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串联2—2复合材料的介电性和压电性 总被引:2,自引:2,他引:0
以PZT为陶瓷相,以聚偏二氟乙烯(PVDF)为聚合物相,采用热压法制备了串联2-2型样品。测试了串联2-2型压电复合材料的介电、压电性能。实验结果表明,串联2-2型复合材料的压电应变系数d33及介电常数ε均较小;在低频,由于界面极化引起的夹层损耗,其介电损耗tgδ则较大。 相似文献
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Bao—Tio2—Sio2玻璃陶瓷的介电压电和热电性 总被引:2,自引:0,他引:2
用在温度梯度场中析晶的方法制备了BaO—TiO_2—SiO_2系统的极性玻璃陶瓷。研究了它们的介电常数,热电系数,厚度伸缩振动机电耦合系数及其温度依赖性。研究表明,这些陶瓷可望成为一类重要的压电和热电材料。 相似文献
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研究了金属PTC陶瓷复合材料的介电行为。研究表明,金属-PTC陶瓷在电场作用下,由于正负电荷、晶格畸变和空位缺陷等而产生空间电荷极比使金属PTC陶瓷复合材料有较高介电常数。介电损耗频率谱和介电常数温度谱上都再现一个介电损耗峰,其主要原因是跃迁极化,金属阳离子由一个位置跃迁到另一个位置,在介电损耗峰民常数峰所对应的频率和温度时出现跃迁极化率最大。 相似文献
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采用传统的固相烧结工艺制备了铁电/铁磁复合材料,组分为(1-x)NiFe_2O_4+xPbZr_(0.52)Ti_(0.48)O_3(其中x=0.5,0.6,0.7,0.8).利用XRD和背散射电子像分析了复合材料的相成分,结果表明,复合材料由铁电相和铁磁相组成,无杂相生成.通过测量电阻率及压电性能得出复合材料的最佳烧结温度约为1 220 ℃.介电温谱研究表明,相变温度约为390 ℃,且不随频率变化,是铁电到顺电的相变.电滞回线呈束腰特征,剩余极化强度较小,随铁电体含量的增加剩余极化强度增大,铁电性加强. 相似文献
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(Na1/2Bi1/2)TiO3—SrTiO3无铅压电陶瓷的介电,压电性能 总被引:17,自引:2,他引:15
研究了(Na1/2Bi1/2)TiO3-SrTiO3二元系无铅压电陶瓷的介电、压电性性。Sr^2+的引入对NBT材料的常温介电系数、铁电相与反铁电相转变温度TFA(180℃)以及居里温度TC(300℃)的影响都不大,但却较大幅度地降低了NBT材料的高顽场,从而使极化相对容易。(Na1/2Bi1/2)TiO-SrTiO3二元系的压电性能参数d33和kt分别达到100pC/N和0.45。 相似文献
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xPb(Y1/2Nb1/2)O3—yPbTiO3—zPbZrO3压电陶瓷的研究 总被引:1,自引:3,他引:1
对xPb(Y1/2Nb1/2)O3-yPbTiO3-zPbZrO3三元系陶瓷材料进行了研究,对其压电与介电性能进行了测量,发现该三元系材料在x=0.2~0.5,y=0.43~0.46,z=0.55~0.58,具有优异的压电性能,在该范围内,陶瓷材料的居里点在400℃以上,实验表明该材料是一种具有良好应用前景的压电材料。 相似文献
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本文主要介绍1-3型压电陶瓷复合材料,并将它的主要性能与纯PZT陶瓷材料进行了比较,找到了1-3型压电陶瓷复合材料的机电性能随PZT陶瓷材料体积比变化的规律。 相似文献
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实验研究了在He、Ne、Ar中低气压低频介质阻挡放电的击穿特性.这种介质阻挡放电的电流波形是一系列脉冲,它是由外电场作用下的电子繁流和壁电荷电场对繁流的猝灭作用的结果.考虑了击穿过程中带电粒子的扩散损耗,实验研究和理论分析表明其击穿电压明显高于按Paschen定律计算所得结果,并分别依赖于气压和极间距离,而不是两者的乘积.离子诱导二次电子发射系数和击穿瞬间的电子平均能量也可用测量其不同极间距离的击穿特性来近似地确定,本文讨论了这种放电击穿特性的实验结果和理论分析. 相似文献
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模压工艺制备PZT/PVDF压电复合材料及性能研究 总被引:2,自引:0,他引:2
采用氧化物烧结法制备了 P Z T 粉末, X 射线衍射测试表明,它是 V( Zr)∶ V( Ti)=52∶48的纯四方钙钛矿型结晶相;用模压工艺制备了 6 种含 P Z T 不同体积分数的 P Z T/ P V D F 复合材料;对其介电性和压电性的测试表明,随着 P Z T 体积分数的增加,电性能参数呈非线性增大,当 P Z T 的体积分数超过 70% 时,介电常数和压电常数值迅速增加, P Z T 体积分数达到 90% 时已接近纯 P Z T 值。 相似文献
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SnO2掺杂ZnO-Nb2O5-TiO2微波介质陶瓷 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了 SnO_2对 ZnO-Nb_2O-5-TiO_2陶瓷相结构和微波介电性能的影响。随 Sn 添加量的增加,晶相组成逐步从(Zn_(0.15)Nb_(0.30)Ti_(0.55))O2相转变为 ZnTiNb_2O_8相,相对介电常数 ?r减少,?f向负频率温度系数方向移动, 当 Sn 含量增加到0.20,?f可降至 9.8×10–6℃–1。当 SnO2的摩尔比 y 为 0~<0.08 时,形成完全固溶体,提高 Q·f 值;当 y>0.08,部分Sn 形成第 2 相,降低其 Q·f 值。当 y 为 0.08,在 1 150℃烧结,具有很好的微波介电性能,其 ?r为 50.3,Q·f 为 14 892GHz,?f为 25.12×10-6℃–1。 相似文献
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金属互连电迁移有断路失效和短路失效两种常规失效模式,其中短路失效是由于发生了析出效应.目前对电迁移断路失效的研究较多,但是对于析出效应(短路失效)的研究较少.研究发现在金属电迁移析出效应监测过程中易产生两种电介质击穿效应,分别为在实验刚开始发生的瞬时电介质击穿(TZDB)效应和测试过程中产生的时间依赖性电介质击穿(TDDB)效应.此外,电介质层材料的介电常数值越高,其耐电介质击穿的能力越高.析出效应的监测电场强度的设定值应该同时考虑电介质层材料与测试结构的特性,监测电场强度的设定范围建议为0.15~0.24 MV/cm,以防止在析出效应监测过程中发生电介质击穿,混淆两种不同的失效机理,造成误判. 相似文献
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NBT-Ba(NbO3)2无铅压电陶瓷的压电介电性能 总被引:2,自引:1,他引:1
采用传统陶瓷制备方法,制备了一种新的(Na1/2Bi1/2)TiO3基无铅压电陶瓷(1-x)(Na1/2Bi1/2)TiO3-xBa(NbO3)2(摩尔分数x=0~1.4%)。X-射线衍射分析表明,所研究的组成均能够形成纯钙钛矿(ABO3)型固溶体。SEM观察结果表明,掺入Ba(NbO3)2促进了长条状晶粒的析出。不同频率下陶瓷材料的介电常数-温度曲线显示该体系材料具有明显的弛豫铁电体特征,且随着Ba(NbO3)2的增加,其弛豫性特征愈明显。检测了不同组成陶瓷的压电性能,发现材料的压电常数d33和平面机电耦合系数kp随着x值的增加先增加后降低,在x=0.6%时,陶瓷的d33=94 pC/N,kp=0.171,为所研究组成中的最大值,介电损耗tanδ则随x值的增加而增加。 相似文献