单模光纤随机微弯的统计特性及附加损耗

单模光纤在加套和成缆后,由于中心轴随机微弯和边界变形,这两种原因所引起的光纤附加损耗是无法分别量测的。因此单纯地将微弯附加损耗的理论计算结果与测量总附加损耗的统计数据进行比较,是不够精确的。本文在计算随机微弯的附加损耗时,引入了边界随机变形的影响,得出微弯曲率函数为指数型的,并给出相应的附加损耗计算公式。计算结果与文献[7]中测量统计数据吻合,表明本文研究微弯统计特性的结论有较明显的改进。     

影响光纤熔接损耗的因素及解决方法

针对造成光纤熔接损耗的各种本征和非本征因素,进行了详细的分析和总结.说明了各个损耗因素的取值范围;并以模场直径为例,分析了光纤模场直径不同时引起的连接损耗的变化.即举例介绍了光纤熔接损耗的计算方法;最后提出了降低光纤熔接损耗的解决方法,为进一步研究先纤的熔接损耗提供了理论依据.     

通讯用光纤的微弯损耗

(一)前言光纤信息传输在突破了许多技术障碍之后,犹如一颗灿烂的新星,突然出现在七十年代的新技术领域,放射出光彩夺目的异彩。然而,光纤传输性能仍然爱很多因素的影响,其中之一就是在绕线、成缆及敷设中当它受到弯曲时,会引起附加的损耗。人们称它为微弯损耗。单根光纤在受到张力时,也存在这个问题,多芯光纤结构中这个问题更为严重。一般来说,微弯损耗少则每公里几分贝、十几分贝,多则上百分贝[1]。由于光纤本身的损耗只有每公里几分贝,所以即使在最好的情况下,微弯损耗也是不可忽视的,它的影响已明显的使传输系统的性能蒙受威胁,所以必     

光纤微弯损耗与波长关系的实验及分析

本文从实验的角度研究了多模光纤、单模光纤微弯损耗与波长的关系。实验结果表明,多模光纤微弯损耗与波长几乎无关,而单模光纤的微弯损耗与波长关系极大。所得结果与前人理论分析结论一致。     

单模光纤测量技术(之三)单模光纤模场直径的测量

模场直径(又称模斑尺寸)是描述单模光纤特性的一个重要参数,也是单模光纤设计和生产时的一个控制参数——光纤的设计、制造者,在对光纤的接头损耗和微弯损耗权衡后,确定模场直径的最佳值,而后在制造过程中把它控制在10％的容限内。模场直径与光纤的接头损耗、连接器损耗、光功率注入光纤的损耗以及光纤弯曲和微弯的损耗都有密切的关系。在径向光强度分布接近于高斯分布的光纤内,如果模场直径做得很小,即使     

单模光纤宏弯损耗性能的试验研究

研究了两种光纤(SMF28和1060XP)在波长1310nm处、弯曲半径5~15mm范围内的宏弯损耗性能。观察到了两种光纤宏弯损耗整体都随着弯曲半径增大而减小,并伴有振荡现象,其中1060XP光纤对宏弯损耗更敏感。用耦合模理论解释了WGM(whispering-gallery mode)对光纤宏弯损耗振荡的影响。测量了1060XP光纤涂覆层黑化后的宏弯损耗,结果表明:将光纤涂覆层烤黑能够减轻光纤宏弯损耗振荡。     

降低光纤接头熔接损耗的方法分析

光纤熔接指的是利用熔接器将两根光纤连接在一起的方法,这种方法连接的光纤性能稳定,机械强度高,应用十分广泛。但需要注意的是,在两个光纤的接头处容易产生熔接损耗而影响光纤信号传输质量。为此,文章首先分析总结了影响光纤接头熔接损耗的主要因素,分别有本征因素和非本征因素,之后针对性地提出了降低光纤接头熔接损耗的方法,旨在确保光纤信号传输质量,提升光纤通信的应用水平。     

对光纤微弯损耗的利用

对光纤微弯损耗的利用张海宾光纤的弯曲半径小于一定长度时，光波在光纤中传输到这一点时就会产生一个微弯损耗，这个弯曲损耗与光纤的弯曲程度以及光纤的传输波长有直接关系．光纤的弯曲半径越小，光波在这一点产生的微弯损耗越大．光纤接头损耗会影响光信号的正常传输，...     

多模光纤微弯和弯曲损耗的实验研究

本文从实验的角度研究了多模光纤微弯和曲弯损耗与光纤参数的关系。以实验数据检验了前人所作的理论研究,并确立了以实验为基础的微弯和弯曲损耗的计算公式。     

制导光纤弯曲损耗研究

分析了制导光纤在缠绕状态下产生附加损耗的因素,建立一套解析模型,用来分析在精密缠绕过程中固有的交绕区的微弯损耗,并且将其结果与试验数据进行了比较.低温条件下,附加的光损耗主要来自于:(1)低温条件下的由于包层材料的杨氏模量的增大,使得交绕区微弯增大;(2)由于缠绕张力的增大使径向压力增加.对交绕区微弯建立起来的模型还可以用来预测在一定张力条件下缠绕的光纤损耗的趋势.针对实际的制导光纤,给出了实测的光纤弯曲损耗曲线和低温条件下的附加损耗数据,结论说明在适当的条件下,制导光纤的弯曲附加损耗和低温条件下附加损耗是能够满足制导系统的实际要求的.     

薄涂层光纤和光纤带中微弯损耗的研究

本文记述了由于环境引起的光纤弯曲光谱与双涂敷层光纤机械性能之间的关系，从这一关系，我们可以确定涂敷层的设计参数，它与微弯损耗有关。对直径从１６０μｍ到２００μｍ的典型薄涂层光纤和光纤带因卷绕于线盘而引起的微弯损耗也有说明。     

薄涂层光纤和光纤带中微弯损耗的研究

本文记述了由于环境引起的光纤弯曲光谱与双涂敷层光纤机械性能之间的关系，从这一关系，我们可以确定涂敷层的设计参数，它与微弯损耗有关。对直径从１６０μｍ到２００μｍ的典型薄涂层光纤和光纤带因卷绕于线盘而引起的微弯损耗也有说明。     

多模光纤微弯特性的实验研究

本文基于多模光纤微弯损耗机理，对光纤结构及涂层属性进行了研究，自行设计了实验方法，对几家公司光纤的微弯损耗作了实验比较，在分析实验结果的基础上为改善多模光纤的微弯及低温性能提出了自己的见解。     

Ge-Sb-Se玻璃的红外透过特性

为了探讨限制Ge-Sb-Se玻璃的航空红外系统和CO_2激光窗特性的非本征和本征吸收效应,研究Ge-Sb-Se玻璃的红外透过特性。已经发现非本征吸收是由氧化物和碳杂质引起的,采用通过石英蒸馏以及添加Al俘获剂的制备材料技术,消除了这些有害杂质。消除了强的非本征吸收,较弱的本征吸收就呈现出来了。长波长红外截止看来就由某些基谐振动型的较高次激发所决定,对于 Ge-Se键是在245厘米~(-1)附近,而对于Sb-Se键是在180厘米~(-1)附近。改变玻璃的成分,也能使8～12微米大气窗区吸收系数发生变化。这些变化是由于分子结构的畸变以及Ge、Sb和Se间键混合而产生的。在10.6微米处,吸收系数从0.024厘米~(-1)变化到0.008厘米~(-1)。     

光纤宏弯损耗性能影响因素的仿真研究

为了优选宏弯损耗敏感光纤,研发基于光纤宏弯损耗的光学器件,对影响单模光纤宏弯损耗的主要因素进行了理论分析和仿真研究。基于D.Marcuse和H.Renner提出的光纤宏弯损耗理论模型,选取SMF28、SMF28e和1060XP三种单模光纤,仿真研究了涂覆层、弯曲半径、光源波长、MAC值和弯曲圈数对光纤宏弯损耗性能的影响。结果表明:无涂覆层、带吸收层的单模光纤宏弯损耗随着波长增长而增大、随着弯曲半径增大而减小、随着圈数增多而增大、随着MAC值增大而增大;光纤的丙烯酸酯类涂覆层会引起宏弯损耗随弯曲半径变化发生振荡;MAC值是衡量光纤宏弯损耗敏感性能的指标,也是优选宏弯损耗敏感光纤的重要参数。因此,光纤宏弯损耗器件适合选用MAC值大的光纤,去除其涂覆层,增加吸收层,然后选择较长的波长、较小的弯曲半径和适当多的弯曲圈数。     

光纤宏弯传感器研究进展

从光纤宏弯曲损耗和微弯曲损耗的基本原理出发,介绍了光纤宏弯传感系统的构成和原理,对光纤宏弯传感器的研究现状进行了详细论述,分析了研究中存在的问题,提出了一种基于光纤宏弯传感的智能结构.     

影响着色光纤微弯损耗的若干因素及解决对策

简要分析了光纤对着色工艺的要求及在着色过程中可能出现的影响1550nm窗口光纤微弯的因素，重点分析了各因素对光纤着色的影响，并提出一些解决影响光纤微弯损耗的建议及预防措施。     

使用LED的光通信系统最适光纤参数设计

低损耗多模光纤的损耗由瑞利散射损耗和微弯损耗等组成。这些损耗依赖于光纤的结构参数。另一方面,从光源耦合到光纤的光功率和光纤之间的连接损耗亦依赖于光纤的结构参数。本文考虑用发光二极管作光源的系统。用FORTRAN语言编制程序,算出系统损耗与比折射率差的关系曲线数表。明确了不同长度系统用的光纤的最适参数。     

“螺旋弯曲状态下光纤附加损耗与服务寿命关系探讨”的一点补充

在文献[1]中我们从理论上阐明了光纤光缆产品服务寿命与螺旋弯曲下光纤宏弯附加损耗之间的关系,建立了通过测量光纤宏弯附加损耗来评价光纤服务寿命的函数体系,确定了一种新的光纤光缆产品可靠性评价理论模型。     

电波传播与天线

0505266光纤的弯曲损耗和微弯损耗及其利用[刊,中]/邢雪宁//中国有线电视.—2004.(23).—24-26(D)分析光纤弯曲损耗和微弯损耗的机理,并分别用D.Marcuse 和 Jeunhumme 给出的公式总结两种损耗的算法,最后简要介绍这两种损耗在实际中的利用。参50505267带状线宽频带90°电桥的设计[刊,中]/张嫒//遥测遥控.—2004,25(5).—48-51(C)电桥在微波电路中应用广泛,其性能对整个电路性能有着不可忽视的影响,文中讨论几种扩展电桥频