螺旋线慢波结构损耗特性研究

本文采用了与其他作者不同的理论模型和计算方法,对螺旋线慢波结构损耗准确的理论分析,考虑了介质夹持杆,管壳和螺旋线金属电导率对损耗的影响。在ＨＰ８５１０矢量网络分析仪上对两种结构的损耗进行了测量,并对螺旋线与能量耦合器之间的阻抗失配引起的误差进行了修正。理论结果与测量结果有较好的一致性。     

热电探测器温度噪声和介质损耗

在理论上和实验上业已证明,热电材料及其环境之间的热导,对其介质损耗测量值有很大影响。介质损耗正切测量值中的这一热的贡献决定于其和环境热交换的情况,比材料本身的损耗正切值,即畴壁运动、缺陷和杂质造成的损耗值要大。在钽酸锂做成的探测器中,己经看到,此热导引起的温度起伏(温度噪声)对归一化探测率(D~*)有影响。     

P(VDF/TrFE)热释电探测器的研究

采用电晕极化和超低频电场极化两种方法极化偏氟乙烯/三氟乙烯共聚物P(VDF/TrFE)73/27,发现制得的热释电探测器性能相似.计算了P(VDF/TrFE)73/27热释电探测器的介质损耗噪声,发现计算值与探测器噪声测量值符合得很好,从而得出P(VDF/TrFE)73/27热释电探测器噪声主要来源于P(VDF/TrFE)73/27介质损耗噪声.     

天线罩设计的新进展

本文讨论两种天线罩设计技术的最新进展。首先讨论可以降低A型夹层天线罩最大象差的三种方法,罩形可以是高细度比的圆锥形或椭球形。未修正的椭球A型夹层罩象差的计算值与用三种修正法修正的同型罩的相应数值进行了比较。所研究的三种修正方法是:特殊导线修正法,控制天线罩夹芯各向异性的方向性和利用人造介质增大罩芯的介电常数。三种修正法都表明,它们可以将峰值象差降低50%。其次讨论了降低强化塑料天线罩的性能随温度变化的方法。叙述了用各种强化布的两种聚酯树脂构成的强化天线罩材料。给出了在Ⅰ(Ⅹ)波段从20℃到175℃范围内介电常数和损耗角的测量值。为说明在此温度范围内介电常数和损耗角变化的情况,给出了Ⅰ(Ⅹ)波段半波天线罩结构的计算带宽。     

四频差动激光陀螺模式损耗导致的零偏

为了进一步提高四频差动激光陀螺(DILAG)的精度,对其模式损耗导致的零偏进行了理论和实验研究.考虑气体增益介质的色散效应对环形空腔频率的修正,推导了DILAG零偏与磁场强度、氖xg.同位素配比、模式损耗、腔长等参量在不同工作方式下的关系式.采用腔长调谐、施加磁场、改变工作方式等方法进行了实验研究.研究结果给出了DIL...     

测量介质参数的谐振腔法的精确化

当用改变具有H_(01p)模振荡的圆柱谐振腔长度的方法在9～10GHz频率范围内测量损耗极小(介质损耗角正切tgδ≤10~(-4))的固体介质参数时,会观察到测量方法的理论未涉及到的一些现象,即样品厚度d偏离1/4波长或半波长将引起tgδ测量的显著变化当;→0时,tgδ值急剧增大。     

噪声系数测量中的损耗修正技术

为了得到DUT的真实噪声系数，必须对测量过程中出现的额外损耗进行修正。现有的噪声系数分析仪只能对DUT前后的损耗和它们的组合进行修正。但是当有损器件存在于校准过程中而其在测量过程中没有被包含在DUT之后时，也需要进行修正。该新情况和已有3种情况的组合构成另外3种复杂情况。这7种情况是完备的，它们确实存在，有时不可避免。根据噪声系数测量的原理，推导了各种情况下的损耗修正公式，并详细分析了额外损耗对测量不确定度的影响。     

浅谈绕组结构对介质损耗测量的影响

绝缘元件在电力设备中得到广泛的使用。绝缘水平的好坏直接影响着电力设备是否可以正常运行。但是,绕组的结构对绝缘元件的绝缘水平将会产生一定的影响。因此,本文针对绕组结构对介质损耗测量的影响进行了一定的讨论与分析。本文首先介绍了绕组的基本结构,然后,给出了变压器绕组介损的现场测量情况。最后,以实例针对介质损耗的测量影响情况进行了分析与阐述,并根据试验结果进行了绕组结构对介质损耗测量的影响情况的讨论。     

复介电常数测量方法——同轴探针法再构建与修正

为提高同轴探针法测量介质的复介电常数的精度,重新对介质的阻抗模型—电容模型进行构建和修正,再分别用修正后的模型和原模型对同一样品进行测量并比较。结果显示两种方法对生物样品的测量结果差别不大,但对虚部较小的介质测量结果有一定的差别。修正后的模型提高了甲醇复介电常数虚部的测量精度,表明该模型比较适合测量虚部较小的介质,在一定程度上扩展了原有模型的适用范围。     

降低铌铁铅介质陶瓷损耗的研究

Pb(Fe,Nb)O_3-Pb(Fe,W)O_3-Pb(Zr,Nb)O_3介质陶瓷能在低温下烧结;并可代替BaTiO_3陶瓷用于多层陶瓷电容器。系统地研究了工艺过程及添加物对降低该系陶瓷损耗的作用。研究了配方中添加少量MnO_2或MnO或硫酸锰溶液来控制介质损耗的问题,要得到最佳的介质特性必须小心控制化学计量比;还研究了锻烧及烧结温度与保温时间对介电常数及损耗的影响,并发现采用较快的升温速度是理想的。     

基于RSSI的对数距离路径损耗模型研究

分析基于RSSI的对数距离路径损耗模型,通过对对数距离路径损耗模型进行相应的修正,以提高距离测量模型的准确度。最后对对数距离路径损耗模型及其修正进行了仿真。     

二维LDA系统在液体流速测量中的修正及应用

结合三光束激光多普勒测速仪,从理论上分析了在不同介质中测量参数的修正,推导出LDA在不同介质中的参数修正公式。以空气和水两种不同介质为例,利用修正公式求出各自的参数,在二维流道上用LDA测量减阻流体的流速,将LDA与流量计的测量结果进行比较,结果令人满意。     

直读式电容器介质损耗仪

介质损耗角正切tgδ(以下简称介质损耗)或品质因数Q=1/tgδ是表征电容器的基本物理量之一.它是衡量电容器质量好坏的一个重要参数.测量介质损耗的方法很多,仪器的原理也不一样,有的使用方便,有的精度高.本文介绍一种操作简单,测量范围和精度又能满足一般要求的直读式电容器介质损耗仪.仪器有三种类型,其测量范围不同,分别为10～100微微法、100～1000微微法、1000～10000微微法,tgδ值的测量范围和测量误差则相同,测量频率前二种是1兆赫,后一种是300千赫.     

光纤耦合器对光纤傅里叶变换光谱仪的影响

光纤耦合器是全光纤傅里叶变换光谱仪(FFTS)的关键元件.根据耦合模理论,分析了光纤耦合器的分束比、附加损耗等传输特性对FFTS的工作带宽和测量准确性的影响.提出一种修正方法,即根据耦合模理论,拓展光纤耦合器传输矩阵的定义,通过实验测量确定其值,进一步计算得到反映光纤耦合器传输光谱特性的窗形函数,用于FFTS的光谱修正.采用此修正方法不但拓宽了FFTS的工作带宽,提高了其测量准确性,而且降低了FFTS对光纤耦合器传输特性的要求.     

介电常数的计算机辅助测量——APPLe-Ⅱ波导自动测量线的应用

本文叙述了用波导自动测量线测量小损耗介质介电常数的方法。波导法测小损耗介质有两个难点,一是大驻波测量,一是运算复杂,需解超越方程。用了计算机辅助测量和计算,大大提高了测量速度和计算精度。本测试系统用Apple-Ⅱ微机,成本低,便于推广应用。     

热释电探测器中噪声源的理论分析

本文分析了热释电探测器中的噪声源及其对探测器性能的限制作用。推导了一个修正的约翰森-尼奎斯关系式,使之适合于计算介质损耗噪声。本文得出如下结论:1)小电容响应元热释电探测器中,FET产生的介质损耗噪声是主要的噪声源;2)悬于真空中的自由支撑热释电探测器中有一个使NEP达极小值的最佳工作频率。     

磷酸盐激光玻璃非激活吸收系数测量研究

介绍了高功率激光放大器系统中磷酸盐激光玻璃的静态透过率测量。在正常运行条件下,4片长按布儒斯特角放置的国产N31钕玻璃片对1.054um的激光波长平均静态透过率为94.5%,介质的损耗系数为0.294%cm-1,平均非激活吸收系数为0.146%cm-1。在此基础上对片状放大器的增益系数的测量结果进行了修正,获得了5.25%cm-1的小信号增益系数。     

微扰用介质薄片介电常数的精确测量

本文介绍作为平面结构慢波系统耦合阻抗测量用的介质薄片(云母片,陶瓷片等)介电常数ε_r的测量方法——谐振微扰法;并考虑到测试腔耦合元件电纳对测量结果的影响,提出了修正公式。在三厘米波段,对几种介质薄片进行了实际测量,并与传输线驻波比法进行了比较。这种测量方法还适用于各种半导体材料薄膜介电特性的测量。     

温度附加损耗对分布式光纤拉曼温度传感器测温误差影响研究

基于分布式拉曼温度传感器(RDTS)的温度解调 原理,研究了光纤温度附加损耗对传感器测温结果的影响。采用一条光纤的不同位置 同时测量两个温控箱温度的实验方法,得出当光纤温度在20.0～100.0℃范围内变化时,单位长度的光纤对该段光纤位置之后的 光纤产生测温附加误差与该段光纤温度成正比以及与受温度影响的光纤长度成正比的规律 ,进而实现了对RDTS测温结果的修正。实验结果表明,2km中一段700m长的光纤在温控箱 温度控制范围内,测量温度附加误差从修正前的最大4.09℃降低到 修正后的小于0.47℃。     

空气填充基片集成波导功分器设计

设计了一款空气填充基片集成波导(SIW)功分器.传统结构的功分器一般采用微带线结构,但在高频段,微带线结构线宽过窄且损耗急剧上升,无法满足系统的要求.本文用上下两层铜板固定中间介质基板,并将一部分基片集成波导中间介质基板挖空,用空气代替介质以减小功分器整体的介质损耗.与传统的微带线结构功分器相比,该功分器具有结构紧凑、...