpecctraQuest工具仿真得出的分析结果和实测结果,验证了该方案可以避免信号完整性的潜在影响。     

一种FPGA的远程系统升级方法

介绍基于SRAM工艺的FPGA器件的配置方法。结合嵌入式处理器应用,设计一种使用CPLD器件及通用大容量Flash的FPGA远程系统升级方法。最后对该方法在系统性能、复杂度和经济性等方面的优越性进行了比较和分析。     

基于FPGA的列车信号采集系统设计与研究

列车工况信号对列车故障检测与分析有重要意义。以CycloneⅢ系列FPGA、AD9220、SRAM作为主要器件,利用MAX038输出信号以模拟列车工况信号,再对信号进行采集、存储进行系统设计与分析。为保证系统的稳定性和可靠性,制作了PCB板对系统进行测试。     

Virtex-5系列SRAM型FPGA单粒子效应重离子辐照试验技术研究

针对SRAM型FPGA在空间辐射环境下易发生单粒子效应,影响星载设备正常工作甚至导致功能中断的问题,开展了SRAM型FPGA单粒子效应地面辐照试验方法研究,提出了配置寄存器和BRAM的单粒子翻转效应测试方法,并以Xilinx公司工业级Virtex-5系列SRAM型FPGA为测试对象,设计了单粒子效应测试系统,开展了重离子辐照试验,获取了配置寄存器、BRAM以及典型用户电路三模冗余前与三模冗余后的单粒子翻转效应试验数据和器件单粒子闩锁试验数据,最后利用在轨预示分析软件针对高轨环境进行了在轨翻转率分析计算,可为该器件的空间应用辐射敏感性分析提供基础数据与加固设计指导。     

NiosII处理器的两类外设接口设计

介绍如何在基于NiosII的SOPC中将存储器型外设和寄存器型外设接入Avalon总线以构建基于NiosII嵌入式处理器的SOPC的方法,以及Avalon总线规范及两类外设的地址对齐方式.针对存储器型外设SRAM及寄存器型CH372设计其相应的接口,并将添加相应外设生成的SOPC,在Altera公司的CycloneII EP2C20型FPGA 器件上进行了验证.该设计在实际工程应用中已正常使用.