加载多层介质谐振器的宽带背腔缝隙天线设计

提出并设计了一种工作于X波段的新型宽带背腔缝隙天线,通过在缝隙外侧加载多层介质谐振器,有效扩展了天线带宽并显著提高了天线增益.设计的天线中心频率为10 GHz,-10 dB回波损耗带宽约为40％;带内增益5～9.5 dBi,比未加载多层介质谐振器的背腔缝隙天线提高2～3 dB.实测结果同设计结果基本吻合,有效验证了该设计的正确性.     

多层介质金属条带电抗加载平板结构透波特性分析

应用有限元法(FEM)结合Floquet定理分析金属条带电抗加载的多层介质平板结构的电磁特性,并应用该算法模拟电抗加载雷达罩平板结构的透波性能.针对加载周期性、任意截面形状金属条带的多层介质平板结构建立了FEM算法模型并用C 语言编程实现;应用该算法首先分析了加载矩形截面金属条带、以金属为衬底的介质平板的散射特性,数值结果与文献报道结果一致,验证了理论模型与计算程序的正确性;在此基础上,计算了加载细金属丝的雷达罩平板结构的功率传输系数,考察了将金属丝加载于雷达罩壁的不同位置、金属丝的不同间距对电抗加载平板透波性能的影响.数值结果表明,该方法可以有效地分析电抗加载雷达罩平板结构的透波特性.     

带有矩形孔阵列的Au-介质-Au多层膜的透射特性

周期性亚波长孔阵列的异常透射性质在亚波长光电器件设计中具有重要意义。两层或更多膜层上周期孔阵列结构,由于层之间电磁场的相互作用可以导致新的光学性质。利用时域有限差分方法理论研究了带有矩形孔阵列的Au-介质-Au多层膜的透射特性。结果表明:该结构在近红外波段的透射谱存在多个透射峰,并且透射峰的数量、位置和强度可以通过改变结构的几何参数和介质膜的材料进行调控。详细分析了介质膜的厚度和折射率、孔阵列的周期、矩形孔的边长等因素对多层膜矩形孔阵列透射谱的影响,为利用多个表面等离子共振设计多波长控制器件提供了一定的参考。     

标准多层介质膜

美国兰姆达光学和镀膜公司,除提供大家知道的恰克拉斯基YAG激光晶体外,还提供一系列专用精密光学元件,其中重点是“多层介质镀膜”,透射率范围为0.1％～70％,镀膜1～23层,这种多层介质镀膜已     

多层介质薄膜偏振器的制造和处理方法

以前的偏振器是使用尼科耳棱镜或把许多玻璃板按布儒斯特角重迭而成的玻璃片堆。前者受尺寸的限制，后者则在玻璃面上有大的散射和吸收损失等缺点。     

多层介质电容失效分析

针对GaAs MMIC因电容失效而导致性能异常的问题,分析了电容失效模式及失效机理。对GaAs MMIC中多层介质电容的制作过程进行了重点监控,分析了电子束蒸发工艺缺陷对多层介质电容失效的影响。基于扫描电子显微镜(SEM)及能谱仪(EDX)分析,研究了电容基板金属颗粒对电容失效的影响。结果表明,电子束蒸发工艺产生的金属颗粒造成短路是电容主要失效模式。蒸发难熔金属时,在金属源形成的深坑导致蒸发速率瞬时增大,产生的大量金属颗粒造成电容极板短路,从而导致电路性能异常。最后,对金属蒸发工艺参数进行优化,采用分段蒸发增加熔源过程的方法降低了电容失效率。     

新型多层光学记录介质

日本NTT公司茨木实验室利用有机着色剂已经研制出一种新型多层光学记录介质。所研制的这种光记录介质由彩色形成体和显象剂构成。当它们混合时就变成彩色。这种彩色形成体和显象剂在塑料衬底上交替形成薄层，着色剂吸收其间的激光束。     

空间阵列IC简化多扬声器音频声场设计

平板电脑的宽幅屏幕可以给用户带来印象深刻的高清晰度视频，但由于空间受限的应用经常受到因扬声器摆放位置过近的有限声场的影响，音频性能无法实现身临其境的体验，因此，空间扩展音频需要复杂的算法来支持。     

多层介质微带线的变分解

本文用变分法分析并计算了多层介质微带线的传输特性。所得空气悬置微带线的计算结果用于工程设计中取得了满意的结果。     

多层介质膜的角散射

在Beckmann表面散射的基础上求出多层介质膜的角散射公式,计算了21层TiO_2/SiO_2反射膜对不同波长的角散射。     

多层介质中通孔结构准静态电容参数的提取

本文采用维数缩减技术(DRT)提取了多层介质中通孔结构的准静态电容参数。由于该方法充分利用了集成电路结构分层性的特点,从而可以很方便地处理任意的介质层数和结构参数,而仅需很少的计算时间和内存.文中的计算结果与Ansoft软件结果符合较好。     

一种解介质体散射问题的新方法

本文提出一种解非均匀介质体电磁散射问题的新方法。由测量到的介质体外的散射场,按照递推关系,可以求出全部介质体内的场分布。文章详细地推导了介质体内场分布的递推关系,并给出了计算机模拟计算的结果。     

天线孔径相位分布对综合阵列方向图和多普勒-时延响应的影响

本文简要回顾了合成孔径侧视雷达系统和它的天线坐标系之间的几何关系,探讨了合成孔径侧视雷达天线的孔径电流分布的理论要求。在R.C.Heimiller(1962)和R.W.Bayma(1975)等人工作的基础上,进一步论证了当天线孔径电流分布不是同相时,它对合成孔径侧视雷达的综合阵列方向图和多普勒-时延响应的影响,并在平方律和立方律相位分布条件下,对这些影响作了计算。计算表明,它不仅会使综合阵列增益降低,而且会使多普勒-时延响应的信号-模糊比下降。考虑到这些影响,本文对R.W.Bayma等人(1975)提出的重复频率的取值范围提出了补充意见。     

变厚度非平面介质罩发散系数的计算几何光学法

介质共形顶相控阵天线利用变厚度介质透镜改变相控阵波束扫描方向,理论上来说可到达半空域或更大,是一种适用于弹载、机载雷达系统的天线。本文较详细地讨论了介质罩对电磁波的发散系数的计算,给出了分析非平面变厚度分层介质对电磁波反射、折射的两种有效方法,并进行了比较。     

多层介质填充带线的改进分析

本文对平行于接地板方向充填以多层介质,或充填一种垂直于接地板方向作连续变化的介质的对称带线的保角变换分析作出了改进。用我们的新方法,变换后介质分界面可以直接确定,我们相信这种方法比K.V.S.R。等人所用方法计算速度快     

计算MOS器件应力的简单方法

本文根据SiO2薄膜的边缘力集中近似模型,求出了硅MOS器件中的应力场。计算结果与K.Kobayashi(1990)进行的Raman谱测量结果吻合较好。     

互阻抗精度对实现天线极低副瓣的限制

实现极低副瓣阵列天线需要作精确的互耦补偿.如果阵列的互阻抗(或互耦系数)矩阵确知,理论上可以精确补偿互耦的影响,从而实现极低副瓣接收。但无论是计算还是测量得到的互阻抗矩阵都只有一定的精度,这个精度最终决定了补偿效果。本文研究了极低副瓣阵列天线中互耦补偿对互阻抗精度的要求;推导出了互阻抗误差与通道幅相误差的关系;进而得到了互阻抗误差与副瓣电平的关系。     

介质波导阵列电磁特性分析

根据已提出的二维周期介质严格理论,比较详细地分析和研究了介质波导阵列的电磁特性．首先,对存在纵向波传播时(kz≠0)的空间谐波相互作用特征进行了分析,得出了横向波传播色散特性．其次,在横向平面上的两互相垂直方向的波数相等(kx=ky)时,对不同波频率下空间谐波相互作用特性及其产生的阻带分布特征作了详细研究,并对横向纵向波传播色散关系进行了分析和计算．最后,得出介质波导阵列存在纯纵向导波的十分有意义的结论,具有实用价值．     

一种微带天线阵的研究

本文叙述了一种微带天线阵的设计方法。给出了微带天线(元)分析表达式以及天线阵输入导纳近似公式。设计了两个天线阵。它的副瓣、驻波比、交叉极化、增益等都是较好的。从而验证了本方法的正确性。     

用于毫米波焦面成像阵的介质加载波导阵元分析

分析了有望用于毫米波成像焦面阵的介质加载波导阵元，采用时域有限差分法(FDTD)计算输入特性，优化了输入基本匹配时的结构尺寸参数，计算该结构参数下的阵元与成像透镜衍射场Airy斑的耦合效率并与其它阵元做了比较。