BGA封装器件焊点缺陷X-射线检测法

讨论了BGA器件焊接的特点,并对BGA器件焊接过程中产生的缺陷进行了阐述,采用X-射线检测仪检测了BGA封装器件安装焊点的几种常见缺陷,分析、阐述了其图像与相应缺陷的关系,结果表明X-射线检测方法能够准确地检测出BGA封装器件安装中的各种焊点缺陷,并能够自动计算BGA封装器件安装焊点的空洞率,对空洞缺陷的快速检测和预防具有实际意义.     

超声扫描显微镜检查在倒装器件检测中的应用

随着倒装器件在型号产品中使用越来越广泛,倒装器件在使用过程中也暴露出一些问题,如底充胶分层、焊点空洞以及裂纹等,这些缺陷均能导致倒装器件失效。总结了几种倒装器件超声扫描的缺陷,重点对底充胶以及焊点进行分析。同时,论述了倒装器件超声检测中内部界面缺陷的辨别以及原理。     

声学扫描技术在高可靠领域塑封器件检测中的应用

为了提高塑封器件在高可靠应用领域的可靠性,需要使用扫描声学显微镜检测塑封器件内部界面分层、空洞和裂纹等缺陷。介绍了扫描声学显微镜的工作机理和几种主要扫描模式。综合分析了大量检测实例,指出塑封器件内部典型缺陷的特点和辨别方法,对扫描声学显微镜在塑封器件无损检测方面具有参考意义。此外,对现行的扫描声学显微镜检测塑封器件的检测标准提出了改进建议。     

基于超声扫描的塑封器件缺陷判定方法研究

超声扫描检测因为其灵敏度高、对样品没有损伤的特点,被广泛地应用到塑封器件的筛选和检测中,但是目前不存在一个完整的超声扫描检测方法。对塑封器件缺陷进行分析,提出一种塑封器件缺陷的超声扫描检测方法。该方法采用A扫描与C扫描检测塑封器件内部的缺陷,其过程为塑封体缺陷检测与重要界面缺陷检测。与现有GJB 4027A要求的聚焦6个重要界面的检测方法相比,本方法只需要聚焦两个界面即可观察到6个界面的情况,可以提升检测效率。     

声扫检测中易误判的塑封器件的验证方法

塑封器件在高可靠性领域应用越来越广泛,为了降低使用风险,很有必要进行相应的检测或筛选,扫描声学显微镜检查就是其中一种很重要的无损检测手段。但是,在进行声扫时,对于某些最新的封装方式,需要特殊情况特殊分析,以避免因为器件的封装形式而非器件的缺陷拒收产品。在电子封装设计时,芯片表面可能涂覆一层有机材料来保护集成电路。但这种材料声扫结果往往与真正的分层一样显示为负波,容易误判为不合格。就这种结构及其声扫结果提出了几种验证方法。     

超声波检测技术在塑封元器件中的应用

超声波检测是一种非常重要的无损检测方法,能灵敏地探测塑封器件的内部缺陷。分别在超声波扫描的单点扫描工作模式、截面扫描工作模式、层扫描工作模式和穿透式扫描工作模式下,结合X光检测技术对霍尔电路元器件进行了检测。分析了霍尔电路器件超声波扫描检测结果中出现内部分层问题的主要因素,提出了利用超声波扫描检测技术对大批量元器件进行筛选检测时需要注意的问题。分析结果对提高塑封元器件可靠性具有一定的指导意义。     

X射线照相发现的管壳缺陷分析

现在对半导体器件的可靠性要求越来越高,因此对器件的质量检测提出了严格的要求,为了能准确检测器件质量是否合格,使用X射线检测技术对器件进行无损检测。X射线对缺陷损伤做快速精确探测分析具有方便、直观等优点。对一例不常见的X射线照相检查发现的晶体管空洞缺陷进行了分析、试验,确定空洞是由管壳存在的问题引起的,提出了解决空洞问题的措施。说明了器件在筛选时进行X射线照相检查的必要性,可以将有缺陷的器件早期剔除,以保证器件的可靠性。     

三维集成电路中硅通孔缺陷建模及自测试/修复方法研究

硅通孔(Through Silicon Via, TSV)是3维集成电路(3D IC)进行垂直互连的关键技术,而绝缘层短路缺陷和凸点开路缺陷是TSV两种常见的失效形式。该文针对以上两种典型缺陷建立了TSV缺陷模型,研究了侧壁电阻及凸点电阻与TSV尺寸之间的关系,并提出了一种基于TSV缺陷电阻端电压的检测方法。同时,设计了一种可同时检测以上两种缺陷的自测试电路验证所提方法,该自测试电路还可以级联起来完成片内修复功能。通过分析面积开销可得,自测试/修复电路在3D IC中所占比例随CMOS/TSV工艺尺寸减小而减小,随TSV阵列规模增大而减小。     

采用声光调制技术的激光照排系统

介绍电子出版系统的基本原理及工作过程，分析了几种电光转换方式，指出了在激光照排机中用声光调制器作为电光转换器件的优点。最后，介绍了几种激光照排机的主要结构方式，并分析了其各自的优缺点。     

QFN器件组装工艺缺陷的分析与解决

介绍了QFN封装器件的优点,指出了QFN器件常见的组装工艺缺陷类型,分析了QFN器件组装工艺缺陷形成的原因,给出了改善这些工艺缺陷的措施,对组装过程中QFN工艺缺陷的分析与解决有一定的实用意义.     

针孔缺陷对集成电路功能成品率影响分析与仿真

对集成电路针孔缺陷引起功能成品率下降的模型进行了研究 ,给出了分析和仿真针孔功能成品率的两种计算方法—— Monte- Carlo方法和关键面积提取方法 ,这对集成电路成品率设计和分析是非常重要的     

基于外参考干涉对准技术的对准系统信号处理方法

给出了基于外参考干涉对准技术的对准系统的对准原理及信号处理流程。包括:基于外参考干涉对准技术的对准系统的对准原理;电子信号处理模块主要结构;信号的处理流程和算法原理,各衍射级次信号的分离方法简述等。     

叠片机中放带长度计算的研究

研究了叠片工艺过程中的放带电机,采用微积分方法对放带电机所需要的脉冲数进行了精确计算,给出了计算公式,改变了传统用估算方法带来的弊端。实践证明该方法是可行有效的,具有实际指导意义,为设计人员提供了依据。     

太阳能电池的金属化技术

在工业生产中，太阳能电池在保证效率的前提下最大限度地降低成本。通过对丝网印刷太阳能电池结构介绍和局限性分析，研究了埋栅太阳能电池用电镀的方法进行产业化的步骤，进而提高太阳能的转化效率。     

A NEW METHOD OF MOVING OBJECT DETECTION AND SHADOW REMOVING

This paper presents an adaptive method of objects and shadows detection in video streams. Models of background are firstly set up and adaptively updated in Hue Saturation Intensity （HSI） color space to detect motion regions. Then, detection errors are dealt with by motion continuity and velocity consistency. Finally, cast shadows are removed by the generic properties of luminance, chrominance and gradient density. Experimental results and their evaluation are presented to verify the effectiveness of this new method.     

用于目标跟踪的矩阵运算电路设计及实现

实时目标跟踪在自动控制和在线检测领域中具有重要意义。本文提出了一种用两幅图像作异或运算实现运动目标的检测及跟踪的方法,并给出了能快速完成此运算的与计算机系统总线接口的电路硬件设计。实验表明,该电路硬件运算比纯程序软件运算速度快近两倍,是实时目标跟踪的首选方法。     

K分布海杂波背景下基于最大特征值的雷达信号检测算法

针对K分布海杂波背景下的恒虚警检测问题,基于信息几何的矩阵CFAR检测器具有较好的检测性能,但其计算复杂度较高,从而影响其实际应用。该文根据奈曼-皮尔逊准则,推导了似然比检测统计量与最大特征值之间的关系,进而提出了基于最大特征值的矩阵CFAR检测方法(M-MED)。最后通过对所提方法的计算复杂度及仿真实验结果的分析表明了所提方法不仅计算复杂度低且具有较好的检测性能。     

小波变换理论在线性调频信号辨识中的应用

在电子战信号处理领域,快速有效的识别脉冲压缩雷达信号具有重要的现实意义。基于小波变换理论在信号去噪方面的理论,定义了均值小波能谱,进而提出了一种快速准确识别低信噪比线性调频信号调制参数的方法。通过计算机仿真,该方法对多组低信噪比线性调频信号的参数辨识误差均在5.5%以下,从而证明了该方法的有效性和实时性。     

太阳能级单晶炉热场的适应性改造研究

在JRDL-900型太阳能级单晶炉上安装自行设计的350 mm(14英寸)密闭式热场,替换原有的500 mm(20英寸)热场,使该单晶炉具备了半导体级75~150 mm(3~6英寸)常用硅单晶的生长条件。根据单晶炉实际情况,重新设定了单晶生长控制程序,实现半导体级硅单晶等径生长自动控制。在拉晶实验过程中,发现并解决了影响单晶生长的设备和技术问题,成功实现了半导体级100 mm(4英寸)硅单晶的生长,对单晶成品的相应参数测试表明,使用该类太阳能级单晶炉,通过炉体和热场的改进,能够实现半导体级产品的生产,可有效利用闲置设备和资源,并为今后该类型的大规模改造和生产奠定了技术基础。     

基于二值条纹动态照明的透明平滑曲面缺陷识别

针对在透明光滑表面视觉检测中,商用照明系统 较难获取高对比度曲面瑕疵特征的局限性,论文提出了基于二 值条纹的动态背向照明方法。该照明投影出一组等间距位移量的动态二值条纹图案,将亮暗 条纹之间的过度区覆盖至整 个待测表面,最大化缺陷与光滑表面的透射光线方向性差异。对动态条纹照明后的透明曲面 序列图像均值处理后,获取 均一背景下的缺陷特征图像。之后结合小波变换边缘提取与直方图全局阈值分割的方法,极 大增强了光滑曲面与平面上的外观缺陷信息。基于3D曲面手机玻璃的测试结果表明,该方法 成功提取出透明光滑曲面上的低对比度缺陷,为缺陷的准确识别提供了可靠保障,具有良好的应用前景。