关于系统保证寿命的试验研究

以四组高温电负载恒定应力对半导体收音机机芯作加速寿命试验。对寿命数据分别作图估计和最好线性不变估计。在每母加速应力下，样本寿命分布均为双参数指数分布，均匀在保证寿命。平均寿命的加速规律符合Ａｒｒｈｅｎｉｕｓ方程。保证寿命与加速应力之间存在负指数关系。推算样本在正常应力下的保证寿命为５４８１小时。     

简单步进加速寿命试验下指数寿命产品的BAYES统计分析

1 问题的提出与基本假定1.1 问题的提出步进应力加速寿命试验是产品进行可靠性寿命试验的常用方法,对其试验数据的统计分析,通常是要求知道产品的寿命分布的有关参数与所施加的应力之间有已知的加速寿命模型,而一切的统计分析方法均以此为依据,但在一些实际问题中,加速寿命模型并不知道。本文针对这一情况,采用Bayes分析技术,给出在步进应力加速寿命试验下产品寿命数据的统计分析方法.1.2 基本假定本文给出的统计分析方法是建立在下面几个基本假定之下的。假定1 正常应力水平的S_0,加速应力水平为S_1,S_2,满足     

环形腔氦氖激光器加速寿命试验分析

为了找到特定条件下使用环形腔氦氖气体激光器寿命估计理论模型与寿命试验方法,文中假设环形腔氦氖激光器的工作寿命分布规律,在大电流应力下满足威布尔分布,选取电流作为加速应力,对环形腔氦氖激光器进行加速寿命试验。通过最小二乘法对试验数据进行处理,试验结果验证了假设的正确性,得出了环形腔氦氖激光器在正常工作电流下的特征寿命,可以通过大电流应力下的特征寿命来计算,有效缩短了试验时间。     

温度应力下基于步进加速退化试验的电子器件寿命预测

为实现高可靠性长寿命电子器件的寿命预测,根据Arrhenius模型,结合产品的线性退化轨迹模型,对于温度应力下性能退化性步进加速寿命试验,提出一种不同温度应力下时间折算方法,并且推导了它们之间的变化计算公式。在四种不同的温度下,对某型号集成运放进行步进加速试验,并利用此方法处理数据。结果表明,样品的伪寿命符合对数正态分布,其加速模型符合Arrhenius加速方程,据此可以求出样品中位寿命,实现寿命预测。     

恒定温度应力下的模拟IC加速退化试验研究

研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验.首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活能及其在正常工作应力条件下的寿命信息.     

热电应力加速寿命试验数据分析与可靠性估计

一、前言 1.试验考虑的出发点 过去惯用的加速寿命试验或者是在室温下加重电功率或者是在不加电情况下加高贮存温度,即属于一元应力系统下,进行试验。我们知道,加速寿命试验的意义在于采用高应力级水平的条件下,使器件“加速”失效,从而在较短时间内取得必要的可靠性数据,在一元应力系统下应力级水平是有限的(不能为了“加速”而无限加大应力),为     

三参数Weibull分布下基于BRM的LED照明灯寿命预测

为了在短时间内准确获得LED照明灯的寿命信息,以3组恒定加速应力的试验数据为基础,采用三参数Weibull函数描述其寿命分布,基于双线性回归法(BRM)对试验数据进行处理分析,并利用自行开发的寿命预测软件较为精确地得出LED照明灯在正常工作应力下的寿命。数值结果表明,LED照明灯的寿命服从三参数Weibull分布,其加速模型符合Arrhenius方程,精确预测的LED照明灯寿命为工程技术人员关于产品的可靠性设计提供技术参考。     

一种基于温度加速的LED产品寿命快速评价方法

针对LED照明产品,提出一种寿命快速评价的方法.通过对样品在3种温度应力水平下进行加速寿命实验,以光通量的衰减作为失效判据,并对实验结果进行了分析,以威布尔分布来描述产品的寿命分布,利用最小二乘法和阿伦尼斯模型对试验数据进行统计分析,最终外推得出正常应力水平下产品的寿命.     

威布尔分布下VFD恒定应力加速寿命试验与统计分析

为了精确地估计真空荧光显示器(VFD)的可靠性寿命,节省试验测试时间,通过建立加速寿命试验模型开展了4组恒定应力加速寿命试验,采用威布尔函数描述VFD寿命分布,利用最小二乘法(LSM)估计威布尔参数,完成了试验数据的统计分析,并自行开发了寿命预测软件,确定了加速寿命方程,实现了VFD的寿命估计。数值结果表明,试验设计方案是正确可行的,VFD的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合线性阿伦尼斯方程,每个加速应力水平下VFD的失效机理不变,精确计算出的VFD寿命对其生产厂商和技术人员具有重要的指导意义。     

基于改进粒子群优化算法nMOSFET寿命预测

对于电子器件寿命预测问题,文章提出了基于改进粒子群优化算法的BP神经网络电子器件寿命预测方法。首先对nMOSFET元件在不同应力条件下进行寿命试验,根据试验测试获得的寿命数据,得出对应的可靠性。文章通过结合改进粒子群优化算法和BP神经网络结合,建立电子器件寿命预测模型,应用该模型对相同应力条件的电子器件寿命进行预测,同时对应力加速条件下寿命的预测。通过试验证明,该算法具有更强的非线性拟合能力和更高的准确率。     

多冲接触载荷下激光涂层/基体系统的多因素耦合寿命研究

给出了多冲接触载荷的定义。针对化工、治金设备相关零件在多冲接触载荷下的失效特征 ,提出了相应的失效判据。制备了自熔合金粉末激光熔覆涂层试件 ,在冲击疲劳试验机上进行了多冲接触疲劳寿命试验 ,获得了各种条件下多组P -S -N曲线。考察了涂层材料、基体材料、涂层厚度等各个因素及其耦合对激光涂层 /基体系统疲劳强度和寿命的影响 ,给出了多因素耦合背景下的寿命分析结果     

激光二极管寿命测试方法研究

文中介绍了半导体激光二极管(LD) 寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模 型,并据此设计了LD 高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD 的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD 的老化曲线,即恒流条件下的P - t 曲线,或通过采集恒功工作LD 的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I - t 曲线,然后推断LD 正常条件下的使用寿命。     

The effect of model building on the accuracy of fatigue life predictions in electronic packages

Empirical fatigue life models such as the Coffin–Manson rule and its variants are commonly used at the present time to predict the reliability of microelectronic packages. While there have been reports of substantial error in empirical correlations relative to the experiments, this has not been accompanied by a rigorous understanding of the sources of the error. In this paper we systematically explore the various modeling errors in the fatigue life prediction. These errors include those in geometry representation, material behavior, load history and boundary condition application, and in the numerical solution procedure. As part of the study, experimentally validated correlations between temperature cycling and power cycling are developed for a TI 144 chip-scale package. The accuracy of the predicted life under power cycling conditions compared to the experimentally determined life is used as the basis for judging the model accuracy. The criticality of spatial refinement, temporal refinement, and accurate boundary conditions, including the often ignored natural convection boundary conditions, and their effect on predicted life is described in detail. It is shown that model errors can be a significant part of both the constitutive life models and the application models that use the constitutive life models to predict the fatigue life under a given environmental condition. It is also shown that with careful model building, solutions accurate to within 3% can be obtained.     

环氧模塑封材料的热–机械疲劳失效分析

封装材料的热疲劳失效是封装器件失效的主要原因之一.对在微电子封装中应用很广的环氧模塑封装材料进行了常温和高温下的拉伸、疲劳实验.基于以疲劳模量作为损伤因子的疲劳寿命预测模型,相应的材料参数通过实验获得.并通过实验得出了该环氧模塑封装材料考虑温度影响的疲劳寿命预测模型,利用该模型可以对微电子封装用高聚物的疲劳寿命进行预测.     

环氧模塑封材料的热-机械疲劳失效分析

封装材料的热疲劳失效是封装器件失效的主要原因之一。对在微电子封装中应用很广的环氧模塑封装材料进行了常温和高温下的拉伸、疲劳实验。基于以疲劳模量作为损伤因子的疲劳寿命预测模型,相应的材料参数通过实验获得。并通过实验得出了该环氧模塑封装材料考虑温度影响的疲劳寿命预测模型,利用该模型可以对微电子封装用高聚物的疲劳寿命进行预测。     

Life Tests with Periodic Change in the Scale Parameter of a Weibull Distribution

Two life testing procedures, namely, the progressively censored samples and Bartholomew's experiment are discussed under the assumption that the life of an item follows a specialized Weibull distribution. The scale parameter is different under two different conditions of usage of the item at regular intervals of time, the shape parameter remains unchanged throughout the experiment. The maximum likelihood estimates of the two scale parameters have been derived along with their variances. A numerical example illustrates the type of data and relevant calculations for the experiment involving progressively censored samples.     

On computing the repair cost of a maintained reliability system with known repair cost function and probability of repair

In this paper, a simplified analytic cost model for maintained reliability system under opportunistic repair scheme is discussed. Life cycle cost curves under various operating life cycle times and linear repair cost function is derived.     

有Al激光器和无Al激光器的工作寿命对比研究

为了证明无Al激光器在可靠性方面优于有Al激光器,对InGaAsP/GaAs无Al和AlGaInAs/AlGaAs/GaAs有Al的808nm大功率半导体激光器进行了常温下电流步进加速老化寿命试验,介绍了半导体激光器寿命试验的理论依据,给出寿命试验的数学模型,据此得到了器件在常温电流步进条件下的寿命,利用最小二乘法拟和得到加速老化的加速方程,从而推算出激光器的特征寿命,分析了有Al激光器和无Al激光器寿命对比结果,提出了材料中含Al对器件可靠性的一些不良影响,无Al激光器可靠性明显优于有Al激光器.     

蝶形激光器管脚振动疲劳寿命分析

针对用引线连接的蝶形激光器管脚在扫频振动测试中发生齐根断裂的问题,文章建立了有限元分析模型,模型中用不同管脚长度反映引线的影响,采用模态叠加法分析了管脚在20 g、20~2000 Hz正弦扫频振动下的应力。基于Miner准则,计算了管脚在振动条件下的寿命。分析结果表明:(1)原激光器管脚的固有频率高于2000 Hz,连接引线后,固有频率降低到2000 Hz以内,在振动条件下会发生共振;适当位置固定引线,可将其固有频率提高到2000 Hz以上,从而避免共振;(2)原激光器管脚在振动条件下为无限寿命,用引线连接后的激光器管脚寿命大幅降低,在适当位置固定引线可以将管脚寿命提高到无限寿命。     

Semi‐quantitative temperature accelerated life test (ALT) for the reliability qualification of concentrator solar cells and cell on carriers

An adequate qualification of concentrator photovoltaic solar cells and cell‐on‐carriers is essential to increase their industrial development. The lack of qualification tests for measuring their reliability together with the fact that conventional accelerated life tests are laborious and time consuming are open issues. Accordingly, in this paper, we propose a semi‐quantitative temperature‐accelerated life test to qualify solar cells and cell‐on‐carriers that can assure a minimum life when failure mechanisms are accelerated by temperature under emulated nominal working conditions with an activation energy >0.9 eV. A properly designed semi‐quantitative accelerated life test should be able to determine if the device under test will satisfy its reliability requirements with an acceptable uncertainty level. The applicability, procedure, and design of the proposed test are detailed in the paper. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd.