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针对非制冷红外焦平面驱动电路在噪声和可靠性方面的高要求,分析了降低直流偏置电压噪声以降低红外焦平面阵列噪声的可行性,提出了一种新型低噪声的非制冷红外焦平面驱动电路.该驱动电路采用ADI公司的AD8606系列高精度低噪声运算放大器构成一个直流缓冲器,其具有强大的直流驱动能力和低噪声性能,实现了直流偏置电路.采用Altera公司的Cyclone Ⅱ系列可编程逻辑器件,设计红外焦平面的时序驱动电路.测试结果表明:焦平面探测器均方根噪声降低至397.83μV,为后续非制冷红外热像仪的研制奠定了基础. 相似文献
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斯特林制冷机作为红外探测器的重要组成部分,可为红外探测器提供必需的低温工作环境,确保红外探测器正常工作,有效的斯特林制冷机散热设计,可提高红外探测器的工作性能。本文基于Ansys 有限元软件,对不同制冷机驱动盖板结构的红外探测器组件进行了热仿真计算,结果表明,红外探测器组件内制冷机驱动板和电机外壳的温度较高,其最高温度出现在驱动板的驱动元器件位置。制冷机驱动盖板由平板式结构改为凸台式结构、增大驱动盖板和导热垫的导热系数可有效改善红外探测器组件的散热性能,红外探测器组件的最高温度可减小8.5。 相似文献
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Ga F. Umeda K. Nakajima K. Watanabe T. Takahashi M. 《Display Technology, Journal of》2007,3(4):392-397
A simple method of verifying electromagnetic interference (EMI) reduction effects for liquid crystal display (LCD) driver integrated circuits (ICs) is proposed. In this paper, we discuss correlations between radiated emissions and high-frequency currents of power system at three different levels: print circuit board (PCB) level, chip level, and functional circuit level. The EMI design points for LCD driver ICs are presented too. Simulated and measured results prove that our EMI design effectively reduces LCD EMI noise. 相似文献
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IGBT智能化驱动板SCALE 总被引:4,自引:0,他引:4
SCALE驱动是瑞士Concept公司生产的IGBT智能化驱动板,可用于驱动和保护IGBT。文中介绍了该IGBT智能化驱动板的主要功能、工作模式和引脚功能,给出该器件的典型应用电路。 相似文献
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驱动开发程序包(DDK)是TI公司提供的一套标准的DSP/BIOS驱动开发模型,基于此模型做视频驱动开发可简化驱动开发过程,增加代码的可移植性和兼容性。以TMS320DM642视频专用板为例,详述了视频驱动开发方法和开发过程,并以实例给出了调试结果。实践证明,基于TMS320DM642的DDK的视频驱动开发能为视频应用提供稳定的底层支持。 相似文献
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AT91SAM7X256是Atmel公司推出的基于ARM7的工业级芯片.I2C总线以其简单性和高效性而广泛用于微控制器与外设的连接中,通过分析AT91SAM7X256的TWI接口控制方法,设计电路并编写I2C设备驱动程序,采用IAR开发环境和J-LINK仿真器进行软件的在线调试和加载运行,实现时间数据的读取和存储.基于ARM实现2个I2C设备的控制,同时驱动模块可用在嵌入式系统中完成历史时间数据的记录. 相似文献
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WDM是Microsoft公司最新推出的设备驱动程序开发模型。过滤器驱动程序是一种特殊而重要的中级驱动程序,文章介绍了它的基本原理及应用,然后简要地介绍了实现一个Windows WDM过滤器驱动程序的关键技术,同时给出了部分程序片断。 相似文献
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印刷电路板设计中的同步开关噪声问题是现代高速数字电路应用的瓶颈之一。介绍了一
种在电路板上施加同步开关报文和温度应力的可靠性测试方法,该方法可以有效暴露电路
板上的同步开关噪声问题。借助噪声测试和阻抗分析手段,对一个由该方法发现的异常问
题进行了分析,通过优化去耦电容和电源平面阻抗,抑制了电路板上的同步开关噪声,
问题得到了完美解决。最后,给出了一些在PCB设计中抑制同步开关噪声的方法和建议。 相似文献
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A New Algorithm for the Selection of Control Cells in Boundary-Scan Interconnect Test 总被引:1,自引:0,他引:1
This paper presents an algorithm for the generation of the values to be loaded in the control cells of a Boundary-Scan (BS) chain during an interconnect test. The algorithm selects several groups of control cells while avoiding that two or more drivers excite the same net at the same time, allowing every net to be active for every test vector and testing every driver after the execution of the overall test process. It allows for 100% detection of short, open, stuck-at and driver transition faults on fully controllable and observable BS nets on virtually any BS board. In fact, only two minor requirements are imposed: (1) the sets of nets affected by two different control cells must be disjoint or one of them must be included in the other; (2) every net of a set affected by a control cell must have the same number of drivers. In addition, the algorithm can be implemented very easily, avoiding the need to explore all the possible combinations of values to be loaded in the control cells. 相似文献