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使用超声波和X射线,可以在不破坏物体的前提下检查物体内部是否存在有裂纹和磨损,这种检测方式属于非破坏性检测。与之相比,利用声音和振动的非破坏性检测则更加多样,更富于变化。最为简单不需要设备和费用的非破坏性检测是用手指头敲击物体用耳朵听敲击 相似文献
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物体振动发声时,通常不仅有整体的振动,还同时发出局部的振动,构成完整的泛音列。利用泛音列来分析歌曲,可以起到化繁为简的效果。利用MATLAB的编程算法和函数库,对截取的音频文件作了谐波跟踪、能量计算研究,对不同的声音进行分析,找出其独有的音色特点,以便寻找出最适合这种声音的曲调与音乐表现方式。 相似文献
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光学元件亚表面损伤检测技术研究现状 总被引:1,自引:0,他引:1
在传统光学加工过程中产生的亚表面损伤(SSD)会降低光学元件的使用性能和寿命,需要对其亚表面损伤进行检测从而在加工过程中加以控制.从破坏性和非破坏性检测方法两方面概括性地分析了光学元件亚表面损伤的检测技术,对各种检测方法进行了分析和讨论,并指出了各种方法的优缺点.指出了国内的亚表面损伤检测技术与国际先进水平相比存在的差... 相似文献
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《电子产品可靠性与环境试验》2005,23(2):72
无损检测(NDT:NondestructiveTest)就是不破坏和损伤受检物体,对它的性能、质量有无内部缺陷进行检测的一种技术。工业上最常用的无损检测方法有5种: 相似文献
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报道了SOI材料薄膜厚度的非破坏性快速测量方法,详细地研究了SIMOx材料的红外吸收光谱特性,求出了特征峰对应的吸收系数.提出利用红外吸收光谱测量SIMOX绝缘埋层厚度的非破坏性方法,并根据离子注入原理计算出表面硅层的厚度.SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度是SOI电路设计时最重要的两个参数,提供的非破坏性测量方法,测量误差小于5%.在SIMOX材料开发利用、批量生产中,用此方法可及时方便地检测SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度,随时调整注入能量和剂量. 相似文献
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SIMOX薄膜材料的红外光谱特性和薄膜厚度的非破坏性测量方法 总被引:1,自引:0,他引:1
报道了 SOI材料薄膜厚度的非破坏性快速测量方法 ,详细地研究了 SIMOX材料的红外吸收光谱特性 ,求出了特征峰对应的吸收系数 .提出利用红外吸收光谱测量 SIMOX绝缘埋层厚度的非破坏性方法 ,并根据离子注入原理计算出表面硅层的厚度 .SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度是 SOI电路设计时最重要的两个参数 ,提供的非破坏性测量方法 ,测量误差小于5% .在 SIMOX材料开发利用、批量生产中 ,用此方法可及时方便地检测 SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度 ,随时调整注入能量和剂量 相似文献
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晴天 《激光与光电子学进展》1987,24(4):30
最近很注意研究记录以脉冲光辐射不同性质的物体的热作用参数的方法。发展这种方法的意义是:第一,可用这种方法测量物体的一系列重要特性:热传导系数和温度传导系数、非平衡激发的迁移和弛豫过程的参数,……。第二,可确定不均匀物体的内部结构。为了解决这个问题,除了利用光声方法以外,还可利用纯光学方法。光学方法的应用基础是:在由热辐射脉冲建立的不稳定热弹性应力作用下,物体表面产生位移时,记录来自物体的干涉花样的变化,或用“幻影”效应记录物体的数据。 相似文献
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浅谈噪声颗粒检测设备(PIND)的维修 总被引:1,自引:0,他引:1
PIND提供一种非破坏性物理检测方法。本文简述了Model 5100D型噪声颗粒检测设备的基本原理,讨论了该设备在使用维护的过程中常见的故障分析及其解决办法。 相似文献
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本文介绍的声压计,可以方便地用可见形式的读数随时指示声压的大小,以避免声音对听觉造成直接的危害。这种声压表示用固态LED条形显示方式,动态范围从30dB至120dB。袖珍的小型设计,携带十分方便。 一、声音与听觉 对于低于500Hz的声音,几乎人体任何部分都能检测出这种声音振动,而指尖对这类振动来说尤为灵敏,但比起刺激听觉门限的振动要求来又差得远多了。人耳的听力门限,是耳膜的振动幅度为十亿分之一厘来,这比单个氢原子的直径 相似文献