脉冲调制信号相位噪声测试

针对脉冲调制信号的相位噪声测试需求,从相位噪声的定义入手,引出调幅噪声和相位噪声的关系,分析鉴相法和频谱分析仪法进行相位噪声测试的特点;从脉冲调制信号的频谱特性入手,总结脉冲调制信号的相位噪声测试特点,归纳并对比鉴相法和频谱分析仪法两种脉冲调制信号相噪测试方法所需的条件、特点以及典型应用范围.针对一个测试实例,简述采用频谱分析仪时间门功能测试脉冲调制信号相位噪声的测量方法,并归纳使用频谱分析仪测试相位噪声时的注意事项.     

调速电机AM辐射噪声研究

本文针对调速电机AM频段辐射超标问题搭建电机系统的等效模型,借助仿真工具研究电机各参数对RE的影响;分析了该电机驱动信号的频谱分量,定位噪声根源为PWM驱动信号,通过仿真计算得到最终优化方案,对PWM驱动电机系统的EMC设计有指导意义.     

高k介质SOI LDMOS RTS噪声测试新方法

提出了一种基于智能温控的RTS噪声测试与分析新方法。该方法利用高k栅介质SOI LDMOS边界陷阱特性,首先建立了含有俘获时间常数、发射时间常数以及噪声幅度等参数的RTS噪声模型;然后设计了RTS噪声智能温控测试系统;最后对实测RTS噪声数据进行频谱变换,得到噪声功率谱密度并作分析。实验表明,该测试系统可以有效地获取高k栅介质SOI LDMOS的RTS噪声,具有良好的动态特性,且其本底噪声抑制率较高,较待测信号低两个数量级左右。     

面向空间引力波探测的激光低频段相对强度噪声测试技术

面向空间引力波探测对激光光源相对强度噪声的严苛需求,开展了极低相对强度噪声在低频段的测试表征技术研究。构建了基于低噪声光电探测器、高精度数字万用表以及快速傅里叶（FFT）频谱分析仪在低频段0.1 mHz～100 kHz的相对强度噪声测试系统。利用高精度数字万用表及FFT分段Smooth窗函数平滑算法实现对0.1 mHz～0.5 Hz的极低频段内相对强度噪声测试,本底噪声低于-99 dBc/Hz,同时利用低噪声放大器及FFT频谱分析仪测试在1 mHz～100 kHz的相对强度噪声,本底噪声低于-105 dBc/Hz。两种测试手段在1 mHz～0.5 Hz重叠频段内噪声测试结果的一致性验证了所构建测试系统在低频段测试结果的准确性。利用所构建的相对强度噪声测试系统对自研空间引力波探测用平面波导环形腔（NPRO）激光器、商用光纤激光器、商用外腔半导体激光器等多种激光器进行测试评估,并对其噪声成分及来源进行分析。所构建的低频段相对强度噪声测试系统可满足空间引力波探测对激光强度噪声评估的需求,同时也适用于其他低频段精密测量应用的激光光源噪声评估。     

半导体激光器低频噪声测试及参数提取

半导体激光器低频电噪声的大小受器件潜在缺陷的影响,与器件可靠性具有相关性。介绍了半导体激光器噪声测试及参数提取的原理,设计了基于超低噪声前置放大器和低频频谱分析仪的低频电噪声测试系统,可测量半导体激光器的低频电噪声并提取相关噪声参数,进而通过低频电噪声的研究对半导体激光器进行可靠性评价,具有灵敏度高、非破坏性等优点。     

基于虚拟仪器的数据处理软件平台设计

本论文使用虚拟仪器LabVIEW开发编写存储测试系统中的数据处理软件平台,对系统的整体功能提出总体设计方案,并对其中的数据滤波,频谱分析模块进行详细设计.在设计滤波模块时,主要利用了LabVIEW库中的Butterworth滤波器函数,对有噪声干扰的信号进行滤波处理,在设计频谱分析模块时,主要利用LabVIEW中的傅里...     

基于SeeSV噪声定位技术的电机噪声测试

针对驱动电机某一运转工况的噪声声压级与电机噪声频率的测试问题,提出了一种运用声学照相机SeeSV与传声器相结合,并同时检测电机振动信号的测试方法。通过选取SeeSV的不同频段对噪声源进行定位识别,分离出驱动电机的噪声频段,运用传声器测定电机的噪声强度,并用振动信号对声压信号进行验证。测试结果表明,用SeeSV和传声器相结合的方法,可在复杂噪声中识别出驱动电机的噪声频率为2 66625 Hz,声压级为607 dB,对工程噪声的评价具有实践意义。     

电磁干扰测试系统噪声对测量结果影响的研究

简述了利用微波频谱分析仪作为电磁干扰测试接收机的特点,分析研究了测试系统噪声对测量的干扰信号电平的影响,运用正弦信号加高斯噪声的包概率密度函数,导出了频谱仪工作于对数模式时的误差修正因子的计算公式,并给出了数值修正曲线。实验结果验证了理论分析与计算的正确性。     

极化合成增益的测试方法探讨

极化分集接收机化合成的增益测试按测Ｓ／Ｎ的方法，牵涉到噪声读数，与用电压表、频谱分析等常用仪表的常规测试读数有所不同，为取得准确的噪声测量值需要对读数进行适当的修正，而且由于噪声的随机性，应取其统计值，测试不便。     

基于LabView的SiO2抗辐射能力无损评价系统

基于MOS器件中SiO2介质材料噪声灵敏表征技术,提出了SiO2介质材料抗辐射能力无损评价方法。结合噪声测试的经验及该模型为理论分析要求,使用LabView平台开发SiO2介质材料抗辐射无损评价系统。本系统由数据采集和数据分析两个部分组成,数据采集部分主要负责噪声时间序列与频谱的采集与保存,数据分析部分的主要功能为时间序和频谱的特征值分析及SiO2介质材料抗辐射能力分析与相应器件的筛选。实验结果表明,软件性能可靠,对MOSFETT抗辐射能力的评价准确。