参数测试问题?请在使用检修仪器之前检查探针接触电阻

参数测试仪广泛应用于半导体产品、工艺过程开发以及生产监控。当测试结果与预期不符合的时候,请首先检查信号路径以发现潜在的问题。参数测试系统将电流或电压输入被测器件(DUT),然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为:从测试仪通过电缆束至测试头,再通过测试头至探针卡,然后通过探针至芯片上的焊点,到达被测器件,并最后沿原路径返回测试仪器。通常,测量仪器引进一些噪声或测量误差,更可能导致误差的原因是系统的其它部件。在对仪器进行检测前,最好先检查信号路径以发现潜在的问题。其中之一可能是接触电阻,它会受探针参…     

针压敏感芯片圆片测试探索

圆片测试中存在大电流的测试项目,比如基准电压的测试,它会受接触电阻的影响,接触电阻太大会抬高测试回路中模拟地的零点,导致测试的基准电压比真实值偏大。类似于以上描述对于在圆片测试过程中受针压大小影响较大的芯片即为针压敏感芯片;此类芯片在测试过程中一般都需要将探针针压加大或者在测试过程中不断地清针和磨针来减小接触电阻,从而减小测试误差。不断地清针和磨针将会给探针造成不可挽回的损耗,缩短探针的使用寿命。为解决以上问题,介绍了一种解决针压影响测试电压的方法。     

简易集成电路测试器

这里讨论的无源测试器可以在路测试一个集成电路,而且不必对每个被测器件来重新调整电路的安排。无源测试器也可用做逻辑分析器,以监测输入信号和产生的相应输出信号。 此测试器可以测试具有任何引脚的器件。这里讨论的样机可以测试多达20个引脚的器件。具有8至20个引脚的集成块一般为双列直插式(DIP)封装,芯片在宽度及引脚间距均相同。因此,如在此集成电路测试器上加有零插力(ZIF)插座,则可以测试大多数的8、14、16、18和20引脚的集成电路。 此集成电路测试器将一个已知其功能完好的器件接入电路,并将其一个或多个引脚与待测器件的相应引脚并联。如果发现任何相应的两引脚上的信号不同,则此测试器点亮一个LED(发光二极管),且测试器上的另一个LED也点亮,以指示究竟是哪二个引脚上的信号不同。     

SN65LVDS32B的有源故障保护电路特性

差分式数据线路接收器在没有输入信号的情况下,会受噪声影响.这种情况发生在总线驱动器被关闭或连接电缆损坏和断开的时候.通常,这个问题用外部电阻网络在未被信号驱动的输入引脚上施加固定值偏压来解决.除了外部元件的成本之外,这种办法会降低输入信号的幅度并减小差分噪声容限.     

长寿命抗干扰测试针在SOT363半导体高频器件测量中的应用

在半导体器件生产企业中,使用测试针接触器件的引脚进行电参数测量,必须考虑两个问题。一个问题是降低测试针与器件引脚间的接触电阻。在自动化生产线中,企业要想得到高精度的测量值,必须经常替换已磨损的测试针,才能获得更高的成品率。另一个问题是降低外部信噪对半导体高频器件(工作频率>2 GHz)HFE参数测量的影响。外部信噪会使高频器件的HFE参数不稳定,造成成品率的降低。通过SOT363测试针设计实例,介绍了新型长寿命抗干扰测试针的设计方法。     

提高DIP测试插座装夹方式的可靠性研究

为了解决检测单位对于多品种、大批量DIP集成电路在测试时,测试插座导电弹片与器件管脚接触的可靠性问题,本文通过对老炼测试插座的分析,结合其在实际使用中的问题,提出了一种新型插座结构。     

圆片测试中探针接触电阻的影响与改善方法

介绍了影响探针接触电阻的几个因素,探讨了在测试过程中探针表面的变化以及接触电阻变大的原因、接触电阻对测试的影响。提出了几种控制接触电阻的办法,从材料、探针卡制作方面控制接触电阻的产生,在测试生产过程中通过定期清针、吹氮气等方式减少针尖损耗并减小接触电阻,在测试技术上采用双针开尔文连接和其他一些优化方式避免接触电阻对电参数测试的影响。通过以上方式有效提高了测试准确性和测试过程的顺畅性。     

探针卡片参数的选择、维护及发展

<正> 众所周知,半导体集成电路制造过程中的初测(即以前所称的“中间测试”),芯片是通过探针与测试系统连接传递信号。测试质量取决测试点(电极)的接触状态。而此点在很大程度上是由探针的内在质量来保证的。探针卡片的内在质量主要包括:探针材料的机械性能及电气性能;探针的结构尺寸;针尖共面度;针间电容;线迹电容;线迹电阻;针尖接触电阻等内容。如何正确选择这些参数,以保证探卡具有优良可靠的使用性能,是设计制作探卡时必须首先考虑的问题。本文拟就探卡参数对测试的影响及选取原则,使用中的维护以及探卡的最新发展三个方面作一些探讨和介绍。     

测试插座尺寸缩小到0.4mm以下

随着封装间距尺寸缩小到0.4 mm以下,测试插座行业遇到了电学和机械方面的问题。主要的挑战包括封装尺寸增大,这意味着有更多的I/O要测试。增加了测试要求,且信号完整性问题进入了混合状态。可见新材料、设计和接触技术对于继续缩小至更小间距的测试插座是必须的。     

有线天线使用经验六则

一、部分电视机特别是早期生产的电视机,在用有线天线插座收看电视节目时,个别频道收看效果较差,画面上出现其它频道信号的干扰。而这些电视机接收无线信号时完全正常,显然这不是电视机本身的问题,不能通过维修的方法来解决。遇到这种情况可将天线改插到天线盒的FM插孔(调频广播信号插孔),画面会得到明     

Contact Resistance Estimation for Time-Dependent Silicone Elastomer Matrix of Land Grid Array Socket

A land grid array (LGA) socket provides high-density, electrically-separable interconnect between a component and a printed circuit board. The LGA socket must not be susceptible to creep and stress relaxation, which can lead to loss of contact force and consequently the degradation of contact resistance. In this paper, the time-dependent contact resistance failure mechanisms were experimentally assessed and theoretically analyzed for silicone elastomer matrix socket interconnects. A time-dependent physics-of-failure model was developed for contact resistance simulation     

How much Reliability

Individually, we may be concerned about a smal portion of the reliability program, Such as probability of success, or economic considerations, or systems effectiveness, or one of the many other reliablility factors, when we should be looking at the whole picture. Reliability is not something that you buy by the piece or pound erdezem and just attach to the equipment, it is something that is inherent in the disian. This places a great responsibility on the design engineer. He must know the safety factor of each and every part, how they can fail, and how to compensate for all the variables. There is no part answer to ``how much reliability;' it involves many trade-offs, and the final decision will be made as a result of these trade-offs. When figuring ``how much reliability,' we must consider the routin engineering practices, then add how much it would cost using good reliability practices. Afte this is determined, one must assign a useful Iife span to the equipment, determine the cost of maintenance, the cost of owning the equipment, and the cost of idle equipment. From this informtion, good decisions can be made. There is no quick ans wer to ``how much reliability,' but it can easly be evalupted and the determination, made.     

Testing multichip modules

Too complex to be tested as a chip and too packaged to be probed like a board, the multichip module presents a new set of challenges to the test engineer. The author describes how, until dedicated testers are developed, applying board-type tests using an IC tester will prove to be the most effective test methodology     

TFT-LCD生产工艺环境

文章介绍了TFT-LCD的生产工艺环境,主要阐述了洁净室的管理和在洁净室的一些操作流程。洁净室的洁净等级非常重要,它将直接影响到TFT-LCD生产的合格性,如果没有良好的洁净度等级,那产品的成品率会大大地降低。对于洁净室的管理,必须要做到不带入、不产生和不积累任何的灰尘,这样才可以保证产品生产的正常运行。     

裸板测试与PCBA性能测试及使用功能分析探究

裸板测试-bare board test,又称"通断测试"。此检测工序是在整个电路板制程后质量检验中尤为重要关键的一个生产环节,因为它是保证客户原始设计网络关系、基本性能使用的电检测试工序。然而"通断测试"使用电检测试设备进行手动或自动测试过程中,由于在测试中测试治具与PCB形成接触,又因各种治具制作和PCB制成的因素导致最终成品板焊接盘形成接触式损伤,存在客户使用功能的性能隐患,所以为了达到客户焊盘的使用要求,在"通断测试"中采用一些特殊的测试设备、工具或物料进行测试、以此最大程度减少甚至杜绝焊盘接触式损伤,并对产品设计和通断测试这些可能产生隐患的方面进行有效的审核识别和生产控制,才可以使得成品板焊盘质量得到有效的保证。     

TI 6000系列 DSP引导装载方式的研究

在基于DSP的系统设计中,为了保证掉电时程序不丢失,总是将程序保存在非易失性的存储器中,系统在上电复位时便可将其引导到DSP内部的RAM来执行。文中以FLASH作为引导存储器,描述了引导引脚以及相关寄存器的设置,分析了采用EDMA传输方式将代码从FLASH复制到DSP的过程,并对引导程序给出汇编语言的代码实现。     

How close is Iraq to getting the bomb?

How close is Iraq to developing a nuclear weapon? Evidence of an imminent threat is underwhelming but still unsettling. US President George W, Bush, supported by some independent strategic experts, says it could be a matter of months. Others say international arms inspectors effectively destroyed Saddam Hussein's nuclear program in the aftermath of the 1991 Persian Gulf War and that it would take him several years of unconstrained work to produce an atomic bomb-an unlikely prospect given the tough new arms inspection regime adopted by the United Nations Security Council and the threat of a US-led invasion. Coloring all these estimates is a palette of war fever, proliferation fears, and the murky politics of arms inspections. The short answer is that nobody knows how close the secretive Saddam is to having his long-sought atomic bomb. There is simply no way to tell, but that hasn't stopped the speculation about what is surely the most pressing issue in international affairs, if only because the Bush administration has stated it will take unilateral military action, if necessary to stop Saddam.     

SDH网络分析仪解决ATM over SDH物理层问题案例分析

随着现代通信技术的发展，ATM业务接口可能和SDH接口出现对接不通的问题，影响业务的开通时限，这种情况下可以使用SDH网络分析仪通过测试的手段来解决，主要方法是分别向发生问题的设备接口发送不同格式的信号，通过分析接收到的相应的告警，可找到接口对接不通的原因，本文通过对一个ATM交换机和SDH设备接口不通的实例来说明如何通过测试手段解决ATM over SDH物理层问题。     

立体镀金插头印制电路板的研制

文章介绍一种新型的印制电路板产品制作方法,具有立体镀金插头,提供十分可靠的与插座连接,不会出现信号连接异常的故障。该技术已取得专利,适于高可靠电子设备中应用。