铁电存储器在存储测试系统中的应用

为了实现环境试验的存储测试系统,采用了FRAM存储器M28W640结合SOC片上系统C8051F340的设计,通过分析其性能和接口电路,编写了相应的读写程序。由于这种并行非易失性存储测试技术方式具有高速读写、超低功耗、几乎无限次擦写,读写程序编写简便的优点,非常适合在此类存储测试系统中使用。     

一种多通道NAND Flash阵列的坏块管理方案

针对多通道NAND Flash阵列对可靠性的要求,提出一种坏块管理方案,优化坏块信息的存储和查询方法,把坏块和替换块地址映射表存储在FRAM中。测试数据证明,方案可以实现多通道NAND Flash阵列的坏块管理,保证了存储的可靠性。优化的坏块表及查询方法缩短了坏块查询时间,FRAM节省了有效块地址映射时间, 同时FRAM的铁电效应,进一步提高了数据存储的可靠性。     

高性能Flash/FRAM混合结构数据存储系统的设计及应用

针对某些大容量存储系统数据改写频繁及Flash存储器寿命有限的弊端,设计了一种Flash/ FRAM混合结构的高性能数据存储系统.提出了将Flash文件系统中的系统记录区、文件索引表以及改写频繁的实时数据放在FRAM中、而大批的历史数据则保存在Flash中的存储方案,并给出了系统结构及实现方法.实验表明,这种混合结构有效地提高了数据存储效率和存储可靠性.     

微处理器与DSP

内嵌FRAM的8051MCU Ramtron International发布一款嵌入了非易失性FRAM存储器的8051MCU—VRS51L3074。Ramtron将FRAM加入其Versa8051系列产品中,以实现设计高速及高可靠性的非易失性数据存储和     

DSP多级自举加载技术在IMA系统SPM模块中的应用

为了在模块化综合集成航空电子(IMA)系统信号处理模块(SPM)中实现应用程序的动态加载和代码更新,基于现有的DSP二级引导流程,引入DSP多级自举加载技术,能够按照系统要求配置功能处理单元,支持数十种信号处理功能程序的存储和运行。目前该技术已在一系列航空电子工程项目和产品中使用,应用程序动态加载和代码更新稳定可靠。     

用Delphi2.0在开发图像处理软件

通过图像处理软件的程序设计，描述用Ｄｅｌｐｈｉ的图像功能实现图像输入，存储，动态显示和处理的主要编程技术。给出了完整的ＯｂｉｊｅｃｔＰａｓｃａｌ代码，并逐段叙述了各种分代码的主要思想和编程算法，程序已上机通过。     

16位语音处理功能单片机

Ramtron International发布一款嵌入了非易失性FRAM存储器的8051MCUVRS51L3074。Ramtron将FRAM加入其Versa8051系列产品中，以实现设计高速及高可靠性的非易失性数据存储和处理系统。VRS51L3074将8kBFRAM存储器和高性能系统级芯片结合，核心是40MIPS单周期8051内核、具有ISP和IAP编程功能的64kBFlash程序空间、4kB SRAM、JTAG编程／调试接口、数字信号处理（DSP）单元和数字外设。     

DSP芯片TMS320VC5402的并行自举加载方法

针对存储在TMS320VC5402 DSP芯片内部DARAM中的程序掉电丢失问题,配合FLASH芯片SST39VF400A,给出了一种DSP并行自举加载模式的硬件电路,同时给出了其软件编程代码.     

瞬态信号的采集存储技术

本文介绍了一种用FRAM和MRAM实现瞬态信号的采集存储,实现了10us生存周期内信号存储,并搭建了试验验证环境,验证了该方案的可行性。     

设计基于NXP LPC2000的次级启动加载程序用于代码升级

本文介绍了如何设计和实现一个基于NXPLPC2000的次级启动加载程序(SecondaryBootLoader),用来对用户代码进行在线升级。