电子探针分析用合金标准样品的研制

本文介绍电子探针分析用合金标准样品的制作方法。其中包括:(1)合金材料的熔炼方法。(2)合金材料成份的测定方法。(3)合金标准样品的制作方法。(4)合金标准样品均匀性和稳定性的检验方法。(5)用电子计算机自动测试标准样品均匀性和稳定性的程序。(6)自己研制的几种合金标准样品和部分检验数据。(7)标准样品的保护和修理方法。     

电子探针分析用人工晶体标准样品的研制

本文介绍电子探针分析用人工晶体标准样品的制作方法。其中包括:(1)人工晶体的制作方法。(2)晶体标准样品的制作方法。(3)材料结构对于标准样品信号的影响。(4)自己研制的几种人工晶体标准样品。(5)使用标准样品进行定量分析应注意的事项。     

我国电子探针标准样品技术条件的研制说明

“电子探针分析标样通用技术条件”(国际GB4930—85)已由中国国家标准局于1985年正式公布执行。本文叙述了“通用技术条件”的研制历史过程,以及均匀性指标(H.I.),稳定性指标(S.I.)的基本定义。本文也详细地说明测量H.I.,S.I.时的技术要求以及讨论了它们相应的临时判别值。对于标样的元素成份定值要求,标样尺寸大小以及其他条件也做了必要的叙述及解释。     

矿物电子探针标准样品的研制和化学成份定值

叙述了研制以天然矿物为电子探针标准样品的工作中,关于物质来源、样品均匀度检测和化学成份分析定值等方面的情况。文中列举实例,用来讨论一些实际问题。     

电子探针分析微粒样品的校正方法

本文将电子探针定量分析中的一个厚块状样品的校正程序,扩展为微粒样品的校正程序。修改后的程序,不但仍可用于厚块状样品的校正,而且对不同直径的微粒样品也可进行校正计算。文中比较了几种不同的校正程序对微粒样品的校正计算结果。直径1-4μm的硫化铁微粒和直径0.4-4μm的五元钴基合金微粒,采用本文提示的程序,其校正精确度分别优于4％和10％,说明修改后的程序对微粒样品的校正是合适的。     

我国首批电子探针分析国家标准样品(GSB)与研究标准样品(MAS)

继我国自己制订的《电子探针分析标准样品通用技术条件》由国家标准局批准作为国家标准GB—4390—85正式发布,我国首批电子探针分析国家标准样品(GSB)也由国家标准局审批发放,与此同时,全国探针分析标准样品标准化技术委员会亦宣布推荐了第一批电子探针分析研究标准样品(MAS)。我国在制订探针(微束)分析标准样品统一技术标准和建立比较完整的探针(微束)分析标准样品系列方面有了一个良好的开端,这是我国微束分析技术界盼望已久的事情,也是全国电子探针分析有关单位和同行在国家标准局领导支持下,在中国电子显微镜学会,中国矿物岩石地球化学学会微束分析委员会协调组织下,相互合作共同努力的结果。标准样品,或称标准参考物质(Standard Reference Material)在分析科学技术中的重要地位和作用是不言而喻的。利用标准样品进行定量分析的实验方法仍然是各门分析技术中解决定量分析问题所普遍使用并至今实际上尚不能被替代的基本方法。尤其是在近二十年     

含超轻元素样品的电子探针定量分析

超轻元素的电子探针定量分析的困难之一是:许多元素对超轻元素的K_α射线的质量吸收系数μ/ρ数据不可靠,不同工作者给出的数据可相差几倍。详见评述性文献(1)。Kohlhaas和Scheiding测定了一系列含O、N、C、B的已知成分的化合物中O—K_α,N—K_α,C—K_α,B—K_α射线的强度,用ZAF修正计算法计算出了许多元素对这些软x射线的质量吸收系数ι/ρ。由于他们采用的ZAF修正公式不适用于轻元素,致使他们的μ/ρ值误差极大。Love等提出了一套既适用于重元素又适用于轻元素的ZAF修正计算公式。本工作用Love等的修正计算公式重新处理了Kohlhaas和Scheiding的强度数据。得出的各元素对O—K_α,N—K_α,C—K_α和B—K_α射线的μ/ρ值。与他们的值不同,但却与Henke等用透射衰减法直接测定的对软x射线的μ/ρ值符合很好,也与Ruste和Gantois等用另一种适用于超轻元素的ZAF修正计算法测出的μ/ρ值基本一致。     

电子探针的样品台扫描成像技术

用微型计算机与电子探针控制机通讯,实现对各道波谱仪和样品台的实时控制,以及对各道定标器的数据采集;在选定的样品区域上设定采样步长和时间,边移动样品台边采集各道Ｘ射线强度;用伪彩色、三维视图和内插放大等方式显示图像,解决了低倍Ｘ射线像失真问题,观察到了辉石的隐环带等现象。     

电子探针定量分析地质样品所用标样

本文介绍了电子探针在分析地质样品中所用的标样:包括标样种类;天然矿物标样的制取;标样的安装和定量分析时标样的选择。     

用电子探针分析法研究催化剂活性组份分布中的样品制备问题

本文介绍一种用电子探针分析法研究负载型催化剂中活性组份分布的制样方法。它能满足:(1)用X-射线分光谱仪法测定特征X-射线强度的分布,(2)用X-射线能谱法逐点进行元素的定量分析,(3)用X-射线能谱法的线扫描方式测量X-射线强度的线扫描分布来测定催化剂中的活性组份分布。文中叙述了样品磨平、抛光的步骤,以及有关的实验技术。