基于Matlab的序加试验数据的改进处理方法

利用Matlab编程工具,提出温度作为加速应力的序加试验数据的改进处理方法.改进后的方法采用序进温度应力加速样品老化,基于参数退化数据提取失效激活能和寿命外推所需要的参数,无需待样品完全丧失功能即可停止试验,从而提高试验效率.试验数据处理结果表明,新方法得到的样品平均寿命与多年来统计的现场数据一致,验证了该方法的正确性.通过与原方法进行比较,验证了新方法具有简便、高效的特点.     

融合非线性加速退化模型与失效率模型的产品寿命预测方法

针对高可靠性产品寿命数据少、获取成本高的问题,基于充分利用产品在研制、加速试验等不同环境下的退化数据、失效数据等可靠性数据的思想,提出了一种融合非线性加速退化模型和失效率模型的产品寿命预测方法.首先,根据退化数据对非线性退化过程进行分析,估计退化过程的参数;然后,根据加速退化数据及相应的加速退化模型估计加速退化模型的参数,从而得到退化参数与应力之间的关系.进一步,利用比例风险模型融合产品的寿命数据和未失效截尾数据,并基于此计算产品的可靠度函数、预测产品的寿命.实例应用验证了所提方法的有效性,同时说明了所提方法的应用价值.     

红外探测器寿命试验自动化真空系统设计

针对目前红外组件寿命试验过程中测试参数时必须更换真空腔的问题,设计了一种用于红外组件寿命试验的自动化、多工位真空系统。提出了以杜瓦为试验中心的总体方案,实现寿命试验过程中原位参数测试。通过真空理论计算和计算机3D建模,进行了系统结构设计;采用可编程逻辑控制器(PLC)为控制核心,通过自动控制抽气回路阀门和泵的启停,实现对寿命试验真空环境的实时监控,以及对真空失效进行报警保护。在完成系统的设计后,进行了试验验证。试验结果表明,所设计的真空系统功能可正常运行,系统在加液氮的情况下,空载真空压强可达3.6710-6 Pa,满足红外组件寿命试验必需的真空环境要求。     

基于综合环境加速寿命试验的 电子装备故障预测研究

 对某型雷达天控系统的20kHz信号板进行均匀正交试验,利用试验数据对试验结果进行了深层次的分析,总结出温湿度条件下电子装备性能衰退的一般规律;针对在故障预测中占有重要地位的电子装备可靠性预测问题,提出了一种基于综合环境加速寿命试验的电子装备可靠性预测新方法,该方法将性能退化理论拓展为加速性能退化理论,将该理论与传统可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速寿命试验中无失效数据的处理问题,最后通过具体的算例验证了该方法的有效性.     

缩短电子设备寿命试验时间的灰色与方法探讨

采用灰色系统理论中的ＧＭ（１,１）模型对电子设备失效寿命试验数据进行数值拟合和预测,可缩短试验时间,节约试验费用。实例表明,灰色系统理论与方法应用于电子设备失效寿命试验数据处理中是可行的,有较高的预测精度。     

电子倍增器的加速试验方法及其寿命预测研究

对电子倍增器的加速试验方法及其寿命预测理论进行了研究.首先,建立了电子倍增器加速退化试验系统,设计了加速退化试验方案;然后,对电子倍增器进行了加速退化试验;最后,提出了电子倍增器的双恒定应力加速退化试验数据的分析方法,并对分析结果进行了模型检验分析,验证了该方法的有效性.     

基于BP神经网络的电子元器件寿命预测

电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器件寿命预测的方法,该方法可对当前样本的未来观测值或未来样本的观测值进行预测.对MOS电容的加速寿命试验数据进行了仿真试验,结果表明该方法可较好地预测MOS电容在相应的应力条件下的失效时间,且精度较高.     

缩短电子设备寿命试验时间的灰色理论与方法探讨

采用灰色系统理论中的ＧＭ（１,１）模型对电子设备失效寿命试验数据进行数值拟合和预测,可缩短试验时间,节约试验费用。实例表明,灰色系统理论与方法应用于电子设备失效寿命试验数据处理中是可行的,有较高的预测精度。     

竞争失效产品加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对竞争失效产品加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对竞争失效产品的加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计模型。最后通过GA-BP神经网络对目标函数进行拟合,降低了仿真规模,提高了试验效率,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。     

一个拓展的基于相似性的剩余寿命预测框架

基于相似性的剩余寿命预测方法是近年来兴起的一类部件剩余寿命预测方法,它可以提供合理的剩余寿命预测同时无需进行衰退过程建模(或仅需少量的相关工作)。针对当前基于相似性的剩余寿命预测方法仅利用失效的历史样本的问题,提出一个基于相似性的剩余寿命预测框架,同时利用失效与未失效(由于预防维护或终止使用等)的历史样本。在该框架中,提出两种估计未失效历史样本寿命,进而利用其衰退过程信息的方案(记为方案A和方案B)。一个系统的数值试验验证了在存在有限失效历史样本与存在大量失效历史样本的情况下,基于方案A的框架始终优于对应的传统方法。此外,试验结果揭示基于方案B的框架在失效历史样本有限的情况下并不有效,但随着失效历史样本的增多其表现迅速提升。数值试验的发现建议,在失效历史样本有限的情况下使用基于方案A的框架,而在可用大量失效历史样本时使用基于方案B的框架。     

HALT在引信寿命评估方面的应用

通过对引信寿命评估试验和高加速寿命试验（HALT）的特点进行分析,针对目前引信寿命试验的不足之处,提出了利用HALT中的有效信息来改进引信寿命评估的方法,例如：通过选择积极的加速因子和估算试验所需的时间来改进加速寿命试验,使之能够快速、精确地评估产品的寿命;在引信的研制过程中,当样本量较小时,可以利用改进的加速寿命试验来进行引信寿命的评估,使之能够快速地评估引信的中位寿命。     

微型杜瓦组件真空加速寿命试验的研究

微型杜瓦封装是红外焦平面探测器组件的封装形式之一,而真空寿命则是红外焦平面杜瓦组件的关键技术指标之一。通过分析影响杜瓦真空寿命的因素,建立了适合微型杜瓦真空寿命的加速试验模型,确定了其加速应力和水平,并用实验数据的统计分析方法对杜瓦的真空寿命可靠性分布作了进一步的估计。     

ACCELERATED LIFE TEST STUDIES OF NEW COATED DISPENSER CATHODES

The life of impregnated Ba-W cathodes with a new construction have been evaluated using an accelerated life test at three different temperatures (1170℃,1130℃,1090℃) and constant current density (2A/cm~2).According to the relationship of life with operating temperatures,an accelerated equation has been set up.The cathode life at normal operating temperature is deducted based on the accelerated equation.The results show that life of the novel cathode exceeds 190,000 hour at a current density of 2A/cm~2.     

一种威布尔寿命分布模型

给出了一种产品的长记忆寿命模型 ,推导出产品寿命的威布尔分布特性 ,对产品寿命试验的设计、分析、仿真有一定的应用价值     

提高功率管稳态工作寿命试验可信度的技术措施

提出了一种提高功率晶体管稳态工作寿命试验可信度的技术措施，利用这一技术措施，可以在试验过程中实时测量并严格控制晶体管的结 达到最高允许结温，从而提高了试验的可信度。     

真空荧光显示屏恒定及步进应力加速寿命试验的研究

为了解决在较短的时间内预测真空荧光显示屏（VFD）寿命的问题,降低寿命预测成本,通过加大灯丝温度进行了恒定和步进应力相组合的加速寿命试验,研究制定了其加速寿命试验的设计方案。应用威布尔分布函数描述其寿命分布,利用最小二乘法完成了试验数据的统计和分析,并开发了寿命预测软件。研究结果表明．试验设计方案是正确可行的,VFD的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合阿伦尼斯方程,加速参数的精确计算确保以后在很短的时间内便可估算出VFD在正常应力下的寿命。     

氦氖激光管的工作寿命特性的研究

本文在理论上从电子元器件的特征寿命η所服从的逆幂律，分析导出了描述氦氖激光管工作寿命的以时间ｔ为自变量的威布尔分布函数；用图估和最好线性无偏估计（ＢＬＵＥ）两种方法处理寿命试验数据，结果都证实了氦氖激光管的工作寿命（特征寿命）服从逆幂律；最后给出了这种氦氖激光管的逆幂律方程式。     

P波段功率管的射频脉冲加速寿命试验

概述了Ｐ波段功率管在射频脉冲条件下进行加速寿命试验的方法，对Ｐ波段功率管可靠性进行了初步预测，并分析了器件失效的原因。     

动圈扬声器损坏限制上限功率及寿命分布研究

分析了动圈扬声器的损坏机理和失效类型,通过一系列扬声器的功率试验,提出了扬声器的寿命分布模型,并讨论了扬声器损坏限制的上限功率。     

电机控制器电子器件可靠性研究

本文针对电机控制器电子器件在储存状态下的可靠性问题,首先分析、确定了可靠性加速寿命试验模型,然后设计了电机控制器试验电路板和监控电路,并根据确定出的试验参数对电机控制器试验电路板进行可靠性寿命试验,得出了电机控制器电子器件在正常储存状态下的寿命。