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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
平面凸点式封装(FBP)   总被引:1,自引:0,他引:1  
QFN工艺(Quad Flat No-lead)在封装过程中大多存在着焊线牢度不够、包封溢胶、切 割毛刺等缺陷,FBP(Flat Bump Package)的出现不仅很好地解决了QFN的缺陷,而且FBP产品 在SMT工艺中能表现出更优良的特性。文章主要介绍了FBP的设计思路、结构特点、主要工艺流 程、关键工艺和衍生产品等。  相似文献   

2.
1、产品及其简介平面凸点式封装(FBP)体积小,功能优,目前最小的封装尺寸已可以做到0.8mm*0.6mm*0.4mm,独特的凸点镀金式引脚使表面安装技术(SMT)焊接更为方便可靠。FBP封装可以适应共晶、导电胶、软焊料等不  相似文献   

3.
<正>在前不久落下帏幕的“中国集成电路产业发展研讨会暨第八界中国半导体行业协会集成电路分会年会”上,江苏长电科技股份有限公司向业界展示了其自主研发的新型封装技术FBP (Flat Bump Package)。  相似文献   

4.
本文主要介绍了 BGA 封装技术的一个分支——新一代 BGA 封装技术:略大于 IC 的载体 BGA(SLICC BGA),缩小型 BGA(m MGA),微型 BGA(μBGA),芯片尺寸封装(CSP),超级焊球阵列封装(Super BGA),混合 BGA 和现场可编程互连器件(FPID)BGA 封装技术。此类技术封装的电路特点是体积更小、成本低、优良的散热性能和电性能。  相似文献   

5.
BGA封装技术研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
李秀清  葛新霞 《半导体情报》2000,37(4):18-22,26
介绍了BGTA技术的研究现状,着重从芯片互连、基板主封装设计等方面讨论了该的发展前景。  相似文献   

6.
本公司开发的BGA封装用的铜球是采用具有高热量传导和较高电传导率的铜加工而成的产品,在制造中,其球直矩范围可达到0.3 ̄1.5mmφ,另外,由于球直径的精度较高且是硬核心球,因此,该球具有间隔作用等特点,由于BGA封装方面的需求不断增多,因此从去年开始出售样品。  相似文献   

7.
本文概括地介绍了新一代微电子封装技术-BGA的基本概念,特点,特点,封装类型,技术先进性,生产应用,研究趋势及未来的前景。  相似文献   

8.
为解决QFN成本较高的问题和进一步提高产品可靠性,华天科技突破了传统思想的束缚,在产品结构的设计上进行了创新。引脚在封装本体内式封装(LIP:Lead In Package)是一种新型的封装形式,它是针对目前QFN(Quad Flat No-lead)在封装高成本问题而重新选择的设计方案。  相似文献   

9.
CPU芯片封装技术的发展演变   总被引:1,自引:0,他引:1  
鲜飞 《微电子技术》2003,31(3):8-10
本文主要介绍了CPU芯片封装技术的发展演变,以及未来的芯片封装技术。同时,从中可以看出芯片技术与封装技术相互促进,协调发展密不可分的关系。  相似文献   

10.
王耘 《今日电子》2002,(12):53-54
近年来,移动通信和移动计算领域的便携式电子机器市场火爆,直接推动了小型封装和高密度组装技术的发展;同时,也对小型封装技术提出一系列严格的要求,诸如,要求封装外形尺寸尽量缩小(尤其是封装高度小于1mm),封装后的连接可靠性尽可能提高,适应无铅化焊接(保护环境)和力图降低成本。如今的便携式电子机器对器件封装要求果真这样严格吗?其实,说不定你手里的第三代蜂窝电话手机已用到甚薄型QFN封装结构。这种手机上的显示板采用电源LSI和数码相机里电动机驱动用智能化功率LSI电路等的封装,要求确实十分严格。幸好,这些电路…  相似文献   

11.
介绍了几种新型芯片封装技术的特点,并对未来的发展趋势及方向进行了初步分析。从中可以看出IC芯片与微电子封装技术相互促进、协调发展密不可分的关系。  相似文献   

12.
陈晓 《电子测试》2007,(4):19-23,36
多芯片的出现同时也给封测技术的发展提出了新的挑战,针对这一点,本文详论了芯片封装的发展过程,以及各种封装的优缺点及其所需解决的问题.  相似文献   

13.
陈晓 《电子测试》2007,(2):60-63
多芯片的出现同时也给封测技术的发展提出了新的挑战,针对这一点,本文详论了芯片封装的发展过程,以及在各种在封装的优缺点及其所需解决的问题.  相似文献   

14.
微电子技术的飞速发展也同时推动了新型芯片封装技术的研究和开发。本文主要介绍了几种芯片封装技术的特点,并对未来的发展趋势及方向进行了初步分析。  相似文献   

15.
BGA封装器件焊点缺陷X-射线检测法   总被引:3,自引:1,他引:2  
讨论了BGA器件焊接的特点,并对BGA器件焊接过程中产生的缺陷进行了阐述,采用X-射线检测仪检测了BGA封装器件安装焊点的几种常见缺陷,分析、阐述了其图像与相应缺陷的关系,结果表明X-射线检测方法能够准确地检测出BGA封装器件安装中的各种焊点缺陷,并能够自动计算BGA封装器件安装焊点的空洞率,对空洞缺陷的快速检测和预防具有实际意义.  相似文献   

16.
本文主要介绍了CPU芯片封装技术的发展演变,以及未来的芯片封装技术。同时,从中可以看出芯片技术与封装技术相互促进、协调发展、密不可分的关系。  相似文献   

17.
CPU芯片封装技术的发展演变   总被引:1,自引:0,他引:1  
鲜飞 《电子质量》2004,(11):60-61,55
本文主要介绍了CPU芯片封装技术的发展演变,以及未来的芯片封装技术.同时,从中可以看出芯片技术与封装技术相互促进,协调发展密不可分的关系.  相似文献   

18.
本文主要介绍了CPU芯片封装技术的发展演变,以及未来的芯片封装技术。同时,我们从中可以看出芯片技术与封装技术相互促进,协调发展密不可分的关系。  相似文献   

19.
本文主要介绍了CPU芯片封装技术的发展演变,以及未来的芯片封装技术。同时,从中可以看出芯片技术与封 装技术相互促进,协调发展密不可分的关系。  相似文献   

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