便携式移动电源电量显示控制电路的设计

针对便携式移动电源在充放电时的电量显示控制问题,文中基于常用的电池电量显示标准,设计了一种控制移动电源在充电与放电时电量显示状态的电路,该电路将电池的分压与芯片中升压模块的基准输入比较器比较,结合时钟信号进行逻辑控制,将电量显示分为多个阶段,采用4个LED显示。同时当芯片其他模块工作异常时,引入状态异常指示,提醒用户采取措施。采用TSMC0.35 μm工艺,在Cadance平台Spectre环境下进行仿真,仿真结果证明设计达到了预期效果。     

智能电池监视器

目前,最为流行的智能电话和PDA普遍使用锂离子(Li+)电池供电,以解决由于产品功能的增多而带来的功耗增大等问题。最终用户常常希望能够及时了解剩余电量和剩余工作时间,以便动态控制智能电话或PDA。传统的通过测量电池电压粗略显示电池电量的方法远远不能满足用户的要求,因此,果在智能电话和PDA中实现智能电池监视功能,将为用户带来更多的方便和收效。Li+电池的特性Li+电池放电时电池电压逐渐下降,但在不同的放电电流与温度下对应的电压差别较大。所以,要精确显示电池电量,必须同时测量电流和电压,根据其特征参数进行修正。业界普遍认…     

厦新A8手机＊789#的基本功能

*789长按#会出现厦新手机的工程模式。按数字键13查看电池电量:主屏上行为电池门限,下行为电池电量。电池门限为620,电池门限过高待机时间过短;电池门限过低会出现主屏电量显示满格、自动关机后不开机等故障。A8手机电池电压过低会造成手机和座充都无法给电池充电,只能用维修电源把电池激活后才能充电。按数字键26可查看电池剩余量:CHARGE off slim L3表示没有充电。薄电,电量显示是满格3格;如果是厚电,则slim换成standard的缩写,电量是两格,显示L2,依次类推。如果充电,则charge off会变成CC mode,表示是恒流充电(初期),或CV mode表示是恒压充电阶段(后期)。VB ***(25f)这里是变化的,在CV mode阶段,VB会固定在270这个数字(16进制)或显示624(10进制),表示为电池电压,需要进行换算。     

针对单节电池供电应用的电量监测技术

如何在电池整个生命周期内,或在电池处于过温状态及使用负载的情况下,对电池的剩余电量进行精确测量是很困难的事情。本文将介绍如何利用最新的电量测量技术——阻抗跟踪来解决电池电量精确监测的难题,文中还列举了单节锂离子电池组解决方案的简单设计案例。     

培养学生创新能力的电量测试系统实验平台的探索研究

为了培养学生创新能力,适应现代测试技术课程实验教学改革的要求,建立了电量测试系统实验平台。该平台由传感器、调理电路、数据采集卡和计算机等硬件组成。学生通过网络的虚拟样机进行自主学习,熟悉电量测试系统的工作原理和操作过程,在实际平台上进行自主训练、自主设计、自主提高等实验模块的训练。自主训练包括对电量参数的认知、调理电路的建立和虚拟仪器技术的基本训练,即在软件平台上进行数据采集卡的驱动和对测量值进行转换与显示;自主设计主要是对电量测试系统的软、硬件模块进行设计与检验;自主提高包括相关和FFT软件算法模块的设计、调理电路的改进以及测试系统静态性能的评价等。     

正确选择电源管理方案，提升系统性能并延长电池寿命

有了无线技术,用户就真正实现了"网络随行".然而无线设备无法长时间连接固定电源,因此如果仅靠电池供电的话,很快就能把电池电量消耗完.无论采用何种化学技术,电池都只能存储有限的电量,当电量耗尽时均需要替换或充电.加强对电源管理问题的重视可有助于延长电池的寿命.基站等一些不用依靠电池的无线系统必须在兼顾能源效率的前提下,才能实现高性能指标.     

AV问答

问:我很爱好数码摄影,常常准备好一套电池装入数码相机中以便随时可以进行拍摄,但有时可能较长时间也不使用数码相机。我曾经将一套镍氢电池充满电后装入数码相机中,两个月后拿出数码相机拍摄时往往只能拍摄四十多张照片即显示“电池电量不足”,正常情况下能够拍摄约300张照片才显示电量不足。不知是不是镍氢电池“自放电”造成的问题?若我要准备一套电量充足的备用电池,是不是必须经常进行充电?(江西钟晓勤)答:你谈到的情况是一般在使用数码相机时都可能遇到的。这种镍氢电池装入数码相机中即使不拍照也会消耗电量的原因,一方面有电池“自…     

通过对移动设备耗电量分析延长电池工作时间

电池工作时间仍然是移动设备设计中的关键性因素。随着移动设备向更小、更轻方向发展,使用大电池并非可行的选择。因此必须选择能更有效使用电池的设计。对耗用电池电量的分析能帮助优化电池在移动设备中的工作时间。对耗用电池电量的分析除了估计电池寿命外,还该分析需要测试和表征移动设备及其各组成电路,包括单独的和组合的测试表征。要在不同的移动设备工作模式和参数条件下表征耗用的电池电流,从而透彻了解移动设备工作状况对耗电量的影响。此外,我们还要分析各设计方案对耗电量的影响,确定能最大程度延长电池工作时间的设计方案。在移动无线设备设计阶段通过对耗用电池电量的分析     

AV问答

我很爱好数码摄影，常常准备好一套电池装入数码相机中以便随时可以进行拍摄．但有时可能较长时间也不使用数码相机。我曾经将一套镍氢电池充满电后装入数码相机中．两个月后拿出数码相机拍摄时往往只能拍摄四十多张照片即显示“电池电量不足”，正常情况下能够拍摄约300张照片才显示电量不足。不知是不是镍氢电池“自放电”造成的问题?若我要准备一套电量充足的备用电池，是不是必须经常进行充电?     

基于Android的智能优化手机电量管理系统

基于Linux系统内核的Android(安卓)操作系统将嵌入式Linux成功推向了消费类电子市场,成为三大移动智能终端操作系统之一。由于智能移动设备耗电快,电池续航能力一直是大家关注的焦点,除了更换更大容量的电池,电池优化软件也起着越来越重要的作用。文章针对装有Android系统的移动设备进行电池电量监控,以及软件的耗电量管理,设计出一个具有省电管理、充电管理、后台应用管理及关闭后台程序多功能于一体的手机电池电量智能优化系统。     

Software testing

There are several types of software testing that are widely used in the current IT world. This paper explain some of these types of tests and describes the author's experiences with them. When a tester knows what type of testing is needed, it greatly improves the test results and ultimately decreases the number of defects. Test methods covered include glass box testing, black box testing, system testing, database testing, and security testing, and test team selection is also discussed     

Asummability testing

Sarje and Biswas have developed an algorithm for generating pairs of minterms forming a given 2-sum. In the letter this procedure has been generalised for obtaining k-summable k-tuples. This simple process for generating k-summable k-tuples basically requires generation of 2-summable pairs. Having obtained these k-tuples, it is a trivial matter to test k-asummability of switching functions.     

软件测试技术与测试管理研究

软件质量的提升有利于促进国内软件业的迅速发展,而确保软件质量的一个关键环节是软件的测试,其是开发软件过程中的一项重要内容.强化软件测试,有利于软件质量的大大提高,从而促进国内软件企业与领域的稳定与健康发展.为此,本文阐述了软件测试的一些技术,以及软件测试管理的策略.     

天线测试距离对测量结果的影响

介绍了天线场的区域划分方法,从理论上导出了在辐射近场区的测量误差公式,分析了因人射场相位不均匀、入射场幅度不均匀、收发天线互耦等带来的测量误差,由此提出了选取最小测试距离的准则。     

电磁环境测试和覆盖测试的实际应用初探

0引言 电磁环境测试是电磁兼容分析的必要基础环节，通过现场测试得到的数据，比理论计算和计算机仿真更能反映实际情况。本文以长江沿线重庆-黄石段350MHz电磁环境和覆盖测试为例，就测试中的具体做法和遇到的一些问题与同行进行探讨，以便相互促进。     

BiCMOS logic testing

With the anticipated growth of BiCMOS technology for high-performance ASIC design, the issue of testing takes on great significance. This paper addresses the testing of BiCMOS logic circuits. Since many different implementations of BiCMOS gates have been proposed, four representative ones are studied. The adequacy of stuck-at, quiescent current, and delay testing are examined based on circuit level faults. It is demonstrated that a large portion of the defects cannot be detected by common stuck-at or quiescent current tests since they manifest themselves as delay faults. By using the results presented, the test methodologies and the logic families can be ranked based on fault coverage. This ranking can then be used to help decide which BiCMOS solution is proper for a given application     

Constrained parity testing

A generalized testing technique called constrained parity testing is presented for detecting multiple stuck-at faults in any single-output irredundant combinational network by verifying the subparities of the network. Implementation independent testability conditions are established for single- and multiple-input stuck-at faults. A spanning parity signature (SPS) is introduced to detect vacuous faults, which include all the input stuck-at faults and a majority of all other multiple stuck-at faults. The SPS is considered for testing all stuck-at faults in networks with small numbers of fanout lines, and a method of deriving tests for nonvacuous faults is proposed. For networks with large fanouts, a hybrid scheme by combining with syndrome testing is suggested to eliminate or reduce the need for expensive fault simulation. The proposed technique is a theoretical generalization of many existing methods and offers advantages such as versatility, flexibility, low test volume, low test time, high fault coverage, and reduced fault simulation and test generation costs.     

Built-in current testing

Built-in current (BIC) testing has proven to be useful through a number of IC fabrication experiments. In this paper the experience gained from these experiments is summarized     

浅析集成测试和系统测试的关系

软件测试过程划分为单元测试、集成测试、确认测试、系统测试、验收测试五个阶段,其中集成测试和系统测试是对整个系统或者子系统的功能等特征进行的测试,所采用的测试方法相对复杂,文本分析了它们之间的联系和区别.