配电网压变熔丝非正常熔断预防措施的研究

在针对配电网压变熔丝很容易出现非正常熔断的情况,根据研究得出,常出现的因为压变熔丝非正常熔断的现象产生的主要原因是铁磁谐振和低频非线性震荡,本文就针对现有的压变熔丝非正常熔断的问题进行分析,并提出预防措施.     

低压熔丝熔断原因及更换

日常生活中常用低压熔丝(保险丝)大多为武德合金丝、铅锡合金丝。使用中由于供电线路用电设备发生故障造成低压熔丝熔断,此时不少人会误认为熔丝太细而盲目加大保险丝,为日后安全用电留下极大隐患。正确的方法是分析熔丝熔断的原因,对症处理。1.如果熔丝只在其中部有一断开口而且无电弧痕迹,一般为家用电器增加,旧的熔丝容量偏小,长时间满负荷甚至超负荷工作而熔化。此时应了解负荷变化状况,重新选择合适的熔丝进行更换。家庭用电大多以照明、电热为主,选择熔丝额定电流应等于或稍大于负荷额定电流。若装有空调,则熔丝额定电流为空调额定电流的1.5～2倍加其它负荷额定电流。2.如果熔丝熔断口较小且只在螺钉压接处,说明该处温度明显偏高,大多为更换熔丝     

多晶硅电学特性研究之Ⅴ:多晶硅熔丝的电编程性质

研究了冗余技术电编程电路中的多晶硅电阻熔丝的电编程特性!分析了多晶硅熔丝的编程机理和电流一电压特性。发现电阻率在0.60～1.10×10~(-3Ω·cm范围的多晶硅熔丝熔断时存在一个临界电流密度,它与熔丝的几何尺寸和室温电阻率无关,是一个约为32mA/μm~2的常数;临界电场是随熔丝室温电阻率增加的,平均熔断功率密度也与熔丝自身的电阻率相关。认为掺杂剂提供的载流子对熔丝的熔化起着重要的作用。     

经验点滴

修理彩色电视机时,换用保险丝应注意:原机上使用的是延迟式保险丝,这种保险丝能在瞬间经受住比额定值大好几倍的电流,而不被熔断。例如2A的延迟式保险丝在20毫秒内不被20A的电流熔断。采用延迟式保险丝的目的,是为了使刚开机时不被消磁线圈产生的大电流损坏,这种熔丝管价格远贵于普通熔丝管。检修时,可将消磁线圈插头暂时拔出后即可使用普通型熔丝管进行检修电视机的其他部位故障。待故障排除后,安上消磁线圈后再恢复使用延迟式熔丝管。目前该熔丝管国内已由上海元件15厂投入生产。部分进口的索尼KV-1430CH型14英寸彩色电     

深亚微米多晶硅熔丝特性研究

随着集成电路产业的迅速发展,熔丝电路在IC芯片中的应用越来越广泛。为了提高集成电路制造良率,在集成电路设计中通常会大量使用基于熔丝技术的冗余电路。通过对180 nm工艺多晶硅熔丝熔断特性的探索和研究,给出多种尺寸的多晶硅熔丝电熔断特征参考值,可以满足集成电路设计对编程条件和编程后熔丝阻值的不同需求。集成电路设计者通过选择不同的多晶硅熔丝尺寸种类,实现熔丝外围电压电流发生电路的灵活设计,大幅提高180 nm工艺多晶硅熔丝设计成功率。通过优化熔丝器件结构、编程条件等参数,实现不同应用需求的熔丝量产。     

一种串并结合的多Site熔丝编程算法

随着集成电路产业的迅猛发展,熔丝修调越来越广泛地应用于集成电路测试工序,熔丝段数目随着需要修调参数的增多而逐步增长,传统的串行熔丝编程方案程序存在代码长、可维护性差、执行时间长等缺点,为了改进代码的可读性和可维护性,文章引进了改进型算法,但对测试执行时间没有任何改善。随着测试代工市场竞争日益激烈,多Site测试方案被广泛使用,但是熔丝编程还继续着串行编程的老算法,Site数目越多,熔丝编程时间越长。针对以上,文章提出了一种串并结合的多Site熔丝编程算法,将多Site熔丝编程时间控制在和单Site熔丝串行编程时间几乎一致。     

熔丝类电路的修调探索

随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压或者频率,按照制造材料和工艺可分为金属和多晶硅两种类型。不同的工艺结构决定了不同电路的熔丝有不同的特性,修调时需要针对具体电路具体分析,选择适宜的修调方案,并且编写简洁高效的修调程序。文章介绍了常见熔丝的特性,总结几种常用的修调熔丝方法,并分析了这些方法的各自特点,同时对修调熔丝的程序算法做了探讨。     

35kV站用变C相跌落保险熔断事故分析

本文首先对跌落式熔断器熔丝熔断的类型及故障原因进行了介绍,然后就35kV站用变高压跌落保险熔断故障的原因进行了针对性的检测和分析,并且对存在的问题及改进措施进行了探讨.     

多路电源熔断报警器

多路电源熔断报警器杨邦文本多路电源熔断报警器可以检测十ＳＶ、一２４Ｖ、一４８Ｖ三路电源的熔丝是否熔断，以便及时更换，使电器设备正常运行。工作原理电路如图１所示。若ＦＶ；熔断，地电位经电阻Ｒ．给光电耦合器ＶＴｌ中的发光二极管提供正值电压使之发光，三极管...     

单层结构与双层结构保险丝熔断特性比对

贴片保险丝是一般电子产品中最常被用来作为电路上过电流或短路保护的元器件。保险丝会根据其熔断时间及耐脉冲能力来区分不同的熔断特性。各保险丝制造商往往选择不同的金属材料特性当作熔丝,结合适当的基体材料及设计结构制造出适合的熔断特性保险丝。目前市场上的低电压规格(≤63Vdc)贴片保险丝依据其熔丝的结构,基本上可以分为     

高可靠熔断器步进电应力极限评估试验

介绍了高可靠熔断器极限评估技术的提出背景,分析其熔断机理,设计了熔断器电流步进极限评估试验,考察熔断器在电应力下的热平衡状态和可靠性水平;并选用国产典型型号的宇航用高可靠熔断器,对设计的试验方法进行了验证,结果显示本试验方法合理可行,从而为规范熔断器极限评估试验方法提供了基础和依据。     

多管芯并行测试的熔丝修调方法探索

随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压、频率或其他特性。为了提高测试效率,需要在多管芯并行测试的情况下,提高熔丝修调的准确性和修调速度。文章介绍了常见的熔丝特性及典型熔丝类集成电路在多管芯并行测试情况下的熔丝修调方法,并进一步研究了降低修调环节对测试系统资源的占用、提高修调效率、简化测试程序等几个方面的优化方法。     

基于数据流的软件测试序列自动生成技术研究

测试用例自动生成技术是软件测试的一个重要研究领域，而如何从待测试程序中选取适当的测试序列集合是其中的一个关键问题。文章提出一种构造结构性测试序列集合的方法，此方法首先对待测试程序进行静态分析，然后根据程序的语句间关系生成程序图，最后基于数据流测试准则，根据程序图以及变量的定义和使用信息构造结构性测试序列集合。在Linux平台上使用这种方法对若干条程序进行分析处理，得到的测试序列集合可以使待测试程序得到充分测试。本文提出的方法具有比较高的测试覆盖，同时，在计算过程中避免了无用路径的生成，节省了算法空间和执行时间。     

最小二乘法和熔丝编程

文章对模拟电路熔丝存在的原因、常见材料和常用的熔丝编程方式做了基本的介绍,由一个真实案例引入了和传统熔丝编程方案有所不同的熔丝编程算法——最小二乘法（数据拟合）。着重介绍了最小二乘法在测试采样数据呈线性关系时的一次线性方程的拟合,并给出了具体的求解过程和系数计算公式。通过实例对比了传统熔丝编程和最小二乘法熔丝编程两种算...     

Real-time and embedded systems - teaching reliability

Computer science students routinely practice just-in-time software engineering that results in solutions to programming assignments that barely limp through the test cases. Worse, when they have access to the test suite used for grading, students who have reached an impasse will often resort to a kind of evolutionary programming where they incrementally tweak parts of a program, test the code, and repeat. This random walk through the program space can move programs away from correctness rather than toward it. Embedded systems, with their concurrency, resource limitations, flaky tools, and all-too-frequent debugging through LEDs and logic analyzers, provide the perfect environment for students to experience some truly difficult debugging. Embedded systems must be reliable, but computer science students aren't in the habit of creating reliable software. It will be better, if we explicitly teach them techniques that can increase software reliability even though this reduces the amount of time we can spend on more traditional technical material.     

An 80 ns 32K EEPROM using the FETMOS cell

A 32K bit EEPROM using the FETMOS (floating-gate electron tunneling MOS) cell has achieved a typical access time of 80 ns and a die size of 20.6 mm/SUP 2/ using approximately 3 /spl mu/m feature sizes. The device has many built-in ease of use and ease of test features, including multimode erase (word, page, and bulk), bulk `O' program, latched inputs for program and erase operation, nonlocked high voltage supply, and margin test capability for both programmed and erased states. A unique TPP (transparent-partial programming) yield enhancement technique, using polysilicon fuse programming, can convert partially good 32K dice into totally good 16K and 8K devices.     

随机测试程序发生器的设计与实现

随机测试程序生成技术是当前处理器功能验证中一项重要的支撑技术.本设计面向一种专用指令集处理器FlexEngine,在指令集模型建立时,按功能分类,实现对处理器关键单元的选择性测试;引入ISS对指令执行的动态数据分析,增加了寄存器数据范围监控、死循环预警等指令约束.实验结果表明,本设计的选择性测试功能,能够在3000条程序的测试长度下,对关键模块达到超过90%的覆盖率,有效提高了测试效率.     

利用模拟测试系统和单片机测试音频控制电路

单片机因其体积小、集成度高、功能强、可靠性高、编程开发灵活等特点得到广泛应用。传统的音频控制电路测试需要使用数模混合测试系统,测试时间长、投入成本高。文章介绍了一种新的音频控制电路测试方案,提出了基于单片机在模拟电路测试系统上测试这种音频电路的方法,采用keil C的IDE环境进行软件开发,并通过Multisim软件对...