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EMC静电放电测试与预防 总被引:1,自引:1,他引:0
论文先引用EMC标准IEC61000-4—2中静电放电测试标准中的测试要求,测试原理,测试方法,再介绍常见的产品标准中对电子产品的静电放电要求。主要讲的是静电放电对电子产品的影响,以及一些基本的静电放电抗扰度的预防措施。 相似文献
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许多标准对系统级静电放电发生器的静电放电电流波形的校准设备和方法都有详细的要求,使得静电放电电流波形的校准有据可依,但国内外新老标准的要求不同,也会产生较大的误差。对于静电放电发生器的"开路电压",所有标准中都有准确度的要求,但没有对设备和方法进行规定。而不同的校准方法,其测试结果的偏差很大。系统地分析了静电放电发生器"开路电压"和放电电流波形的校准方法。 相似文献
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文章介绍了欧盟标准EN55020:2002针对音视频产品所提出的静电放电测试的方法与要求,阐述了测试时对标准的具体理解和操作程序,并从设计角度分析音视频产品的抗静电放电手段. 相似文献
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文章介绍了静电放电抗干扰能力的标准,测试方法以及测试通过的条件,并分析了实例,给出了测试设备,原理图和测试结果。 相似文献
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该文通过对电气静电放电和传输线脉冲测试的介绍,分析两者的关联性,提出由传输线脉冲测试在工程师先期研发产品对静电放电防护等级预期评估,通过实验案例来验证了用传输线脉冲测试的数据作为静电放电等级评估的可行性。 相似文献
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随着电子产品复杂度的提高及高速化通讯应用场景的广泛存在,静电放电敏感性的问题日益突出,主要表现为集成电路出现的一系列软失效和硬失效现象,包括卡死、复位、重启甚至损坏等。主要研究了系统级静电放电对集成电路的影响。首先,介绍了静电放电的原理及其测试标准;其次,研究了芯片侧瞬态静电过电压的抓取方式;然后,对应用于不同电路设计的静电防护能力的优劣进行了评估并对比了芯片侧的静电干扰电压水平;最后,验证分析了USB接口不同的接地设计方式和静电放电施加方式对集成电路甚至系统的影响。 相似文献
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为研究机器模式(MM)及人体模式(HBM)静电放电试验对LED特性的影响,参考国际标准对半导体元件的静电放电测试要求,对LED样品分别进行MM及HBM静电放电试验。每次静电测试前后均对样品进行光电参数测试,观察样品光电参数的变化,并以此作为判别LED失效的依据。通过实验,研究对比MM静电放电和HBM静电放电试验对LED特性的影响,并从理论上探讨了相关失效机理。实验表明无论是MM静电放电还是HBM静电放电,均会造成LED反向漏电流增大,正向I-V特性"收缩",光通量一定程度的衰减。但是在静电敏感电压上有差别较大,MM静电失效电压远低于HBM静电失效电压。 相似文献
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2014年7月,美国批准实施了最新标准ANSI/ESD S20.20,新标准增加了控制CDM/MM的量化指标要求,增加了人体静电电压测试要求以及绝缘体静电电场控制的要求等等,比2007版标准更加合理和完善,本文从S20.20标准的变化,谈谈静电放电(ESD)的控制发展趋势。静电放电模型设置更科学美国ESD协会在制定ESD控制方案时要记录最敏感器件,从而制定科学、合理、充分的ESD控制方案。ANSI/ESD S20.20第一版(1999年)标准的适用范围 相似文献
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文章阐述了静电放电的工作机理以及静电放电给电子设备或产品所带来的危害。通过实例分析得出电磁兼容性测试中静电放电试验在PCB设计中的重要性。探讨在PCB设计中,如何提高电路的抗静电放电性能以及需要采取的抗静电防护措施。 相似文献
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静电放电模拟器是测试产品防静电性能的主要设备,目前国内还没有较成熟的校准方法和装置,本文在简要介绍静电放电模拟器工作原理的基础上,提出了校准方法并建立了校准装置,可解决静电放电模拟器的溯源问题。 相似文献
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静电产生的原因及静电放电的抑制措施 总被引:3,自引:0,他引:3
将着重讨论静电产生的原因以及如何避免静电放电的危害。概括了电子行业的标准测试方法,提供一些通用的抗静电放电的,并介绍一些专用的静电放电保护器件。 相似文献
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汽车电子设备静电放电抗扰度测试标准比较 总被引:2,自引:1,他引:1
比较并分析了汽车电子设备静电放电抗扰度测试国际标准ISO10605、IEC61000-4-2和整车厂商测试标准在人体放电模型、试验布置和试验方法等方面的差异,认为整车厂商标准比国际标准更具有可操作性和可重复性,并且在一定程度上提高了测试的严酷度。 相似文献