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杨帆 《电子工业专用设备》2003,32(4):30-31
随着半导体科技的飞跃发展,我们已经把越来越多的电路设计在同一个芯片中,即所谓SOC(单芯片系统)技术。由于功能模块的高度集成,芯片的设计、制造和测试过程也变得更为复杂。而降低测试成本一向是业者关注的焦点之一,测试系统的选择又是重中之重,带着这方面的一些问题我们采访了安捷伦科技半导体测试事业部中国区总经理杨耀州先生。 相似文献
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